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畢業(yè)設(shè)計(jì)--基于labview光敏電阻特性測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)-畢業(yè)設(shè)計(jì)-全文預(yù)覽

  

【正文】 新計(jì)算機(jī)或測(cè)量硬件,就能以最少的硬件投資和極少的、甚至無(wú)需軟件上的升級(jí)即可改進(jìn)整個(gè)系統(tǒng)。使用者可以根據(jù)不同的測(cè)試任務(wù),在虛擬儀器開(kāi)發(fā)軟件的提示下編制不同的測(cè)試軟件,來(lái)實(shí)現(xiàn)當(dāng)代科學(xué)技術(shù)復(fù)雜的測(cè)試任務(wù)。 按照測(cè)控功能硬件的不同, VI可分為 DAQ、 GPIB、 VXI、 PXI 和串口總線五種標(biāo)準(zhǔn)體系結(jié)構(gòu),它們主要完成被測(cè)輸入信號(hào)的采集、放大、模 /數(shù)轉(zhuǎn)換 。用戶用鼠標(biāo)操作虛擬儀器的面板就如同操作真實(shí)儀器一 樣真實(shí)與方便 虛擬儀器系統(tǒng)的硬件構(gòu)成 虛擬儀器的硬件系統(tǒng)一般分為計(jì)算機(jī)硬件平臺(tái)和測(cè)控功能硬件。自 1986 年問(wèn)世以來(lái),世界各國(guó)的工程師和科學(xué)家們都已將 NI LabVIEW 圖形化開(kāi)發(fā)工具用于產(chǎn)品設(shè)計(jì)周期的各個(gè)環(huán)節(jié),從而改善了產(chǎn)品質(zhì)量、縮短了產(chǎn)品投放市場(chǎng)的時(shí)間,并提高了產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)效率。 2mm /引線直徑:¢ 封裝類(lèi)型:屬環(huán)氧樹(shù)脂封裝 /直插型( DIP) 常用型號(hào): LXD20516 / LXD20528 / LXD20537 / LXD20539 / LXD20549 / 規(guī)格:光敏電阻¢ 25mm 系列 外觀描述 : 基板 :177。 177。停止輻射時(shí)光電導(dǎo)率和光電流的變化規(guī)律可表示為 外觀尺寸: 基板 :177。 ( 2)強(qiáng)輻射條件下的時(shí)間響應(yīng) 如圖 27 所示為較強(qiáng)的輻射通量 Φ e (圖的上方)脈沖作用于光敏電阻上時(shí)的輸出波形(圖的下方波形),無(wú)論對(duì)本征型還 是雜質(zhì)型的光敏電阻,光激發(fā)載流子的變化規(guī)律由式( 26) 表示。 (1) 弱輻射條件下的時(shí)間響應(yīng) 設(shè)入射輻射如圖 26 上方的方波所示光脈沖,其輻射通量 Φ e 表示為 光敏電阻的光電導(dǎo)率 Δ σ 和光電流 Ie 隨時(shí)間變化的規(guī)律為如圖 26 下方所示的輸出波形,其變化規(guī)律為: 式中 Δ σ 0 與 Ie0 分別為弱輻射作用下的光電導(dǎo)率和光電流的穩(wěn)態(tài)值。測(cè)量方式為在如圖 21 所示的電路中用鋸齒波掃描電壓代替電源,用階梯波給 LED 光源提供階梯光照到光敏電阻上,用鋸齒波做 X 軸掃描,用流過(guò)光敏電阻的電流在外接固定電阻上產(chǎn)生的電壓為 Y 軸就可以測(cè)出它的伏安特性曲線,如圖 25 所示。由于光敏電阻的本質(zhì)是電阻,因此,伏安特性曲線應(yīng)為直線。通過(guò)改變發(fā)光管電流 If 獲得不同光照度 Ev所對(duì)應(yīng)的阻值 Rp。并在圖 23中畫(huà)出亮電 阻的特性曲線。將所測(cè)得的電源電壓 Ubb 值與電流 Id值分別填入表 21,得到光敏電阻暗電阻的阻值。額定功率是指光敏電阻用于某種線路中所允許消耗的功率,當(dāng)溫度升高時(shí),其小號(hào)的功率就降低 4 03 02 01 00I / mA1 0 01 0 0 0 1 x5 0 0 m W1 0 0 1 x2 0 0U / V1 0 1 x 硫化鎘光敏電阻的伏安特性 0 . 0 50 . 1 00 . 1 50 . 2 00 . 2 50 . 3 00 . 3 50 . 4 00 0 . 2 0 . 4 0 . 6 0 . 8 1 . 0 1 . 2 1 . 