【正文】 附近時(shí)，過(guò)程異常。 控制圖反映過(guò)程異常，應(yīng)注意有壞的異常，還有可能出現(xiàn)好的異常。167。重新計(jì)算控制限 在進(jìn)行首次過(guò)程研究或重新評(píng)定過(guò)程能力時(shí)，要排除已發(fā)現(xiàn)并解決了的特殊原因的任何失控點(diǎn)，然后重新計(jì)算并描畫(huà)控制限，使所有點(diǎn)均處于受控狀態(tài)。均值和極差圖（ XbarR） 過(guò)程能力分析均值和極差圖（ XbarR）41 計(jì)算過(guò)程的標(biāo)準(zhǔn)偏差 σ ? σ ? = /d2 是子組極差的平均值， d2是隨樣本容量變化的常數(shù)注： 只有過(guò)程的極差和均值兩者都處于受控狀態(tài)，則可用估計(jì) 的過(guò)程標(biāo)準(zhǔn)偏差來(lái)評(píng)價(jià)過(guò)程能力?！苤笖?shù) ≤ 該過(guò)程目前可被接受，但是可能會(huì)要求進(jìn)行一些改進(jìn)。與適當(dāng)?shù)念櫩痛砣〉寐?lián)系，對(duì)研究結(jié)果進(jìn)行評(píng)審。23 單值圖（ X）圖的刻度按下列最大者選?。? a 產(chǎn)品規(guī)范容差加上允許的超出規(guī)范的讀數(shù)。見(jiàn)下表： 過(guò)程控制解釋?zhuān)ㄍ渌?jì)量型管制圖） 過(guò)程能力解釋 式中： R為移動(dòng)極差的均值， d2是隨樣本容量變化的常數(shù)。為此要使用額外的過(guò)程分析工具，包括更先進(jìn)的統(tǒng)計(jì)方法。由于進(jìn)行某些改變，應(yīng)重新確定過(guò)程穩(wěn)定性。 分組頻率： 根據(jù)實(shí)際情況，兼大容量和信息反饋快的要求。114 將不合格品率描繪在控制圖上 a 描點(diǎn)，連成線來(lái)發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢(shì)。 nk為每個(gè)子組的檢驗(yàn)總數(shù)? 上控制限? 下控制限注：從上述公式看出，凡是各組容量不一樣，控制限隨之變化。25% 的樣本容量范圍。1311 超出控制限的點(diǎn) a 超出極差上控制限的點(diǎn)通常說(shuō)明存在下列情況中的一種或幾種： 控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) 測(cè)量系統(tǒng)變化（如：不同的檢驗(yàn)員或量具）。計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖（ P控制圖） 1311 鏈a 出現(xiàn)高于均值的長(zhǎng)鏈或上升鏈（ 7點(diǎn)），通常表明存在下列情況之一或兩者： 測(cè)量系統(tǒng)的改變（如新的檢驗(yàn)人或新的量具）。注：當(dāng) np很小時(shí)（ 5以下），出現(xiàn)低于 P的鏈的可能性增加，因此有必要用長(zhǎng)度為 8點(diǎn)或更多的點(diǎn)的長(zhǎng)鏈作為不合格品率降低的標(biāo)志。 數(shù)據(jù)已經(jīng)過(guò)編輯（明顯偏離均值的值已被調(diào)換或刪除）d）如果顯著少余 2/3以上的描點(diǎn)落在離均值很近之處（對(duì)于 25子組，如果只有 40%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域）則應(yīng)對(duì)下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： 控制限計(jì)算錯(cuò)或描點(diǎn)描錯(cuò)。133 重新計(jì)算控制限 初次研究，應(yīng)排除有變差的子組，重新計(jì)算控制限。 圖形輸出Minitab 產(chǎn)生以下圖形趨勢(shì)圖，檢查觀察值是否有異常直方圖，觀察值與規(guī)范比較控制圖，檢查流程是否失控檢查數(shù)據(jù)的正態(tài)性流程能力和規(guī)范比較SPC培訓(xùn)小結(jié) ?