【正文】 增益，可得到7 位分辨率。芯片還支持16 路差分電壓輸入組合。INT8U MenuBackLightID[2] ={Green,Red}。INT8U MenuParamID[4] ={Voltage,Testtime,Spacetime,Exterior}。INT8U MenuRootID[5]={EUTtype,PortSet,Paramete,SystemSet,ShutOff}。 菜單顯示需要測(cè)量過程及結(jié)果的輸入，通過調(diào)用漢字字模表進(jìn)行顯示，其對(duì)應(yīng)程序如下。} Key_DealWith()。 if (AutoPress) { AutoPress。如果想退出當(dāng)前狀態(tài)可以選擇放棄鍵。按鍵功能的設(shè)計(jì)說明：此設(shè)計(jì)中包括上，下，左，右，確定和放棄六個(gè)鍵，接通電源之后可以通過按確定鍵進(jìn)入系統(tǒng)設(shè)置，在系統(tǒng)設(shè)置的各種可選項(xiàng)中同樣可以通過確定鍵進(jìn)入下一級(jí)的設(shè)置，確認(rèn)設(shè)置結(jié)果按確定鍵。而此設(shè)計(jì)也不例外可以實(shí)現(xiàn)人機(jī)交互。一步一步按程序設(shè)置顯示相應(yīng)的信息。變量初始化即初始化函數(shù)定義。Write8563 = FALSE。 i8。 UART_Cmd = 39。 UART_State = TX_Make。CK_Aquer ) // 詢問程控電源電流 { UART_Tx_Req amp。 UART_Cmd = 39。 UART_State = TX_Make。CK_Vset ) // 設(shè)定程控電源輸出電壓 { UART_Tx_Req amp。 UART_Cmd = 39。 UART_State = TX_Make。AD_Clear )// 詢問接觸電流采集值 { UART_Tx_Req amp。 UART_Cmd = 39。} // 形成發(fā)送數(shù)據(jù) else if ( UART_State == RX_Done ){RX_Unpack()。 // 合格 3S } else if (Pass==FALSE) { Buzzer_ON(2000)。 memset(StartTime,0xff,sizeof(StartTime))。 CtrlPort = 0。 TestingFace()。 // 顯示測(cè)試界面 DispAll()。} // 200ms /*運(yùn)行測(cè)試*/ if ( State == RUN ) { Control()。amp。 if (AutoPress){Key_Pressed = TRUE。 ExtKey_DealWith()。 Init_devices()。按鍵掃描采用單個(gè)按鍵的掃描，有相應(yīng)的按鍵處理子程序，程序中包括按鍵去抖動(dòng)，按鍵的鍵后處理，去抖動(dòng)采用延時(shí)去抖法。軟件設(shè)計(jì)控制著硬件設(shè)計(jì)的功能實(shí)現(xiàn)，只有實(shí)現(xiàn)了軟件設(shè)計(jì)的功能才能實(shí)現(xiàn)整個(gè)測(cè)試儀的功能。 工作于空閑模式時(shí)CPU 停止工作，而USART、兩線接口、A/D 轉(zhuǎn)換器、SRAM、T/C、SPI 端口以及中斷系統(tǒng)繼續(xù)工作；掉電模式時(shí)晶體振蕩器停止振蕩，所有功能除了中斷和硬件復(fù)位之外都停止工作；在省電模式下，異步定時(shí)器繼續(xù)運(yùn)行，允許用戶保持一個(gè)時(shí)間基準(zhǔn)，而其余功能模塊處于休眠狀態(tài)； ADC 噪聲抑制模式時(shí)終止CPU 和除了異步定時(shí)器與ADC 以外所有I/O 模塊的工作，以降低ADC 轉(zhuǎn)換時(shí)的開關(guān)噪聲； Standby 模式下只有晶體或諧振振蕩器運(yùn)行，其余功能模塊處于休眠狀態(tài)，使得器件只消耗極少的電流，同時(shí)具有快速啟動(dòng)能力；擴(kuò)展Standby 模式下則允許振蕩器和異步定時(shí)器繼續(xù)工作。其主要特性為：I2C總線接口，時(shí)鐘工作電壓(0 to +70 ℃)，2408位低壓RAM，數(shù)據(jù)保持電壓：，工作電流(FSCL = 0Hz)：最大50 mA，帶四年日歷的時(shí)鐘功能，帶鬧鐘和溢出指示的多用定時(shí)器。PCF8583地址引腳A0用于編程硬件地址，允許在總線上連接兩個(gè)器件，而不需其他額外的硬件。當(dāng)1/OE和2/OE都為低電平時(shí)，輸出端Y和輸入端A狀態(tài)相同；當(dāng)1/OE和2/OE都為高電平時(shí)，輸出呈高阻態(tài)。 