【正文】 波器觀察復合視頻信號的波形。 實驗儀器電路板中使用集成芯片 LM1881 分離出行場同步信號的電路如下： LM1881 構成的行場分離電路其中： hs 表示復合同步輸出 vs 表示場同步輸出 EVEN/ODD 表示奇偶場同步輸出 控制電路 控制電路的功能是要計算出疊加圖像的場、行位置值 。 視頻信號同步分離電路 （ 1）、 LM1881 芯片簡介 為了使用方便， 我們使用集成視頻信號同步分離電路 LM1881， 下面簡單說明 LM1881 的功能。 另 外， 電視視頻信號中的行場同步信號的提取是不同。完整的同步信號如下： 視頻同步信號同步脈沖疊加在消隱脈沖之上，亮度視頻信號則是插在相連的消隱脈沖之間 。電子束逆程掃描在熒光屏上出現(xiàn)回掃線， 將對正程的圖像造成干擾， 影響圖像的清晰度。第一場掃出光柵的第 1， 3， 5， 7?等奇數(shù)行，稱為奇數(shù)場；第二場掃第 2， 4， 6， 8?等偶數(shù)行，稱為偶數(shù)場。在圖像處理系統(tǒng)中， 這些組成畫面的的細小單元稱為象素， 象素越小， 單位面積上的象素數(shù)目就越多，由其構成的圖像就越清晰。 三、實驗內(nèi)容 實驗內(nèi)容： 實驗背景介紹和整體演示； 學生自己動手調節(jié)光路，電路不作設計由已經(jīng)有的模塊來完成，記錄不同波片的透過率。 當采用如圖 5 所示的兩極濾波電路時， 在不增加穩(wěn)定時間的情況下， 可更有效地減小紋波。 帶通濾波器的性能參數(shù)：20 26 3 90541 1 11 ( 2 )VVR C R RQBWRAAR???????????? ? ? 積分電路：積分電路的作用是將輸入的交流信號變成直流信號，可以采用 AD536A 芯片。 555 時基電路和 R1 R1 C12 等組成一個無穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器，它的振蕩頻率此多諧振蕩器產(chǎn)生的波形是具有一定占空比的方波，其中 將原理圖中的參數(shù)帶入公式可計算出從 555 產(chǎn)生的 方波信號頻率為 32KHZ.。 光電傳感器將入射的光信號轉變成電信號，經(jīng)信號處理電路，如 I— V 轉換電路、濾波電路、積分電路，將交流信號變成直流信號， 該直流信號的大小與入射到光電傳感器上的光信號的強度成正比， 通過測量該直流電流的大小即可測量出激光通過介質的透過率。 如果傳播媒質中同時存在吸收和散射，則輻射能通量為 f 的入射輻射在傳播 x 距離之后，透過的輻射能通量為： ? ? ? ?0 xxe????? 上式稱為比爾 —— 朗伯定律。 當以平行輻射束在媒質中傳播時， 若媒質有吸收，則在傳播一段距離之后，在垂直于傳播方向單位面積上的輻射能通量將減少。 四、 實驗小結 通過本次實驗 掌握了吸收光譜法檢測物質濃度和光電直讀光譜儀的使用方法；但是由于實驗儀器故障 ，需要返廠維修 ， 我們 無法得到正確的實驗數(shù)據(jù)。 3. 用雙光束紫外可見分光光度計進行高錳酸鉀溶液濃度測定。 （ 3） 分光光度法檢測溶液濃度 朗伯比爾 定律： 0lg IA abCI???????? 式中 C 為溶液濃度， A 、 0I 和 I 的定義同上， a為常數(shù)，它與入射光波長以及溶液的性質、 液層 厚度和溫度有關， b 為溶液厚度。 （ 1） 透過率測試原理： 讓 xW 進行波長掃描（ mE 保持同樣的波長接收 ） ， 可得 試樣 1C 在不同波長下的透過率曲線 0II?? 其中： I 為透過試樣 1C 的光強（ 2ph 探測器接收 ） ， 0I 為入射光強（ 1ph 探測器接收 ） ，?為透過率。 二、 基本 原理 1. 平面 衍射光柵分光原理 2. 光電倍增管式光電直讀光譜儀 （ 1） 原理圖 光電直讀光譜儀 （ 2） 主要技術參數(shù) 波長范圍 300 ~ 850nm nm（可擴展為 190 ~ 20nm m? ） 光柵 平面光柵 1200 mm線 ， 刻線 面積， 40 50mm mm? 閃耀波長 500b nm? ? （可按用戶要求選配其他規(guī)格的光柵） 波長準確度 ( 120 0 )nm m m? 