【正文】 ne input1 P1 //用于檢測(cè)的引腳 define input2 P2 define uchar unsigned char define uint unsigned int sbit key1=P3^0。 羅 老師的這種無私的敬業(yè)精神和責(zé)任感，令人敬佩， 在此向尊敬的羅老師表示衷心的感謝。從 選題到開題報(bào)告， 程序的編寫 設(shè)計(jì) 以及論文的完成 ， 羅 老師傾注了大量的心血 。 在以后的日子的我會(huì)逐漸加強(qiáng)這方面的能力，不斷去提高自己。 由于時(shí)間和能力有限， 我 此次設(shè)計(jì) 只實(shí)現(xiàn)了系統(tǒng)的基本功能，測(cè)試芯片種類比較單一，在有些地方還有待 于 改進(jìn)。 在 硬件電路 中較有難度的 單數(shù) 數(shù)碼管顯示 單元 和 測(cè)試插座的控制上 ， 雖然之前做實(shí)驗(yàn)時(shí)有 涉及到 關(guān)于數(shù)碼管顯示的一些 方案 ，但在 這 次所設(shè)計(jì)的電路中，由于顧及單片機(jī) I/O口的使用情況， 最終 選取 鎖存器 74HC573芯片 來 驅(qū)動(dòng)控制。 20 圖 11 按下復(fù)位鍵后的測(cè)試結(jié)果 （ 3） 按下檢測(cè)型號(hào)鍵 key1 后，測(cè)試結(jié)果如下圖 12所示 。amp。0x3f。output2==IC[i][3]) { input1=IC[i][4]。0x3f 取出 output2=input2amp。 delayms(500)。 for(i=0。amp。0x3f。 input1=0x3f。 //初始化測(cè)試端口 P2=0xff。 } } 信號(hào)檢測(cè)程序 在信號(hào)檢測(cè)部分， 我們 只 對(duì)指定的 74 系列門電路芯片進(jìn)行功能測(cè)試（完好 /損壞），如 74LS00、 74LS0 74LS 74LS86。 P0 = 0xc0。 P0 = 0xff。 delayms(500)。 dula3 = 1。 P0 = table[bai]。//送段選數(shù)據(jù) dula1 = 0。//百位 shi = namex%100/10。 在這里我們把數(shù)碼管的顯示部分寫成了一個(gè)帶參數(shù)的函數(shù)，以便以后調(diào)用，另外我們把這個(gè)要顯示的參數(shù)分離成 4個(gè)一位數(shù)。 display(name[k])。 } if(output1==LS86[i][2]amp。0x3f。 delayms(500)。 15 } } if(k==4) { for(i=0。output2==LS20[i][3]) { time++。//點(diǎn)亮紅 led time=0。0x3f。i++) { input1=LS20[i][0]。 14 } } if(time==2) { ledG = 0。 break。 output2=input2amp。 input2=LS04[i][1]。 time=0。amp。 if(output1!=LS00[i][2]||output2!=LS00[i][3]) { ledR= 0。 output1=input1amp。i4。 if(key3==0) { while(key3==0)。//等待按鍵釋放 ledR = 1。//等待按鍵釋放 k=detect()。另外我們采用軟件消抖法， 具體代碼如下所示： void keyscan(void) //鍵盤掃描函數(shù) { int i。//初始化 while(1)//不停掃 描 按鍵 { keyscan()。 程序流程圖 流程圖如圖 9所示 。 此次在測(cè)試過程中我選用 7400 來進(jìn)行系統(tǒng)的 調(diào)試 。實(shí)現(xiàn)了通過單片機(jī)輸出端口 9 模擬芯片的各種輸入狀態(tài)，并通過單片機(jī)讀回芯片的輸出結(jié)果，通過與芯片真值表的比較即可判斷芯片邏輯功能的好壞的目的。 此外，為滿足用戶在提高工作速度和降低功耗這兩 方面 的要求，繼 TTL7 54系列之后，又 相繼 研制和生產(chǎn)了 74H系列、 74S系列、 74LS系列、 74AS系列和 74ALS系列，以及 54H系列 、 54S系到、 54LS系列、 54AS系列和 54ALS系列，就像 74系列和 54系列的區(qū)別那樣，它們之間的 區(qū)別 也僅 在于 工作環(huán)境 溫度 與電源電壓工作范圍不 同 。 