【正文】 澤板，可得示值的變量，其值不超過 1光澤單位，方可使用；否則光澤度計(jì)及其所附的工作板須送檢。 ，在以后的讀數(shù)中要減去偏移數(shù)。 (4)試樣規(guī)格和測(cè)點(diǎn)見下表 拋光磚光澤度 ? 步驟 （ 1）儀器校正： ①儀器準(zhǔn)備：在每一個(gè)操作周期的開始和在操作過程中應(yīng)有足夠的頻次對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；以保證其正常工作。 ? 設(shè)備 （ 1）光澤計(jì)：由光源、透鏡、接收器和顯示儀表組成； （ 2）標(biāo)準(zhǔn)板：包括基準(zhǔn)板、工作板、零標(biāo)準(zhǔn)板； （ 3）鋼板尺：最小刻度為 。 (4)檢查試樣的釉裂情況，注意區(qū)分釉裂與劃痕及可忽略的裂紋。然后關(guān)閉汽源，對(duì)于直接加熱式蒸壓釜?jiǎng)t停止加熱，使壓力盡可能快地降低到試驗(yàn)室大氣壓，在蒸壓釜中冷卻試樣 ?？捎脕喖谆{(lán)溶液作釉裂檢驗(yàn)。 ? 試樣 (1)至少取 5塊整磚 進(jìn)行試驗(yàn)。 抗釉裂性的測(cè)定 ? 檢測(cè)依據(jù)及定義 （ 1）檢測(cè)依據(jù)： GB/《 陶瓷磚試驗(yàn)方法第 11部分：有釉磚抗抗釉裂性的測(cè)定 》 。 5℃ 的烘箱內(nèi)重新達(dá)到此溫度后保溫 20min，然后立即將它們移回低溫環(huán)境中。 5℃ 的 冷水中 ，并使它們互不接觸。 抗熱震性的測(cè)定 鋁粒 亞甲基藍(lán)溶液 數(shù)字照度計(jì) 抗熱震性的測(cè)定 ? 步驟 (1)試樣的初步檢查：首先用肉眼（平常戴眼鏡的可戴上眼鏡）在距磚 2530cm，光源照度約 300lx的光照條件下觀察磚面。 (2)工作溫度為 145℃ 到 150℃ 的烘箱。 抗熱震性的測(cè)定 ? 檢測(cè)依據(jù)及原理 (1)檢測(cè)依據(jù)： GB/《 陶瓷磚試驗(yàn)方法第 9部分：抗熱震性的測(cè)定 》 。 (4)100次循環(huán)后，在距離 25～ 30cm、大約 300lx的光照條件下，用肉眼檢查磚的釉面、正面和邊緣。 (3)重復(fù)上述循環(huán) 至少 100次 。每次測(cè)量溫度應(yīng)精確到177。在磚一邊的中心鉆一個(gè)直徑為 3mm的孔，該孔距磚邊最大距離為 40mm，在孔中插入一支熱電偶，并用一小片隔熱材料（例如多孔聚苯乙烯）密封孔。 將一塊浸濕過的麂皮用手?jǐn)Q干，并將麂皮放在平臺(tái)上輕輕地依次擦干每塊磚的表面，記錄每塊濕磚的質(zhì)量 m2。 （ 3）浸水飽和 1）磚冷卻至環(huán)境溫度后，將磚垂直地放在真空干燥箱內(nèi)，磚與磚、磚與干燥箱互不接觸。磚應(yīng)沒有裂紋、釉裂、針孔、磕碰等缺陷如果必須用有缺陷的磚進(jìn)行檢驗(yàn)，在試驗(yàn)前應(yīng)用永久性的染色劑對(duì)缺陷做記號(hào)，試驗(yàn)后檢查這些缺陷。 ? 設(shè)備和材料 （ 1）干燥箱：能在 110177。 記錄所有結(jié)果，以有效結(jié)果計(jì)算試樣的平均破壞強(qiáng)度和平均斷裂模數(shù)。 （ 2）只有在寬度與中心棒直徑相等的中間部分?jǐn)嗔言嚇?，其結(jié)果才能用來(lái)計(jì)算平均破壞強(qiáng)度和平均斷裂模數(shù)，計(jì)算平均值至少需 5個(gè)有效的結(jié)果。s ） 177。 （ 2）將試樣置于支撐棒上，使 釉面或正面 朝上，試樣伸出每根支撐棒外的長(zhǎng)度為L(zhǎng) 。 ? 步驟 （ 1）用硬刷刷去試樣背面松散的粘結(jié)顆粒，將試樣放入 110℃ 177。 （ 3）金屬制的兩根圓柱形支撐棒，與試樣接觸部分用硬度為 50IRHD177。 ? 原理：以適當(dāng)?shù)乃俾?，向磚的表面正中心部位施加壓力，測(cè)定其破壞荷載、破壞強(qiáng)度和斷裂模數(shù)。 斷裂模數(shù)和破壞強(qiáng)度的測(cè)定 ? 檢測(cè)依據(jù)及定義 （ 1）檢測(cè)依據(jù)： GB/《 陶瓷磚試驗(yàn)方法第 4部分?jǐn)嗔涯?shù)和破壞強(qiáng)度的測(cè)定 》 。稱量時(shí)，將樣品掛在天平一臂的吊環(huán)、繩索或籃子上。抽真空至 10 kPa士 1 kPa，并保持 30 min后停止抽真空，讓磚浸泡 15 min后取出。也可用常溫下的水或制冷器將樣品冷卻至室溫。在整個(gè)試驗(yàn)中都應(yīng)保持高于磚 5 cm的水面。磚放在有硅膠或其他干燥劑的干燥箱內(nèi)冷卻至室溫，不能使用酸性干燥劑。多邊形和其他非矩形磚，其長(zhǎng)和寬均按外接矩形計(jì)算。 ? 試樣 （ 1）每種類型的磚用 10塊 整磚。 （ 9）玻璃燒杯或者大小和形狀于其類似的容器。 （ 5）去離子水或蒸餾水。能取得相同檢測(cè)結(jié)果的微波、紅外線或其他干燥系統(tǒng)都可以適用。 （ 3）使用范圍：煮沸法適用于陶瓷磚分類和產(chǎn)品說明，真空法適用于除分類以外的顯氣孔率、表觀相對(duì)密度和吸水率的測(cè)定。 100mm和邊長(zhǎng)大于 600mm的產(chǎn)品的測(cè)量可參考 GB/T —2023中 ～ 。在垂直距離為 1m處用肉眼觀察被檢磚組表面的可見缺陷 (平時(shí)戴眼鏡者可戴上眼鏡 )。記錄每塊磚最大的中心彎曲度（ DD)，邊彎曲度（ DE)和翹曲度（ DC)，測(cè)量值精確到 。 取出標(biāo)準(zhǔn)板，將磚的釉面或合適的正面朝下置于儀器上，記錄 3個(gè)分度表的讀數(shù)。以百分比表示。測(cè)量值精確到 。 取出標(biāo)準(zhǔn)板，將磚的正面恰當(dāng)?shù)姆旁趦x器的定位銷上，記錄離角點(diǎn) 5mm處分度表讀數(shù)。 （ 2）直角度測(cè)量 1） 將磚的一個(gè)角緊靠著放在用標(biāo)準(zhǔn)版校正過的直角上 (見圖 122)，該角與標(biāo)準(zhǔn)直角的偏差。如果是正方形磚，轉(zhuǎn)動(dòng)磚的位置得到 4次測(cè)量值。 （ 3）邊直度測(cè)量 1） 在磚的平面內(nèi)，邊的中央偏離直線的偏差稱為邊直度。 （ 2）厚度測(cè)量 1)對(duì)表面平整的磚，在磚面上畫兩條對(duì)角線，測(cè)量四條線段上最厚的點(diǎn)，每塊試樣測(cè)量 4點(diǎn)，測(cè)量值精確到 。 （ 1）長(zhǎng)度與寬度測(cè)量 1)在 離磚角 5mm處量測(cè)磚的每條邊，測(cè)量值精確到 。 ? 拋光磚光澤度： ≥ 55(適用于有鏡面效果的磚，不包括半拋光磚和局部拋光的磚）。 陶瓷磚性能指標(biāo) 不同產(chǎn)品陶瓷磚產(chǎn)品性能要求 以上要求來(lái)自于標(biāo)準(zhǔn) GB/T 41002023 陶瓷磚 陶瓷磚試驗(yàn)方法 檢測(cè)依據(jù)： ? 《陶瓷磚》 GB/T 4100— 2023； ? 《陶瓷磚試驗(yàn)方法 》 GB/T ～ 16 ? 《建筑飾面材料鏡向光澤度測(cè)定方法》 GB/T 13891— 2023 ? 《 外墻飾面磚工程施工及驗(yàn)收規(guī)范 》 JGJ1262023 ? 《住宅裝飾裝修工程施工規(guī)范》 GB 50327— 2023 ? 《 建筑裝飾裝修工程質(zhì)量驗(yàn)收規(guī)范 》 GB502102023 ? 