接觸電阻測試原理及pcb板的設計簡介-全文預覽
【正文】 ；點接觸則 n最小， Rs最大；線接觸則介于兩者之間。由于其它的測試方法可能會引起接點發(fā)生物理或電學的變化，所以對器件的干電路測量應當在進行其它的電學測試之前進行。 五、干電路（ Dry Circuit ）測試 11/24 五、干電路（ Dry Circuit ）測試 為了避免這類問題，通常采用干電路的方法來進行接點電阻測試。擊穿薄膜所需要的電壓電平通常在 30mV到 100mV的范圍內(nèi)。但由于接觸區(qū)域非常小，按圖中的接線得到的是 P+和 P之間的電阻值。從而準確測量出 R t的阻值。開爾文四線法連接有兩個要求：對于每個測試點都有一條激勵線 F和一條檢測線 S，二者嚴格分開，各自構成獨立回路；同時要求 S線必須接到一個有極高輸入阻抗的測試回路上，使流過檢測線 S的電流極小，近似為零。導體電阻主要取決于金屬材料本身的導電性能，它與周圍環(huán)境溫度的關系可用溫度系數(shù)來表征。 5/24 三、接觸電阻的組成 綜上所述，接觸電阻一般由收縮電阻、表面膜電阻和導體電阻組成。例如銅只要 23分鐘，鎳約 30分鐘，鋁僅需 23秒鐘，其表面便可形成厚度約 2微米的氧化膜層。此部分約占實際接觸面積的 510%。實際接觸面必然小于理論接觸面。1/24 接觸電阻測試原理及 PCB板的設計簡介 2/24 一、何為接觸電阻？ 接觸電阻就是電流流過閉合的接觸點對時 的電阻。會看到插合的一對接觸件的接觸，并不整個接觸面的接觸，而是散布在接觸面上一些點的接觸。即金屬間無過渡電阻的接觸微點，亦稱接觸斑點，它是由接觸壓力或熱作用破壞界面膜后形成的。 4/24 二、接觸電阻形成原理 實際上，在大氣中不存在真正潔凈的金屬表面，即使很潔凈的金屬表面，一旦暴露在大氣中，便會很快生成幾微米的初期氧化膜層。因而，從微觀分析任何接觸面都是一個污染面。 6/24 三、接觸電阻的組成 實際測量電連接器接觸件的接觸電阻時，都是在接點引出端進行的，故實際測得的接觸電阻還包含接觸表面以外接觸件和引出導線本身的導體電阻。 7/24 四、接觸電阻測量原理 接觸電阻的測量一般都采用開爾文四線法原理。由于流過測試回路的電流為零，在 r3， r4上的壓降也為零，而激勵電流 I在 r1， r2上的壓降不影響 I在被測電阻上的壓降，所以電壓表測出的電壓降即為 Rt兩端的電壓值。使用 Chroma毫歐姆表測量接觸電阻的原理見圖 2： D+: Drive + D :
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