8 3 系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì) 軟件設(shè)計(jì)包括主程序模塊 ,按鍵控制模塊，芯片信號(hào)檢測(cè)模塊和數(shù)碼管 顯示模塊等， 下面 將逐一介紹 各個(gè)模塊的詳細(xì)設(shè)計(jì)過程。 6 圖 6 74HC573 驅(qū)動(dòng) 8 位數(shù)碼 （ 2） 發(fā)光二極管顯示模塊 為了使測(cè)試結(jié)果直觀明了，分別在單片機(jī)的 兩個(gè) I/O 口 和 分別串接兩 分別顯示芯片好壞兩種狀態(tài)， 發(fā)光二極管與單片機(jī)連接圖個(gè)紅、綠色發(fā)光二極管 連接圖如圖 7所示 。 有效的節(jié)省了 單片機(jī)的 I/O 口 的使用 ，極大地簡(jiǎn)化了硬件電路。 串接電阻目是對(duì) AT89C52起限流保護(hù)作用，假設(shè)， ，此時(shí)，測(cè)試芯片又為非門，那么 將引起灌電流現(xiàn)象，致使 ，對(duì) AT89C52有害。 根據(jù)AT89C52 中 P0 口與 P2 口 的 特點(diǎn)，本設(shè)計(jì)采用 AT89C52 的 P1 口和 P2 口 連接 測(cè)試芯片接口， 單片機(jī)的 P0口的 — ， P2 口中的 — 共 14條通用 I/O 線和檢測(cè)插座構(gòu)成了檢測(cè)電路， 其中， P2 口中 用于控制 14 管腳電源地轉(zhuǎn)換， 因?yàn)橐?guī)則芯片的右上腳都為電源 (Vcc)，左下腳都為地 (GND)。通常有兩種方法可以消除抖動(dòng)，一種是硬件方法，需要硬件電路，另一種是軟件方法，用軟件方法可以很容易地解決抖動(dòng)問題，只需通過延遲 10ms 來等待抖動(dòng)消失 這之后，在讀入按編碼值 。 當(dāng)用 手按下一個(gè)鍵時(shí)，按鍵并不會(huì)立刻穩(wěn)定地接通，在釋放一個(gè)鍵時(shí)，也不會(huì)立刻斷開。 獨(dú)立按 鍵模塊 采用獨(dú)立按鍵的優(yōu)點(diǎn)是控制程序 和 硬件電路都很簡(jiǎn)單，缺點(diǎn)是如果每個(gè)按鍵都要占用一個(gè) I/O口，當(dāng)按鍵較多時(shí)占用 I/O口較多 。 52系列單片機(jī)應(yīng)用廣泛，成本低，控制應(yīng)用等電路成熟。 在設(shè)計(jì)過程中， 首先使用 Protel和 Proteus仿真軟件作為開發(fā)平臺(tái)來進(jìn)行硬件電路的設(shè)計(jì)，并運(yùn)用軟件 Keil uVision編寫程序完成系統(tǒng)的仿真實(shí)現(xiàn)， 結(jié)合軟、硬件完成系統(tǒng)的整體調(diào)試。 此外，由于集成芯片的型號(hào)不同，為了提高測(cè)試的效率 ，還需設(shè)計(jì)一個(gè)獨(dú)立按鍵 模塊用于 輸入檢測(cè) 芯片的型號(hào)， 方便操作。芯片有 74LS00、 74LS0 74LS 74LS7 74LS86。 設(shè)計(jì)門電路自動(dòng)測(cè)試儀目的在于能夠方便檢測(cè)數(shù)字集成芯片的好壞。該系統(tǒng) 能完成 14腳以內(nèi)常用 TTL7 54系列數(shù)字集成芯片的功 能測(cè)試。 1 摘 要 集成電路（ IC）測(cè)試是伴隨著 電子技術(shù) 的發(fā)展而 來 的，數(shù)字 集成 芯片在使用過程中容易被損壞， 用 肉眼不易觀察 。 根據(jù)數(shù)字 集成芯片的引腳特性 以及集成芯片的真值表 編寫 測(cè)試程序 。 