電子產(chǎn)品的可靠性試驗-全文預覽
【正文】 壓器的漏磁、電路的自激振蕩、電路的非線性失真或高速開關電路所產(chǎn)生的高次諧波的輻射等。因此，能否適應這種公共的電磁環(huán)境，使其仍然能正常工作，就成為可靠性設討必須考慮的問題。熱敏元件對溫度變化非常敏感，如晶體管、鐵氧體磁性元件、石英晶體、槽路電容等，在熱的影響下，或是電參數(shù)急劇變化使設備出現(xiàn)性能失效，或是元件失效率升高使設備故障增多。對功率較大的設備還應采用強迫風冷措施，以加強對流效果。應充分利用設備的各個部分（如結(jié)構(gòu)件，印制板和引線等）作為傳導通路，對發(fā)熱量較高的大中功率管，可裝在散熱器上，讓發(fā)熱體的熱量先傳導至散熱器，再通過對流、輻射把熱量從散熱器傳至周圍環(huán)境。熱設計的基本準則可歸納為以下四點：①降低熱源 電子產(chǎn)品所消耗的功率絕大部分被轉(zhuǎn)化為熱能，故為了降低設備的溫升就應在保證設備完成規(guī)定功能的前提下，盡量降低設備的功耗。例如，當環(huán)境溫度升高時，就會使晶體管內(nèi)部材料的物理和化學反應的速率加快，從而使晶體管的性能參數(shù)（電流放大系數(shù)hfe、反向飽和電流Is 和噪聲系數(shù)Nf 等）隨溫的升高而產(chǎn)生漂移；額定功率降低，熱擊穿概率上升。降額能提高元器件和設備的可靠性。 ②必須根據(jù)不同電路的工作參數(shù)和整機的使用環(huán)境條件，選用能滿足這些要求的相應元器件，以充分發(fā)揮元器件應有的功能提高元器件的使用可靠性。下面就逐一介紹這三部分內(nèi)容。 ④在設計階段采取提高可靠性的措施，比起以后各階段采取措施耗資最少，收效也最顯著。這就必須加強可靠性設計，正確選用元器件并采用降額、降溫、冗余等設計技術(shù)，降低元器件的使用失效率，保證產(chǎn)品的可靠性。所以，我們必須扭轉(zhuǎn)只搞性能指標設計，忽視可靠性設的傾向，在產(chǎn)品研制、設計階段，認真開展可靠性設計，為產(chǎn)品固有可靠性奠定基礎。但首先要抓好可靠性設計。 鑒定試驗是對產(chǎn)品的可靠性水平進行評價時而做的試驗。 上述各種試驗都是通過模擬現(xiàn)場條件來進行的。 可靠性篩選試驗的特點是： A. 這種試驗不是抽樣的，而是100%試驗； B. 該試驗可以提高合格品的總的可靠性水平，但不能提高產(chǎn)品的固有可靠性，即不能提高每個產(chǎn)品的壽命； C. 不能簡單地以篩選淘汰率的高低來評價篩選效果。通過壽命試驗可以對產(chǎn)品的可靠性水平進行評價，并通過質(zhì)量反饋來提高新產(chǎn)品可靠性水平。壽命試驗是可靠性試驗中最重要最基本的項目之一，它是將產(chǎn)品放在特定的試驗條件下考察其失效（損壞）隨時間變化規(guī)律。 對于不同的產(chǎn)品，為了達到不同的目的，可以選擇不同的可靠性試驗方法。試驗目的通常有如下幾方面： 1. 在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷，評價產(chǎn)品可靠性達到預定指標的情況； 2. 生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息； 3. 對定型產(chǎn)品進行可靠性鑒定或驗收； 4. 暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應力條件下的失效規(guī)律及有關的失效模式和失效機理； 5. 為改進產(chǎn)品可靠性，制定和改進可靠性試驗方案，為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。 2. 壽命試驗是研究產(chǎn)品壽命特征的方法，這種方法可在實驗室模擬各種使用條件來進行。如果為了縮短試驗時間可在不改變失效機理的條件下用加大應力的方法進行試驗，這就是加速壽命試驗。產(chǎn)品在制造過程中，由于材料的缺陷，或由于工藝失控，使部分產(chǎn)品出現(xiàn)所謂早期缺陷或故障，這些缺陷或故障若能及早剔除，就可以保證在實際使用時產(chǎn)品的可靠性水平。通常以篩選淘汰率Q和篩選效果β值來評價篩選方法的優(yōu)劣：合理的篩選方法應該是β 值較大，而Q值適中。對制定可靠性試驗計劃、驗證可靠性試驗方法和評價試驗精確性，現(xiàn)場
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