信號(hào)放大電路圖A／D轉(zhuǎn)換的結(jié)果通過數(shù)據(jù)鎖存器、數(shù)據(jù)緩沖器接口電路送入單片機(jī)ATMEGA32內(nèi)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器RAM，數(shù)據(jù)采樣完畢后，ATMEGA32再?gòu)腞AM取回?cái)?shù)據(jù)，進(jìn)行運(yùn)算，處理求出最大峰值電流，將結(jié)果通過數(shù)顯電路由液晶顯示屏進(jìn)行顯示．也可送串行接口連接打印機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)打印，并且可以通過RS232串行口和PC機(jī)進(jìn)行通訊，把所測(cè)試結(jié)果在Pc機(jī)上進(jìn)行監(jiān)控、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)打印，數(shù)據(jù)管理。在模擬信號(hào)達(dá)到模數(shù)轉(zhuǎn)換器時(shí)，為了減少轉(zhuǎn)換誤差，要求送入的模擬信號(hào)盡可能的大，如采用A／D變換器進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換時(shí)，在A／D輸人的范圍內(nèi)，希望輸人的模擬信號(hào)盡可能達(dá)到較大值。當(dāng)頻率比較低的時(shí)候， 還能滿足頻率特性參數(shù)要求， 但U2端的輸出值是通過一個(gè)RC低通濾波器輸出的， 隨著輸入信號(hào)頻率的升高(頻率超過2OOkHZ)， 信號(hào)被快速的衰減， 此電路設(shè)計(jì)不能達(dá)到測(cè)試網(wǎng)絡(luò)的特性參數(shù)要求。A、B 端為兩個(gè)測(cè)量端子。被測(cè)試設(shè)備可以根據(jù)測(cè)量要求，進(jìn)行端口設(shè)定，參數(shù)設(shè)置，系統(tǒng)設(shè)定等操作，而且操作方便．讀數(shù)直觀。 五種人體模擬阻抗網(wǎng)絡(luò) 電器設(shè)備接觸電流的測(cè)量原理是基于流經(jīng)人體的電流可能引起的效應(yīng)。由于接觸電流是指人體接觸到產(chǎn)品時(shí)流過人體的電流，而人體可以看成是一個(gè)阻抗網(wǎng)絡(luò)，這個(gè)阻抗網(wǎng)絡(luò)由電阻電容通過一定的連接方式組成。 如果是II類內(nèi)部電源設(shè)備，由于它們不具備保護(hù)接地線路，則要考慮其全部外殼的漏電流；但如果是I類設(shè)備，而它又有一部分的外殼沒有和地連接，則要考核這部分的外殼接觸電流。” I 類設(shè)備在保護(hù)接地導(dǎo)線斷開的單一故障條件下，如果接地的人體接觸到與該保護(hù)接地導(dǎo)線相連的可觸及導(dǎo)體（如外殼），則這個(gè)對(duì)地接觸電流將通過人體流到地，當(dāng)這個(gè)電流大于一定值時(shí)，就有電擊的危險(xiǎn)。第二章 儀器的結(jié)構(gòu)和原理接觸電流 ：當(dāng)人體或動(dòng)物接觸一個(gè)或多個(gè)裝置的或設(shè)備的可觸及零部件時(shí)， 流過他們身體的電流。第三章介紹了儀器的硬件設(shè)計(jì)，介紹了系統(tǒng)信號(hào)輸入通道中用到的74hc244芯片，系統(tǒng)時(shí)鐘電路中用到的PCF8583芯片，微處理器atemga32的電路邏輯圖，引腳圖及邏輯功能。接觸電流即當(dāng)人體或動(dòng)物接觸一個(gè)或多個(gè)裝置的或設(shè)備的可觸及零部件時(shí)， 流過他們身體的電流。根據(jù)設(shè)計(jì)的思路可以將論文分成五章來介紹：第一章是引言部分主要介紹接觸電流測(cè)試儀的發(fā)展及意義，接觸電流測(cè)試儀的軟件設(shè)計(jì)的概述。其功能方框圖如圖1所示。在采用波形測(cè)量法獲取波形的峰值， 先可通過將整個(gè)波形數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)采集， 然后換算得出波形最大的峰值， 再利用公式計(jì)算出接觸電流的峰值,接觸電流值I d =峰值/ 5 0 0 。標(biāo)準(zhǔn)用大量篇幅對(duì)產(chǎn)品的防觸電保護(hù)提出了要求, 并采用了利用人體模擬網(wǎng)絡(luò)對(duì)接觸電流進(jìn)行加權(quán)測(cè)試的方法, ( 峰值) 。觸電是由于電流通過人體而造成的, 要毫安級(jí)的電流就能在健康人體內(nèi)產(chǎn)生反應(yīng), 而且可能會(huì)由于不知不覺的反應(yīng)導(dǎo)致間接死亡。這就是我們?yōu)槭裁匆鼋佑|電流測(cè)試的目的所在。IEC60990 《接觸電流和保護(hù)導(dǎo)體電流的測(cè)量方法》中提到接觸電流是“當(dāng)人體或動(dòng)物接觸一個(gè)或多個(gè)裝置的或設(shè)備的可觸及零部件時(shí)，流過他們身體的電流。接觸電流作為一項(xiàng)測(cè)試電器設(shè)備的絕緣性鞥工作，是電器設(shè)備進(jìn)行安全性能考核的技術(shù)指標(biāo)之一。