持續(xù)改進(jìn)是質(zhì)量管理永恒的目標(biāo)；?SPC不單是改進(jìn)的工具，更是鞏固 的工具。 使用 Minitab作圖我們要對(duì)外型加工工序中 R1機(jī)器加工產(chǎn)品的外圍公差進(jìn)行 SPC控制：流程：外型加工參數(shù)：寬度控制圖： XR樣本量： 5采樣頻率：每班一次樣本組數(shù)： 20收集數(shù)據(jù)作 圖在 Minitab輸入數(shù)據(jù)167。計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖（ P控制圖） 132 尋找并糾正特殊原因 當(dāng)有任何變差時(shí)，應(yīng)立即進(jìn)行分析，以便識(shí)別條件并防止再發(fā)生，由于控圖發(fā)現(xiàn)的變差一般是由特殊原因引起的，希望操作者和檢驗(yàn)員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因并糾正。b）一般情況，各點(diǎn)與均值的距離；大約 2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制限的中間 1/3的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點(diǎn)落在其外的 2/3的區(qū)域。b 低于均值的鏈或下降鏈說(shuō)明存在下列情況之一或全部： 過(guò)程性能已改進(jìn)。 b 低于控制限之下的點(diǎn)，說(shuō)明存在下列情況的一種或多種： 控制限或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò)。C. 按上式分別計(jì)算樣本容量為 和 n 時(shí)的點(diǎn)的控制限。計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖（ P控制圖）在實(shí)際運(yùn)用中， 當(dāng)各組容量不超過(guò)其平均容量 25%時(shí)，可用平均樣本容量 代替 n 來(lái)計(jì)算控制限 UCL；LCL。計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖（ P控制圖）12計(jì)算控制限? 中心線 式中： n1p1。 一般為 25組。P管制圖 P圖是用來(lái)測(cè)量在一批檢驗(yàn)項(xiàng)目中不合格品（缺陷）項(xiàng)目的百分?jǐn)?shù)。目的是更好地理解過(guò)程，使變差的普通原因可以進(jìn)一步減小，其意圖是以更低的成本改進(jìn)質(zhì)量。單值和移動(dòng)極差圖（ XMR）n 2 3 4 5 6 7 8 9 10D4 D3 * * * * * E2 樣本容量小于 7時(shí)，沒(méi)有極差的控制下限。24 移動(dòng)極差圖（ MR）的刻度間隔與 X圖一致。11 移動(dòng)圖的三種用法： a 單值 b 移動(dòng)組 c 固定子組數(shù)據(jù)收集（基本同 XR）21 在數(shù)據(jù)圖上，從左到右記錄單值的讀數(shù)。如果在批量生產(chǎn)開(kāi)始之前仍沒(méi)有改進(jìn)，將要求對(duì)控制計(jì)劃進(jìn)行更改。 Zmin也可以轉(zhuǎn)化為能力指數(shù) Cpk： 對(duì)于穩(wěn)定過(guò)程，供方在評(píng)價(jià)初始過(guò)程研究結(jié)果時(shí)，必須采用以下的接受準(zhǔn)則：均值和極差圖（ XbarR）結(jié)果 說(shuō)明指數(shù)＞ 該過(guò)程目前能滿(mǎn)足顧客要求。b 當(dāng)子組容量變化時(shí)，（例如：減少樣本容量，增加抽樣頻率）應(yīng)調(diào)整中心限和控制限。均值和極差圖（ XbarR）識(shí)別并標(biāo)注所有特殊原因a 對(duì)于均值數(shù)據(jù)內(nèi)每一個(gè)顯示處于失控狀態(tài)的條件進(jìn)行一次過(guò)程操作分析，從而確定出特殊原因的理由，糾正該狀態(tài)，防止再發(fā)生。