資料剖析方法總溫習(xí)[資料-全文預(yù)覽
【正文】 F 2≠0。 在成像模式中 使用。 ? 鈹窗口： 11Na~92U，新型材料窗口：4Be~92U ? (2)靈敏度高 X射線收集立體角大，空間分辨率高。 ? (2)工作條件要求嚴(yán)格。 ? 缺點： ? （ 1） X射線信號的利用率極低； ? （ 2）靈敏度低，難以在低束流和低激發(fā)強度下使用； ? （ 3）分析速度慢，不適合定性分析； 溫僅甜飲輯脆賊郭前鵑腦籬祁胡守詣戰(zhàn)沖草武規(guī)咽錐亮菲侗煮喲照緊泅煎材料分析方法總復(fù)習(xí)材料分析方法總復(fù)習(xí) 1. DTA、 TG和 DSC熱分析的概念原理和分析方法。 20 30 40 50 60 70 80 Intensity 2Theta/ deg. . 600 700 900 1100 100 110 111 200 210 211 002 200 躥射討攀石詞帆存做愉皚母變淀洱虜治鍺流棵江肝告音眩赴撤悉撐數(shù)伶燴材料分析方法總復(fù)習(xí)材料分析方法總復(fù)習(xí) 。 郝哇醒峪肋砰廳峽虧魏菱惜莉閑簡道蓮粉捻培牡尉姜檸巍倪釘恢七根棠捎材料分析方法總復(fù)習(xí)材料分析方法總復(fù)習(xí) 發(fā)射 分子光譜 原子光譜 吸收 ? 熒光 ?原子的外層電子能級躍遷 ?線光譜 紫外 可見吸收 紅外吸收光譜 ?電子在分子軌道能級之間的躍遷 ,伴隨不同振動能級之間的躍遷 ?帶光譜 ?分子的不同振動(轉(zhuǎn)動 )能級之間的躍遷 ?原子的內(nèi)層電子的能級躍遷 ? 特征 X射線 繕貫醚攙郁狙綴猩捶豬軍耽禱泅贖三飲祈病睡腥猙有焰踏纜損胚淮糯轅斧材料分析方法總復(fù)習(xí)材料分析方法總復(fù)習(xí) ? 1．衍射線在空間的方位取決于什么？而衍射線的強度又取決于什么？ ? 衍射線在空間的方位主要取決于晶體的面網(wǎng)間距，或者晶胞的大小。 ? (3)定量分析精度不如波譜儀。 ? 缺點： ? (1)能量分辨率低，峰背比低。 在衍射成像模式 中使用。 ? 成像原理：厄瓦爾德圖解 ? 衍射花樣：強度 (I)對位置 (2 )的分布(I－ 2 曲線 ) ? 衍射特點： ? a） X射線有一定發(fā)散度 ,且光源不動 ,樣品臺和計數(shù)管以 1:2的角速度繞中心軸轉(zhuǎn)動 ? b) SOF在同一聚焦圓上， ? c）參與散射的晶面平行于平板樣品的表面 ? d)聚焦圓半徑隨布拉格角 θ的變化而變化 ? e)θ的角度從 0到 90度變化時 ,d的大小從大變小 ,所能測得的最小的間距為 λ/2 第四章 薄鮮疚濫溉源騰荒掇匝市
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