【摘要】材料現(xiàn)代測試分析技術(shù)第一章材料現(xiàn)代測試分析技術(shù)概述第一節(jié)一般原理材料現(xiàn)代測試分析技術(shù)是關(guān)于材料成分、結(jié)構(gòu)、微觀形貌與缺陷等的現(xiàn)代分析、測試技術(shù)及其有關(guān)理論基礎(chǔ)的科學(xué)。?不僅包括材料(整體的)成分、結(jié)構(gòu)分析,也包括材料表面與界面分析、微區(qū)分析、形貌分析等諸多內(nèi)容。
2025-04-29 12:11
【摘要】張文欣移勱應(yīng)用測試與測試數(shù)據(jù)分析移勱應(yīng)用性能測試的維度常見維度的采集方法測試數(shù)據(jù)分析移勱應(yīng)用性能測試示例啟勱時(shí)間如何獲取這些性能數(shù)據(jù)并對其進(jìn)行分析?常見性能測試的維度內(nèi)存CPU流量測試人員可能會設(shè)想自己是以上用戶測試啟勱
2025-05-03 08:37
【摘要】第七章流體包裹體分析測試(FLUIDINCLUSIONS)參考書目★何知禮,1982,包體礦物學(xué),地質(zhì)出版社★Roedder,1984,FluidInclusions,MineralogySociety(有中譯本)★Shepherd,Rankin,&Alderton,etal.,19
2025-04-30 04:13
【摘要】X射線衍射“衍射”:散射波的干涉材料現(xiàn)代測試技術(shù)重點(diǎn):?X射線本質(zhì)、條件,X射線光譜?特征x射線?x射線與物質(zhì)相互作用?X射線衍射方向:勞埃方程式和布拉格方程式。?衍射矢量方程和愛瓦爾德圖解?X射線衍射束的強(qiáng)度:結(jié)構(gòu)因子Fhkl?X射線衍射方法:X射線衍射儀
2025-10-07 21:16
【摘要】?有一電阻應(yīng)變片,其靈敏度sg=2,Ω=120R,?設(shè)工作時(shí)其應(yīng)變?yōu)?000με,問RΔ=?設(shè)將此應(yīng)變片接成如圖所示的電路,試求1)無應(yīng)變時(shí)電流表示值;2)有應(yīng)變時(shí)電流表示?值;3)電流表指示值相對變化量;4)試分析這個變量能否從表中讀出??解:因?yàn)殡娮钁?yīng)變片靈敏系數(shù)6112100010120
2025-08-14 11:10
【摘要】X射線衍射晶體學(xué)晶體和非晶體晶體是質(zhì)點(diǎn)(原子、離子或分子)在空間按一定規(guī)律周期性重復(fù)排列構(gòu)成的固體物質(zhì)。非晶體是指組成物質(zhì)的分子(或原子、離子)不呈空間有規(guī)則周期性排列的固體。它沒有一定規(guī)則的外形,如玻璃、松香、石蠟等。它的物理性質(zhì)在各個方向上是相同的,叫“各向同性”。它沒有固定的熔點(diǎn)。所以有人把非晶體叫做“過冷液體”或“流動性
2025-08-05 09:22
【摘要】手機(jī)測試及相關(guān)技術(shù)針對RS232進(jìn)行手機(jī)測試和相關(guān)下載的技術(shù)討論!RS232串口通信的參數(shù)。?波特率(band)?數(shù)據(jù)位(databit)?停止位(stopbit)?校驗(yàn)位(parity)?流控制(flowcontrol)傳輸位中包括的內(nèi)容?起始位(以邏輯0代表高電位)?數(shù)
2025-08-01 15:46
【摘要】機(jī)械振動的測試第一節(jié)振動的概念從狹義上說,通常把具有時(shí)間周期性的運(yùn)動稱為振動。從廣義上說,任何一個物理量在某一數(shù)值附近作周期性的變化,都稱為振動。力學(xué)量(如位移)機(jī)械振動電磁振動電磁量(如I、V、E、B)機(jī)械振動機(jī)械振動是物體在一定位置附近所作的周期性往復(fù)的運(yùn)動。機(jī)械振動系統(tǒng),就是指圍繞其靜平衡位置作來回往復(fù)運(yùn)動的