microprocessor control unit 3 目錄 1 系統(tǒng)總體方案 ………………………………………………………………………… ..1 2 系統(tǒng) 硬件電路設(shè)計(jì) ……………………… ………………………………… … ..............2 硬件系統(tǒng)電路原理框圖 ………………………………………………………… ...2 硬件系統(tǒng)電路各模塊設(shè)計(jì) ………………………………………………………… 2 MCS52 單片機(jī)最小系統(tǒng) ………………………………… … …… ………… 2 獨(dú)立按 鍵模塊 ……………… …………………………………… … ..............3 芯片測(cè)試模塊 ……………………… …………………… ……………… ......4 顯示模塊 …………………… ……… ………………………… ......................5 電源供電模塊 …………………… …… ……………………………… ..........7 3 系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì) ………… ………………………………………………………… ..........8 測(cè)試對(duì)象 TTL74 系列芯片 簡(jiǎn)介 ……………………………………………… … … 8 測(cè)試原理 …………………………… ………………………………………… .........8 程序流程圖 …………………………………………………………………… .........9 模塊程序關(guān)鍵代碼 …………………………………………………………… .......11 主程序 ……………………………………………………………… ……… 11 獨(dú)立按鍵掃描程序 ……………………………………………………… … 11 74HC573 控制數(shù)碼管顯示程序 ………………………………………… … .15 信號(hào)檢測(cè)程序 …………… …………… …………………… ……………… 17 4 系統(tǒng) 仿真 測(cè)試 ………………… ………………………………… ……………… ........19 總結(jié) ……………………………………………………………………………………… ..21 致謝 ……………………………………………………………………………………… ..22 參考文獻(xiàn) ………………………………………………………………………………… ..23 附錄 ……………………………………………………………………………………… ..24 附錄 A 源程序 ……………………………………………………… …………………… 24 附錄 B 元件清單 ………………………………………………………………………… 35 附錄 C 整體電路圖 ……………………………………………………………………… 36 1 1 系統(tǒng)總體方案 在數(shù)字集成電路的設(shè)計(jì)、制造和應(yīng)用階段，不可避免地會(huì)出現(xiàn)故障，為了 保證數(shù)字集成電路工作 的 可靠 性 ， 需要 對(duì) 其 進(jìn) 行必要 的測(cè)試 。 正由于上述原因，本方案 設(shè)計(jì)一套數(shù)字集成電路測(cè)試裝置，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)指定幾種14腳常見的 74系列數(shù)字電路測(cè)試。 要讓測(cè)試結(jié)果直觀明了，就需設(shè)計(jì)一個(gè)顯示模塊顯示 對(duì) 應(yīng) 測(cè)試 結(jié)果 ，在此系統(tǒng)中我選用 8位數(shù)碼管來顯示 芯片型號(hào) 和兩個(gè)發(fā)光二極管顯示測(cè)試結(jié)果 。 軟件 部分 主要由數(shù)據(jù)檢測(cè)程序和顯示驅(qū)動(dòng)程序，以及按鍵子 程序三大部分組成。 硬件系統(tǒng)電路各模塊設(shè)計(jì) MCS52 單片機(jī) 最小系統(tǒng) MCS52單片機(jī)內(nèi)部主要由 CPU，存儲(chǔ)器，可編程 I/O 口，定時(shí)器 /計(jì)數(shù)器，串行口，中斷控制系統(tǒng)，時(shí)鐘電路等組成。 3 圖 2 AT89C52 單片機(jī)最小系統(tǒng) 單片機(jī)在電路中起到控制 整個(gè)系統(tǒng) 的作用， 無論是信號(hào)檢測(cè)，還是數(shù)碼管顯示，都通過編程完成控制。 值得注意的 是， 在用單片機(jī)對(duì)按鍵處理的時(shí)候涉及到了一個(gè)重要的過程，那就是按鍵 的去抖動(dòng)。這種抖動(dòng)對(duì)于單片機(jī)來說是完全可以感覺到的，所以必須消除抖動(dòng)。 圖 3 獨(dú)立按鍵 與單片機(jī) 連接圖 芯片測(cè)試 模塊 結(jié)