《 建筑工程飾面磚粘結(jié)強(qiáng)度檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 》 JGJ1102023 陶瓷磚試驗(yàn)方法 ? 常規(guī)試驗(yàn) ： 尺寸、表面質(zhì)量、吸水率、破壞強(qiáng)度、斷裂模數(shù) 、無(wú)釉磚耐磨深度、有釉磚表面耐磨性、線性熱膨脹、抗熱震性、有釉磚抗釉裂性、 抗凍性 、磨擦系數(shù)、濕膨脹、小色差、抗沖擊性、 拋光磚光澤度 、耐污染性、耐化學(xué)腐蝕性、有釉磚鉛和鎘的溶出量等。 ? 干壓陶瓷磚按吸水率的不同 ,可分為瓷質(zhì)磚（ E≤% ）、炻瓷磚（ %＜ E≤3% ）、細(xì)炻磚（ 3%＜ E≤6% ）、炻質(zhì)磚（ 6%＜ E≤10% ）和陶質(zhì)磚（ E＞ 10%）五類。 ? 了解飾面磚檢測(cè)要求，熟悉檢測(cè)依據(jù)，掌握檢測(cè)方法與評(píng)價(jià)。 ? 了解飾面石材分類，熟悉檢測(cè)依據(jù)，掌握常規(guī)試驗(yàn)內(nèi)容與檢測(cè)方法。 ? 按吸水率分為低吸水率磚（ I類， E≤3% ）、中吸水率磚（ Ⅱ 類， 3%＜E≤10% ）、高吸水率磚（ Ⅲ 類， E＞ 10%）。 ? 使用部位分為墻磚和地磚。 ? 有釉磚抗釉裂性：經(jīng)試驗(yàn)應(yīng)無(wú)釉裂。 ? （ 8）測(cè)量邊直度、直角度和平整度的儀器見 圖 瓷磚綜合測(cè)度 儀器 、測(cè)厚儀 S B S A S C I A I B I C 磚 D A D B D C D D D E D F ? （ 1）長(zhǎng)度、寬度和厚度測(cè)量 每種類型取 10塊 整磚進(jìn)行尺寸測(cè)量； （ 2）邊直度、直角度、平整度（彎曲度和翹曲度）的測(cè)量 每種類型取 10塊 整磚進(jìn)行尺寸測(cè)量； （ 3）表面質(zhì)量的測(cè)量 對(duì)于 邊長(zhǎng)小于 600mm的磚，每種類型 至少取 30塊 整磚進(jìn)行檢驗(yàn)，且面積不小于 1m2；對(duì)于邊長(zhǎng) 不小于 600mm的磚 ，每種類型至少取10塊 整磚進(jìn)行檢驗(yàn)，且面積不小于 1m2。長(zhǎng)方形磚尺寸以對(duì)邊兩次測(cè)量值的平均值作為相應(yīng)的平均尺寸，試樣長(zhǎng)度和寬度的平均尺寸分別是 20次測(cè)量值的平均值。試樣的平均厚度是 40次測(cè)量值的平均值。取出標(biāo)準(zhǔn)板，將磚的正面恰當(dāng)?shù)姆旁趦x器的定位銷上，記錄邊中央處的分度表讀數(shù)。測(cè)量值精確到 。 將合適的標(biāo)準(zhǔn)板準(zhǔn)確地置于儀器的測(cè)量位置上，調(diào)整分度表的讀數(shù)至合適的初始值。如果是長(zhǎng)方形磚，分別使用合適尺寸的儀器來(lái)測(cè)量其長(zhǎng)邊和寬邊的邊直度。 邊彎曲度：磚一條邊的中點(diǎn)偏離由 4個(gè)角點(diǎn)中的三點(diǎn)所確定的平面的距離（如圖 122所示）。 使定位銷 (IA、 IB、 IC)離被測(cè)邊每一角點(diǎn)的距離為5mm(見圖 121)。如果是長(zhǎng)方形磚，分別使用合適尺寸的儀器來(lái)測(cè)量。 )的燈光均勻照射，檢查被檢表面的中心部分和每個(gè)角上的照度。 中心彎曲度以對(duì)角線長(zhǎng)的百分比表示；邊彎曲度長(zhǎng)方形磚以長(zhǎng)度和寬度的百分比表示，正方形磚以邊長(zhǎng)的百分比表示；翹曲度以對(duì)角線長(zhǎng)的百分比表示；有間隔凸緣的磚檢驗(yàn)時(shí)用 mm表示；表面質(zhì)量以表面無(wú)缺陷磚的百分比表示。煮沸法水分進(jìn)入容易浸入的開口氣孔；真空法水分注滿開口氣孔。 5℃ 下工作的干燥箱。