線 光 柵 波長重復性 ( 120 0 )nm m m線 光 柵 焦距 300mm 相對孔徑 16Df? 分辨率 ? （ 1200 mm線 光柵 ） 線色散倒數(shù) （ 1200 mm線 ） 雜散光 3110??? （ HeNe 激光器， 在 8nm? 處測定 ） 狹縫 寬度 ~3mm 連續(xù)可調整， 高度 2, 4,6,8,10mm共分五檔 外形尺寸 長 *寬 *高 39 0 26 0 20 0mm?? （主機 ） 32 0 36 5 11 0mm?? （控制器 ） 3. 分光光度計 如圖所示， 分光光度計 是 in 性物質熒光光譜光強研究或物質分子吸收光譜的研究。 2. 掌握 光電直讀光譜儀的基本光譜實驗。 4. 用光電池做探測器的光電直讀光譜儀進行光源采集。 光路 中的光闌和擋光板起限制視場外多余光束的作用， 以 利于減少儀器的雜散光。的垂直分布， 可以 避免因為光源與光電接收器距離過勁 =近 而互相干擾。相鄰兩刻線對應的光線 22’和光線 11’的光程差為： ? ?sin sinid ???? （ 1） 相干光束干涉極大值的條件為： 2 m? ?? 22 m? ? ?????? ? ? ? （ 2） 入射與出射光在光柵法線同側取 ”+”號 ， 在 異側取 ””號。 2. 熟悉光電直讀光譜儀光電系統(tǒng)和機械結構。 3） 測量 e 和 H， 計算 平面度和粗糙度。接收件可以由人眼 G10， 成像 物鏡 G15 和測微目鏡 G11， 或 由分光棱鏡 G1可動 小孔 G13 和攝像頭 G14 組成的攝像。 如果 平板不是太厚，且 平板兩表面的楔角不是太大時， 定域面 非常接近平板下表面， 這樣 如調節(jié)顯微鏡 L2 對準平板下表面， 就 可在顯微鏡像平面 E 上觀察到楔形平板產(chǎn)生的等厚條紋。 四、 實驗 數(shù)據(jù) 次數(shù) 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 左側/mm 右側/mm 直徑/mm 五、 數(shù)據(jù)處理 計算平均直徑： ??? = 110( ++ + ++ + ++ +) = ???? 計算 均方根值： ??? = √ 110( + + + + + + + + + )= ???? 六、 實驗小結 通過這 次實驗， 理解了 阿貝原理以及產(chǎn)生阿貝誤差的原因， 初步 使用萬能工具顯微鏡 ，對 阿貝原理和阿貝誤差產(chǎn)生 原因 有了 較為 深刻 的理解 ，同時 熟悉 了 阿貝原則在光學測長儀中的應用 。 測長儀 阿貝測長儀中， 標準件軸線 與被測件軸線 為串聯(lián)形式， 無 阿貝誤差， 為 二階誤差， 計算 形式如下： 22=C?? 三、 實驗 內(nèi)容 1. 萬能 工具顯微鏡進行測長實驗 1） 儀器 ： 萬能 工具顯微鏡， 精度 ： 1 微米。 2） 阿貝 誤差按垂直面、 水平面 分別計算。 光電信息 技術實驗 姓名： XXX 班級： XXX 學號： XXX 指導老師： XXXX 實驗一 阿貝原則實驗 一、 實驗目的 1. 熟悉 阿貝原則在光學測長儀中的應用。 產(chǎn)生 的阿貝誤差如下： 1= tana?? 35= ( 1 3 2 1 5 )a ? ? ?? ? ? ??? a?? 一階誤差， 即 阿貝誤差 2．結論 1） 只有當 導軌存在不直度誤差， 且 標準件與被測件軸線不重合才產(chǎn)生阿貝誤差（一階誤差 ） 。 5） 滿足 阿貝原則的系統(tǒng)， 結構 龐大。 2） 實驗 步驟： 瞄準被測物體一端， 在 讀數(shù)裝置上讀一數(shù)； 瞄準 被測物體另一端， 在 讀數(shù)裝置上再度一數(shù)（精度 1 微米 ） ； 兩次 讀數(shù)之差即為物體長度。 入射 光束在楔形平板下表面的反射光透過平板上表面和玻璃片反射向 確定定域面的作圖法， 可知 定域面在楔形平板內(nèi)部的 BB’的位置。 星點 可由激光管 G棱鏡 G光源強度調節(jié)發(fā)散鏡 G7 組成。 2）裝上成像物鏡 G15 和測微目鏡 G11， 繼續(xù) 旋轉調整左右螺旋 8， 直到 G11 視場中干涉條紋清楚。