4I / mA? / lm 光敏電阻的光照特性 Sr / (%)? / A2 04 06 08 01 0 00 1 . 5 3 光敏電阻的光譜特性 1 0 08 06 04 02 00 1 0 1 0 0 1 0 0 0 1 0 0 0 0S /( %)f / H z 光敏電阻的頻率特性 光敏電阻各種特性實(shí)驗(yàn)測(cè)量 一、暗電阻的測(cè)量 從 GDSⅡ型實(shí)驗(yàn)平臺(tái)備件箱中取出光敏電阻實(shí)驗(yàn)裝置,并將光敏電阻探測(cè)器實(shí)驗(yàn)裝置 11 的引線連接到實(shí)驗(yàn)平臺(tái)上的半導(dǎo)體光電傳感器插孔內(nèi),并用導(dǎo)線將光敏電阻及測(cè)量電表連接成如圖 21所示電路,電路中的電流表 用實(shí)驗(yàn)平臺(tái)主機(jī)提供的數(shù)字微安表,電源也使用由實(shí)驗(yàn)平臺(tái)提供的數(shù)字電壓表,可調(diào)電源應(yīng)該用平臺(tái)上提供的12V電源、電位器、電阻與三極管等元器件自行設(shè)計(jì)裝調(diào)出可調(diào)電壓的電源。伏安特性曲線用來(lái)描述光敏電阻的外加電壓與光電流的關(guān)系,對(duì)于光敏器件來(lái)說(shuō),其光電流隨外加電壓的增大而增大。從光敏電阻的光照特性曲線可以看出,隨著的光照強(qiáng)度的增加,光敏電阻的阻值開(kāi)始迅速下降。光譜響應(yīng)又稱光譜靈敏度,是指光敏電阻在不同波長(zhǎng)的單色光照射下的靈敏度。外加電壓與暗電流之比稱為暗電阻,常用“ 0LX”表示。如果儀表指針始終停在一個(gè)位置的震動(dòng)和搖晃光敏電阻的光敏材料被損壞 光敏電阻優(yōu)缺點(diǎn) 缺點(diǎn): 根據(jù)不同的溫度影響較大 響應(yīng)速度不快,在 ms 到 s 之間,延遲時(shí)間受入射光的光照度影響(光電二極管無(wú)此缺點(diǎn),光電二極管靈敏度比光敏電阻高) 比較耗材 優(yōu)點(diǎn): 環(huán)氧膠封裝(環(huán)氧涂層),可靠性(可靠性高)的尺寸?。w積?。┖透哽`敏度(高靈敏度),反應(yīng)速 率(快速反應(yīng))的光譜特性(良好的頻譜特性) 該直流電源可獨(dú)立使用的內(nèi)部光電效應(yīng)和電極(光電二極管僅涉及) 靈敏度和半導(dǎo)體材料,和波長(zhǎng)的入射光 根據(jù)光敏電阻的光譜特性,可分為三種光敏電阻器:紫外光敏電阻器、紅外光敏電阻器、可見(jiàn)光光敏電阻器。 檢測(cè)方法 B:將光源對(duì)準(zhǔn)光敏電阻的半透明窗口。一般說(shuō),用于數(shù)字信息傳輸時(shí),選用亮電阻與暗電阻差別大的光敏電阻為宜,且盡量選用光照指數(shù)大的光敏電阻 。光敏電阻沒(méi)有極性,純粹是一個(gè)電阻器件,使用時(shí)既可加 直流電壓 ,也加 交流電壓 .導(dǎo)體的導(dǎo)電能力取決于半導(dǎo)體導(dǎo)帶內(nèi)載流子數(shù)目的多少 2.. 光敏電阻使用時(shí)注意事項(xiàng) 光敏電阻在使用中應(yīng)注意以下幾個(gè)問(wèn)題: (1)用于測(cè)光的光源光譜特性必須與光敏電阻的光電特性匹配 。用于制造光敏電阻的材料主要是金屬的硫化物、硒化物和碲化物等半導(dǎo)體。 虛擬儀器利用計(jì)算機(jī)強(qiáng)大的圖形用戶界面,用計(jì)算機(jī)直接讀數(shù)。軟件領(lǐng)域面向?qū)ο蠹夹g(shù)把任何用戶構(gòu)建虛擬 儀器需要知道的東西封裝起來(lái)。 第二階段 , 開(kāi)放式的儀器構(gòu)成。 第一階段 , 利用計(jì)算機(jī)增強(qiáng)傳統(tǒng)儀器的功能。 光電傳感器的智能化發(fā)展 智能光電傳感器是當(dāng)今國(guó)際科技界研究的熱點(diǎn)、尚無(wú)統(tǒng)一的、確切的定義。 新型有機(jī)光電子材料及器件 目標(biāo):研究開(kāi)發(fā)新型有機(jī)半導(dǎo)體材料及其在光顯示等領(lǐng)域的應(yīng)用。 超高密度光存儲(chǔ)材料與器件技術(shù) 目標(biāo):發(fā)展具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的超高密度、大容量、高速度光存儲(chǔ)材料和技術(shù),達(dá)到國(guó)際先進(jìn)水平,為發(fā)展超高密度光存儲(chǔ)產(chǎn)業(yè)打下基礎(chǔ)。