試驗(yàn)設(shè)計(jì)與設(shè)計(jì)的準(zhǔn)則-全文預(yù)覽
【正文】 論和有限域上的射影幾何來(lái)尋找 MA設(shè)計(jì)。 ?但對(duì)于一般的數(shù)，因?yàn)闆](méi)有對(duì)應(yīng)的有限域，所以無(wú)法構(gòu)建相應(yīng)的部分因析設(shè)計(jì)理論。它所依據(jù)的道理是效應(yīng)排序原則，因?yàn)槿绻L(zhǎng)度較短的定義字比較多，就意味著低階效應(yīng)別名狀況比較嚴(yán)重。 ?一個(gè) 設(shè)計(jì)，是說(shuō)它的試驗(yàn)次數(shù)是 ，它有 k個(gè)因子，它的定義對(duì)照子群有 個(gè)元素。 ?基于以上原則，設(shè)計(jì)界目前廣泛使用的是部分因析試驗(yàn)，以及用 MA準(zhǔn)則來(lái)判斷試驗(yàn)是否優(yōu)良。 ? 通過(guò)與前面的回歸模型相對(duì)比（回歸模型中用最小二乘計(jì)算回歸系數(shù)），這里的效應(yīng)與回歸模型中的回歸系數(shù)只相差一個(gè)倍數(shù)。 ?這時(shí)，流行的做法是選擇一個(gè)“部分因析試驗(yàn)”。ijk l i j k ij ik ijk ijk ly ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?? ? ? ? ? ? ? ? ?, , 1 , 2 。 ?為此，試驗(yàn)人員在每一種可能的設(shè)置下（ 2的3次方，共 8種可能）做 5次試驗(yàn)，共 40次試驗(yàn)。試驗(yàn)設(shè)計(jì)與設(shè)計(jì)的準(zhǔn)則 劉森茂 數(shù)學(xué)科學(xué)學(xué)院 ?先從一個(gè)簡(jiǎn)單的試驗(yàn)開(kāi)始： 生產(chǎn)集成電路的一個(gè)初始步驟是產(chǎn)生晶體外延層。 試驗(yàn)人員希望找出最好的配置，使得產(chǎn)生的外延層厚度盡可能接近 。 .. . 。但在稍微復(fù)雜一點(diǎn)的試驗(yàn)中，因子數(shù)往往有 810個(gè)，甚至更多，那時(shí)即使沒(méi)有重復(fù)，試驗(yàn)次數(shù)也已經(jīng)數(shù)百、上千，這在很多情形下（如農(nóng)業(yè)試驗(yàn)有很長(zhǎng)的周期
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