【正文】 附近時，過程異常。 控制圖反映過程異常，應注意有壞的異常，還有可能出現(xiàn)好的異常。167。重新計算控制限 在進行首次過程研究或重新評定過程能力時，要排除已發(fā)現(xiàn)并解決了的特殊原因的任何失控點，然后重新計算并描畫控制限，使所有點均處于受控狀態(tài)。均值和極差圖（ XbarR） 過程能力分析均值和極差圖（ XbarR）41 計算過程的標準偏差 σ ? σ ? = /d2 是子組極差的平均值， d2是隨樣本容量變化的常數(shù)注： 只有過程的極差和均值兩者都處于受控狀態(tài)，則可用估計 的過程標準偏差來評價過程能力?！苤笖?shù) ≤ 該過程目前可被接受，但是可能會要求進行一些改進。與適當?shù)念櫩痛砣〉寐?lián)系，對研究結果進行評審。23 單值圖（ X）圖的刻度按下列最大者選?。? a 產品規(guī)范容差加上允許的超出規(guī)范的讀數(shù)。見下表： 過程控制解釋（同其他計量型管制圖） 過程能力解釋 式中： R為移動極差的均值， d2是隨樣本容量變化的常數(shù)。為此要使用額外的過程分析工具，包括更先進的統(tǒng)計方法。由于進行某些改變，應重新確定過程穩(wěn)定性。 分組頻率： 根據(jù)實際情況，兼大容量和信息反饋快的要求。114 將不合格品率描繪在控制圖上 a 描點，連成線來發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢。 nk為每個子組的檢驗總數(shù)? 上控制限? 下控制限注：從上述公式看出，凡是各組容量不一樣，控制限隨之變化。25% 的樣本容量范圍。1311 超出控制限的點 a 超出極差上控制限的點通常說明存在下列情況中的一種或幾種： 控制限計算錯誤或描點時描錯 測量系統(tǒng)變化（如：不同的檢驗員或量具）。計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖（ P控制圖） 1311 鏈a 出現(xiàn)高于均值的長鏈或上升鏈（ 7點），通常表明存在下列情況之一或兩者： 測量系統(tǒng)的改變（如新的檢驗人或新的量具）。注：當 np很小時（ 5以下），出現(xiàn)低于 P的鏈的可能性增加，因此有必要用長度為 8點或更多的點的長鏈作為不合格品率降低的標志。 數(shù)據(jù)已經過編輯（明顯偏離均值的值已被調換或刪除）d）如果顯著少余 2/3以上的描點落在離均值很近之處（對于 25子組，如果只有 40%的點落在控制限的 1/3區(qū)域）則應對下列情況的一種或更多進行調查： 控制限計算錯或描點描錯。133 重新計算控制限 初次研究，應排除有變差的子組，重新計算控制限。 圖形輸出Minitab 產生以下圖形趨勢圖，檢查觀察值是否有異常直方圖，觀察值與規(guī)范比較控制圖，檢查流程是否失控檢查數(shù)據(jù)的正態(tài)性流程能力和規(guī)范比較SPC培訓小結 ?持續(xù)改進是質量管理永恒的目標；?SPC不單是改進的工具，更是鞏固 的工具。 使用 Minitab作圖我們要對外型加工工序中 R1機器加工產品的外圍公差進行 SPC控制：流程：外型加工參數(shù)：寬度控制圖： XR樣本量： 5采樣頻率：每班一次樣本組數(shù)： 20收集數(shù)據(jù)作 圖在 Minitab輸入數(shù)據(jù)167。計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖（ P控制圖） 132 尋找并糾正特殊原因 當有任何變差時，應立即進行分析，以便識別條件并防止再發(fā)生，由于控圖發(fā)現(xiàn)的變差一般是由特殊原因引起的，希望操作者和檢驗員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因并糾正。b）一般情況，各點與均值的距離；大約 2/3的描點應落在控制限的中間 1/3的區(qū)域內，大約 1/3的點落在其外的 2/3的區(qū)域。b 低于均值的鏈或下降鏈說明存在下列情況之一或全部： 過程性能已改進。 b 低于控制限之下的點，說明存在下列情況的一種或多種： 控制限或描點時描錯。C. 按上式分別計算樣本容量為 和 n 時的點的控制限。計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖（ P控制圖）在實際運用中， 當各組容量不超過其平均容量 25%時，可用平均樣本容量 代替 n 來計算控制限 UCL；LCL。計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖（ P控制圖）12計算控制限? 中心線 式中： n1p1。 一般為 25組。P管制圖 P圖是用來測量在一批檢驗項目中不合格品（缺陷）項目的百分數(shù)。目的是更好地理解過程，使變差的普通原因可以進一步減小，其意圖是以更低的成本改進質量。單值和移動極差圖（ XMR）n 2 3 4 5 6 7 8 9 10D4 D3 * * * * * E2 樣本容量小于 7時，沒有極差的控制下限。24 移動極差圖（ MR）的刻度間隔與 X圖一致。11 移動圖的三種用法： a 單值 b 移動組 c 固定子組數(shù)據(jù)收集（基本同 XR）21 在數(shù)據(jù)圖上，從左到右記錄單值的讀數(shù)。如果在批量生產開始之前仍沒有改進，將要求對控制計劃進行更改。 