家用電器安全的重要性不言而喻。接觸電流測(cè)試儀以pcf8583芯片，74hc244芯片，atmega8芯片以及atmega32芯片為主控芯片，并對(duì)數(shù)據(jù)和信號(hào)進(jìn)行收集和處理。本設(shè)計(jì)主要向大家講述人機(jī)對(duì)話和單片機(jī)的通信以及單片機(jī)進(jìn)行控制切換和模數(shù)轉(zhuǎn)換。對(duì)本研究提供過幫助和做出過貢獻(xiàn)的個(gè)人或集體，均已在文中作了明確的說明并表示了謝意。盡我所知，除文中特別加以標(biāo)注和致謝的地方外，不包含其他人或組織已經(jīng)發(fā)表或公布過的研究成果，也不包含我為獲得 及其它教育機(jī)構(gòu)的學(xué)位或?qū)W歷而使用過的材料。它有著高精度測(cè)量，低能耗，穩(wěn)定可靠等優(yōu)點(diǎn)。主要介紹了接觸電流測(cè)試儀的原理組成和其軟件編程方法。關(guān)鍵詞: 接觸電流測(cè)試儀，人機(jī)對(duì)話，pcf8583芯片，atmega32單片機(jī)ABSTRACT The system uses an embedded microcontroller system as a core technology, and uses a single chip design signal to process functions as a touch current test instrument. It has the highlight of high precision measurement, low energy consumption, stable and reliable etc. This designer primarily aims at presenting a manmachine dialogue and munication system, and the SCM control switches and analogdigital conversion. It introduces the principle of touch current tests, characteristics and development status. Combined with the current problems in the application of research and contact with current tester points out the trend, introduces the principle of touch current test instrument ponents and the software programming. Touch Current Tester using pcf8583 chips, 74hc244 chip based on atmega8 chip as the main control chip to get the data and signal collection and processing. Microcontroller with atmega32 data processing and testing discuss this instrument microcontroller used for the microprocessor to achieve an atmega8 instrument keyboard / display to minimize hardware design techniques. It can describe that the tester of simple structure, strong antiinterference, easy, functional and so on. Key words: Touch Current Tester, manmachine dialogue, pcf8583 chip, atmega32 SCM目 錄摘 要 IABSTRACT II第一章 前言 1 1 2 3第二章 儀器的結(jié)構(gòu)和原理 4 4 5 6 6 7 8 A/D轉(zhuǎn)換器 8第三章 儀器硬件設(shè)計(jì) 10 10 11 12 13第4章 儀器軟件設(shè)計(jì) 14 14 14 14 19 19 19 19 20 A/D轉(zhuǎn)換說明 22 23第五章 系統(tǒng)模擬運(yùn)行結(jié)果及其分析 26 26 27結(jié)論 29參考文獻(xiàn) 30附 錄 31致 謝 3232第一章 前言 隨著社會(huì)的發(fā)展，人們使用的家用電器越來越多，品種和范圍也越來越廣，并且人員層次使用不一致，因此電子和電器設(shè)備的安全性就顯得更加重要。另外，還要考慮到測(cè)量期間設(shè)備的接地也必須按照制造廠所標(biāo)記的設(shè)備在實(shí)際使用中指定要連接的接地系統(tǒng)類型（TN,TT,IT系統(tǒng)）的情況下進(jìn)行測(cè)量。