研究?jī)?nèi)容:重點(diǎn)研究人工晶體與 同態(tài)激光器、GaN 基材料及器件質(zhì)量監(jiān)測(cè)新方法與新技術(shù),相關(guān)產(chǎn) .測(cè)試條件與數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)化研究。研究?jī)?nèi)容及主要指標(biāo):新型深紫外非線性光學(xué)晶體材料和全固態(tài)激光器;面向光子/聲子應(yīng)用的人工微結(jié)構(gòu)晶體材料與器件;研究開(kāi)發(fā)瓦級(jí)紅、藍(lán)全固態(tài)激光器產(chǎn)業(yè) 化技術(shù),高損傷閩值光學(xué)鍍膜關(guān)鍵技術(shù) (B 類(lèi) ),基于全固態(tài)激光器的全色顯示技術(shù);研究開(kāi)發(fā)大功率半導(dǎo)體激光器陣列光纖耦合模塊產(chǎn)業(yè)化技術(shù); Yb 系列激光晶體技術(shù)。傳統(tǒng)的光電傳感器已不能滿足這樣的要求了。 安徽建筑 大學(xué) 畢 業(yè) 設(shè) 計(jì) (論 文 ) 專 業(yè) 班 級(jí) 學(xué)生姓名 學(xué) 號(hào) 課 題 基于 LabVIEW光敏電阻特性測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì) 指導(dǎo)教師 年 月 日 目錄 第一章 緒論 第一節(jié) 光敏電阻的最新發(fā)展方向 第二節(jié) 虛擬儀器的發(fā)展史及發(fā)展動(dòng)態(tài) 第三節(jié) 光敏電阻測(cè)量的基本模型 第二章 光敏電阻的理論研究 第一節(jié) 光敏電阻的工作原理 第二節(jié) 光敏電阻特性 及主要參數(shù) 第三節(jié) 幾種常見(jiàn)材料的光敏電阻及其特性 第四節(jié) 所選光敏電阻型號(hào) 第三章 虛擬儀器及 LabVIEW 編程 第一節(jié) 虛擬儀器 第二節(jié) 軟件 LabVIEW 第 三 節(jié) 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì) 第 四 節(jié) 轉(zhuǎn)換電路 第四章 實(shí) 驗(yàn)誤差分析及補(bǔ)償 第一節(jié) 電阻測(cè)量誤差分析及補(bǔ)償 第二節(jié) 改善后的實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證 第五章 總結(jié) 參考文獻(xiàn) 致謝 摘要 在科學(xué)技術(shù)高速發(fā)展的現(xiàn)代社會(huì)中,人類(lèi)已經(jīng)入瞬息萬(wàn)變的信息時(shí)代,人們?cè)谌粘I睿a(chǎn)過(guò)程中,主要依靠檢測(cè)技術(shù)對(duì)信息經(jīng)獲取、篩選和傳輸,來(lái)實(shí)現(xiàn)制動(dòng)控制,自動(dòng)調(diào)節(jié)。而且具備一定得數(shù)據(jù)處理能力,并能夠自檢、自校、自補(bǔ)償。 人工晶體和全固態(tài)激光器技術(shù) 目標(biāo):研究探索新型人工晶體材料與應(yīng)用技術(shù),突破人工晶體的產(chǎn)業(yè)化關(guān)鍵技術(shù),研制大功率全固態(tài)激光器,解決產(chǎn)業(yè)化關(guān)鍵技術(shù)問(wèn)題。 光電子材料與器件產(chǎn)業(yè)化質(zhì)量控制技術(shù) 目 標(biāo):發(fā)展人工晶體與全固態(tài)激光器、 GaN 基材料及器件表征評(píng)價(jià)技術(shù),解決產(chǎn):業(yè)化質(zhì)量控制關(guān)鍵技術(shù)。研究?jī)?nèi)容: ①超高亮度冷陰極發(fā)光管制作和應(yīng)用的關(guān)鍵技術(shù);②研制 FED 用的、能夠在低電壓下工作的新型冷陰極電子源結(jié)構(gòu)、新型冷陰極電子發(fā)射材料。研究?jī)?nèi)容:①光纖光柵溫度、壓力、振 動(dòng)傳感器的產(chǎn)業(yè)化技術(shù);②
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