Zmin也可以轉化為能力指數(shù) Cpk： 對于穩(wěn)定過程，供方在評價初始過程研究結果時，必須采用以下的接受準則：均值和極差圖（ XbarR）結果 說明指數(shù)＞ 該過程目前能滿足顧客要求。b 當子組容量變化時，（例如：減少樣本容量，增加抽樣頻率）應調整中心限和控制限。均值和極差圖（ XbarR）識別并標注所有特殊原因a 對于均值數(shù)據(jù)內每一個顯示處于失控狀態(tài)的條件進行一次過程操作分析，從而確定出特殊原因的理由，糾正該狀態(tài)，防止再發(fā)生。167。 往往認為是質量改進的結果， 在實際工作中還應注意分析， 因為除此之外還有可能是控 制圖設計中的錯誤而導致控 制界限過寬所形成。2σ以外的區(qū)域內)均值和極差圖（ XbarR）控制圖的判斷準則 （ 2）點子在控制界限內排列不隨機，設置小概率 α = ② 點子排列形成鏈狀（指點子過多地在中心線一側出現(xiàn)）設想：連續(xù) N個點子中，至少有 N個點子在中心線一側出現(xiàn)。2σ 以外的區(qū)域內） 設想：連續(xù) N個點子中，至少有 N個點子接近控制界限，其概率計算公式為： 均值和極差圖（ XbarR）控制圖的判斷準則 假設凡Ｐ ≤ ,根據(jù)公式歸納之后總結出以下判斷準則 : ■連續(xù) 3個點子中至少有 2個點子接近控制界限 (如下圖所示 )?？刂茍D的判斷準則 控制圖對過程異常的判斷準則包括點子超出界限和點子在界限內排列不隨機兩大類。 若 P＞ α ，該事件為正常事件。而對于不重要的事物，即使錯判，所造成的損失或影響并不嚴重，此時的小概率 α 的數(shù)值可以設置大一些。均值和極差圖（ XbarR）控制圖的判斷 控制圖判斷的理論基礎（續(xù)） 在統(tǒng)計技術應用中，首先應設置小概率，實際是允許判斷錯誤的概率，所以又稱小概率 α 為風險度或顯著水平。 所謂小概率事件原理又稱為小概率事件不發(fā)生原理。3 過程控制分析 分析控制圖的目的在于識別過程變化或過程均值不恒定的證據(jù)，即其中之一或兩者均不受控，進而采取適當?shù)拇胧?。在這種情況下沒有下控制限，這意味著對于一個樣本數(shù)為 6的子組， 6個 “同樣的 ”測量結果是可能成立的。 52 確保所畫的 和 R點在縱向是對應的。42 刻度選擇：均值和極差圖（ XbarR）1選擇控制圖的刻度 41 兩個控制圖的縱坐標分別用于 和 R的測量值。對正在生產的產品進行監(jiān)測的子組頻率可以是每班2次，或一小時一次等。 注： 應制定一個收集數(shù)據(jù)的計劃，將其作為收集、記錄及描圖的依據(jù)。 確定樣本量，采樣頻率和樣本組數(shù)樣本量的確定：考慮時間和工作量的影響出于統(tǒng)計學的考慮 (中心極限定理 )， 樣本量 n≥4， 一般取 n=5對于類似于液體濃度的參數(shù)， n=1采樣頻率的確定：同一組內的各點之間的時間間隔應足夠小以降低特殊原因對組內的影響組間的時間間隔安排能使控制圖最大機會捕捉到特殊原因。 板面電鍍工序中，藥水濃度是影響電鍍質量的關鍵因數(shù)。使不必要的變差最小 ● 確保過程按預定的方式運行 ● 確保輸入的材料符合要求 ● 恒定的控制設定值 注： 應在過程記錄表上記錄所有的相關事件，如：刀具更新，新的材料批次等，有利于下一步的過程分析。 使用控制圖的準備 建立適合于實施的環(huán)境 ● 排除阻礙人員公正的因素 ● 提供相應的資源 ● 管理者支持定義過程 根據(jù)加工過程和上下使用者之間的關系，分析每個階段的影響因素。 2. 量化的值（例如： “直徑為 ”）比簡單的是 /否陳述（例如： “直徑符合規(guī)范 ”）包含的信息更多； 3. 雖然獲得一個測量的數(shù)據(jù)比獲得一個通過或不通過的數(shù)據(jù)成本高，但為了獲得更多的有關過程的信息而需要檢查的件數(shù)卻較少，因此，在某些情況下測量的費用更低； 4. 由于在作出可靠的決定之前，只需檢查少量產品，因此可以縮短零件生產和采取糾正措施之間的時間間隔； 5. 用計量型數(shù)據(jù)可以分析一個過程的性能，可以量化所作的改進，即使每個單值都在規(guī)范限界之內。 ■例如：軸承的直徑、關門所用的力，或審查一張收據(jù)所用的時間等。統(tǒng)計過程控制（ SPC） 注意事項！公差界限與控制界限不同統(tǒng)計過程控制（ SPC） 注意事項！■強調過程穩(wěn)定受控，是穩(wěn)定在典型分布上。 同一產品由不同廠家生產時，其公差界限應該是相同的（執(zhí)行同樣的質量標準）。統(tǒng)計過程控制（ SPC） 注意事項?。?1）控制圖中的控制界限與公差界限是完全不同的兩種概念，切不可混為一談。■控制圖中點子分布狀況所出現(xiàn)的趨勢、鏈狀、超界等，就表明過程中已出現(xiàn)異?；虍惓Ｚ厔?，給生產者和管理者發(fā)出過程異常的警報。UCLCLLCL趨勢超界鏈狀正常 異常 正常統(tǒng)計過程控制（ SPC）■如果過程受到異常因素的作用，典型的分布就會遭到破壞。哈休特認為，只要過程中的任何變化都能夠在控制圖中反映出來，控制圖就能夠對過程實施有效的控制。%%%m m+s m+2s m+3smsm2sm3s167?？刂茍D的縱坐標就是正態(tài)分布的橫坐標， 表示被控制的質量特性值或其分布的特征值。 流程性能指數(shù) :Pp和 Ppk 當流程不穩(wěn)定或長期中流程