【正文】 ic device. SCM history SCM was born in the late 20th century, 70, experienced SCM, MCU, SOC three stages. First model the single chip microputer (Single Chip Microputer) stage, mainly seeking the best of the best s。s CD4000 series of these pure hardware buttoned, then the circuit must be a large PCB board! But if the United States if the 7039。 還要特別感謝我的同學(xué)，正 是與他們?cè)谠S多問(wèn)題上的交流、討論，在他們的幫助之下，我的論文才得以順利完成。 石家莊鐵道大學(xué)四方學(xué)院畢業(yè)設(shè)計(jì) 20 參考文獻(xiàn) [1] 楊素行 . 模擬電子技術(shù)基礎(chǔ) 簡(jiǎn)明教程 (第三版 ).高等教育出版社 . [2] 李群芳，肖看 . 單片機(jī)原理接口及應(yīng)用技術(shù) [M]. 北京：清華大學(xué)出版社， 2020： 36～ 47. [3] 周堅(jiān) . 單片機(jī)輕松入門(mén) [M]. 第二版 . 北京：北京航空航天大學(xué)出版社， 2020： 60～ 80. [4] 高峰 . 單片微型計(jì)算機(jī)原理與接口技術(shù) [M]. 第二版 . 北京：科學(xué)出版社， 2020： 15～ 20. [5] 趙廣林 . 常用電子元器件識(shí)別 /檢測(cè) /選用一讀通 .北京 [M]. 電子工業(yè)出版社 3241. [6] 劉衛(wèi)國(guó) . C 語(yǔ)言程序設(shè)計(jì) [M]. 北京：鐵道大學(xué)出版 社， 2020： 30～ 41. [7] 徐愛(ài)鈞 , 彭秀華 . 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[4]，通過(guò)測(cè)量與被測(cè)電容相關(guān)電路的充放電時(shí)間來(lái)確定電容值。在電源剛接通時(shí)，電容 C上的電壓為零，多 諧振蕩器輸出 0V 為高電平 0V 通過(guò) R 對(duì)電容 C 充電。字符液晶選用 LCD1602A。本方案的硬件設(shè)計(jì)和軟件設(shè)計(jì)都相對(duì)簡(jiǎn)單。利用多諧震蕩原理測(cè)量電容的方案硬件設(shè)計(jì)比較簡(jiǎn)單，但是軟件實(shí)現(xiàn)相對(duì)比較復(fù)雜，而直接根據(jù)充放電時(shí)間判斷電容值的方案雖然基本上沒(méi)有用到軟件部分，但是硬件卻又十分的復(fù)雜。隨著模塊化和虛擬技術(shù)的發(fā)展，為中國(guó)的測(cè)試測(cè)量?jī)x器行業(yè)帶來(lái)了新的契機(jī)，加上各級(jí)政府日益重視，以及中國(guó)自主應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)研究的快速進(jìn)展，都在為該產(chǎn)業(yè)提供前所未有的動(dòng)力和機(jī)遇。所以，為了快速縮小與國(guó)外先進(jìn)公司之間的差距，國(guó)石家莊鐵道大學(xué)四方學(xué)院畢業(yè)設(shè)計(jì) 2 內(nèi)儀器研發(fā)企業(yè)應(yīng)加速實(shí)現(xiàn)從面向仿制的研發(fā)向面向應(yīng)用的研發(fā)的過(guò)渡。實(shí)際上，即便是研發(fā)隊(duì)伍本身，對(duì)測(cè)試的重視度以及對(duì)儀器本身的研究也明顯不夠。每當(dāng)提起中國(guó)測(cè)試儀器落后的原因，就會(huì)有許多不同的說(shuō)法，諸如精度不高，外觀不好，可靠性差等。隨著測(cè)量技術(shù)的飛速發(fā)展以及人們對(duì)電 容 參數(shù)的測(cè)量精度要求的提高，目前教學(xué)實(shí)驗(yàn)中普遍采用的數(shù)字式萬(wàn)用表已不能滿(mǎn)足測(cè)量要求，因此設(shè)計(jì)可靠，安全，便捷，測(cè)