光電測(cè)量系統(tǒng)設(shè)計(jì)說明-全文預(yù)覽
【正文】 2 年 11 月 7 日. . . .. . 學(xué)習(xí)好幫手摘 要本次實(shí)驗(yàn)為光電測(cè)量系統(tǒng)設(shè)計(jì)，從而測(cè)量壓電陶瓷由于加熱而產(chǎn)生的微小形變量，故需要掌握干涉和衍射的基本原理和產(chǎn)生條件，結(jié)合相關(guān)儀器軟件完成對(duì)光電探測(cè)器的設(shè)計(jì)。關(guān)鍵詞：光電測(cè)量系統(tǒng)；干涉；衍射；探測(cè)器；光纖實(shí)驗(yàn). . . .. . 學(xué)習(xí)好幫手目 錄論文總頁數(shù)：11 頁1. 簡(jiǎn)介 .......................................................................1. 實(shí)驗(yàn)?zāi)康募皟?nèi)容 .........................................................12. 干涉及衍射原理 .............................................................1. 干涉 ...................................................................1. 干涉原理 ...........................................................1. 干涉條件 ...........................................................2. 實(shí)現(xiàn)光束干涉的基本方法 .............................................2. 衍射 ...................................................................2. 衍射原理 ...........................................................2. 衍射分類 ...........................................................23. 干涉儀 .....................................................................24. 整體結(jié)構(gòu) ...................................................................35. 上機(jī) .......................................................................4. ZMAX 仿真設(shè)計(jì) ..........................................................4. 單透鏡 .............................................................4. 雙透鏡 .......................
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