2025-04-30 22:11
【摘要】酶免疫測試(EIA)技術(shù)翁錫全廣州體育學(xué)院酶免疫分析技術(shù)(enzymeimmunoassay,EIA)是繼熒光免疫技術(shù)和放射免疫技術(shù)之后建立的一種非放射性免疫技術(shù),是將抗原抗體反應(yīng)的高度特異性和酶的高效催化作用相結(jié)合,發(fā)展建立的一種非放射性標(biāo)記的免疫性標(biāo)記分析方法。酶免疫分析系統(tǒng)則屬于開放式的,符合標(biāo)準(zhǔn)的各種品牌的
2025-01-06 09:41
【摘要】光電測試技術(shù)成都信息工程學(xué)院第六章激光衍射測試技術(shù)2引言?光波在傳播過程中遇到障礙物時(shí),會偏離原來的傳播方向,繞過障礙物的邊緣而進(jìn)入幾何陰影區(qū),并在障礙物后的觀察屏上呈現(xiàn)光強(qiáng)的不均勻分布,這種現(xiàn)象稱為光的衍射。使光波發(fā)生衍射的障礙物或者其它能使入射光波的振幅或位相分布發(fā)生某種變化的光屏稱為衍射屏。
2025-07-26 18:25
【摘要】微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)的測試匡登峰2022年11月主要內(nèi)容?測試在MEMS中的地位和作用?MEMS所用材料的特性測定?微摩擦和磨損的檢測?應(yīng)變與應(yīng)力測量?微機(jī)械運(yùn)動速度檢測?MEMS的測試方法的特點(diǎn)測試在MEMS中的地位和作用?現(xiàn)在MEMS著重于進(jìn)行商品化,提高產(chǎn)品的可靠性,降低成本和售價(jià)
2025-05-05 18:17
【摘要】本設(shè)備適用范圍?:無機(jī)物包括金屬、半導(dǎo)體、磁性材料、陶瓷、玻璃、粉劑的觀察,有機(jī)物方面包括薄膜、高分子、纖維的觀察,還有一些特殊界面如摩擦表面、腐蝕面的觀察。?:材料表面光潔度測定、磁場、摩擦力等特性的測試。AFM的優(yōu)點(diǎn):?分辨率更高。?樣品處理很方便,無須噴金使其導(dǎo)電。?實(shí)驗(yàn)條件要求不高,常溫常壓
2025-05-05 18:53
【摘要】光電測試技術(shù)第四章光電測試常用器件通常把光電效應(yīng)分為三類:1)在光線的作用下能使電子逸出物體表面的現(xiàn)象稱為外光電效應(yīng),基于外光電效應(yīng)的光電元件有光電管、光電倍增管、光電攝像管等。2)在光線的作用下能使物體的電阻率改變的現(xiàn)象稱為內(nèi)光電效應(yīng),基于內(nèi)光電效應(yīng)的光電元件有光敏電阻等。3)在光線的作用下,物體產(chǎn)生
2025-05-06 04:16
【摘要】電子測量原理第1頁第11章數(shù)字系統(tǒng)測試技術(shù)數(shù)字系統(tǒng)測試的基本原理邏輯分析儀可測性設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)域測試的應(yīng)用電子測量原理第2頁數(shù)字系統(tǒng)測試和數(shù)據(jù)域分析的基本概念?1數(shù)字系統(tǒng)測試和數(shù)據(jù)域測試的特點(diǎn)2幾個術(shù)語
2025-05-04 00:45
【摘要】現(xiàn)代分析測試技術(shù)主講:何品剛現(xiàn)代分析測試技術(shù)第一章現(xiàn)代分析測試技術(shù)概述現(xiàn)代分析測試技術(shù)概述分析測試技術(shù)獲取物質(zhì)的組成、含量、結(jié)構(gòu)、形態(tài)、形貌以及變化過程的技術(shù)和方法。分析測試技術(shù)和分析化學(xué)密不可分,隨第一臺天平儀器的問世,測試技術(shù)經(jīng)過幾百年的發(fā)展,目前已成為各行各業(yè)必不可少的技術(shù)。
2025-01-17 18:06