167。 往往認(rèn)為是質(zhì)量改進(jìn)的結(jié)果， 在實(shí)際工作中還應(yīng)注意分析， 因?yàn)槌酥膺€有可能是控 制圖設(shè)計(jì)中的錯(cuò)誤而導(dǎo)致控 制界限過(guò)寬所形成。2σ以外的區(qū)域內(nèi))均值和極差圖（ XbarR）控制圖的判斷準(zhǔn)則 （ 2）點(diǎn)子在控制界限內(nèi)排列不隨機(jī)，設(shè)置小概率 α = ② 點(diǎn)子排列形成鏈狀（指點(diǎn)子過(guò)多地在中心線一側(cè)出現(xiàn)）設(shè)想：連續(xù) N個(gè)點(diǎn)子中，至少有 N個(gè)點(diǎn)子在中心線一側(cè)出現(xiàn)。2σ 以外的區(qū)域內(nèi)） 設(shè)想：連續(xù) N個(gè)點(diǎn)子中，至少有 N個(gè)點(diǎn)子接近控制界限，其概率計(jì)算公式為： 均值和極差圖（ XbarR）控制圖的判斷準(zhǔn)則 假設(shè)凡Ｐ ≤ ,根據(jù)公式歸納之后總結(jié)出以下判斷準(zhǔn)則 : ■連續(xù) 3個(gè)點(diǎn)子中至少有 2個(gè)點(diǎn)子接近控制界限 (如下圖所示 )。控制圖的判斷準(zhǔn)則 控制圖對(duì)過(guò)程異常的判斷準(zhǔn)則包括點(diǎn)子超出界限和點(diǎn)子在界限內(nèi)排列不隨機(jī)兩大類(lèi)。 若 P＞ α ，該事件為正常事件。而對(duì)于不重要的事物，即使錯(cuò)判，所造成的損失或影響并不嚴(yán)重，此時(shí)的小概率 α 的數(shù)值可以設(shè)置大一些。均值和極差圖（ XbarR）控制圖的判斷 控制圖判斷的理論基礎(chǔ)（續(xù)） 在統(tǒng)計(jì)技術(shù)應(yīng)用中，首先應(yīng)設(shè)置小概率，實(shí)際是允許判斷錯(cuò)誤的概率，所以又稱(chēng)小概率 α 為風(fēng)險(xiǎn)度或顯著水平。 所謂小概率事件原理又稱(chēng)為小概率事件不發(fā)生原理。3 過(guò)程控制分析 分析控制圖的目的在于識(shí)別過(guò)程變化或過(guò)程均值不恒定的證據(jù)，即其中之一或兩者均不受控，進(jìn)而采取適當(dāng)?shù)拇胧?。在這種情況下沒(méi)有下控制限，這意味著對(duì)于一個(gè)樣本數(shù)為 6的子組， 6個(gè) “同樣的 ”測(cè)量結(jié)果是可能成立的。 52 確保所畫(huà)的 和 R點(diǎn)在縱向是對(duì)應(yīng)的。42 刻度選擇：均值和極差圖（ XbarR）1選擇控制圖的刻度 41 兩個(gè)控制圖的縱坐標(biāo)分別用于 和 R的測(cè)量值。對(duì)正在生產(chǎn)的產(chǎn)品進(jìn)行監(jiān)測(cè)的子組頻率可以是每班2次，或一小時(shí)一次等。 注： 應(yīng)制定一個(gè)收集數(shù)據(jù)的計(jì)劃，將其作為收集、記錄及描圖的依據(jù)。 確定樣本量，采樣頻率和樣本組數(shù)樣本量的確定：考慮時(shí)間和工作量的影響出于統(tǒng)計(jì)學(xué)的考慮 (中心極限定理 )， 樣本量 n≥4， 一般取 n=5對(duì)于類(lèi)似于液體濃度的參數(shù)， n=1采樣頻率的確定：同一組內(nèi)的各點(diǎn)之間的時(shí)間間隔應(yīng)足夠小以降低特殊原因?qū)M內(nèi)的影響組間的時(shí)間間隔安排能使控制圖最大機(jī)會(huì)捕捉到特殊原因。 板面電鍍工序中，藥水濃度是影響電鍍質(zhì)量的關(guān)鍵因數(shù)。使不必要的變差最小 ● 確保過(guò)程按預(yù)定的方式運(yùn)行 ● 確保輸入的材料符合要求 ● 恒定的控制設(shè)定值 注： 應(yīng)在過(guò)程記錄表上記錄所有的相關(guān)事件，如：刀具更新，新的材料批次等，有利于下一步的過(guò)程分析。 使用控制圖的準(zhǔn)備 建立適合于實(shí)施的環(huán)境 ● 排除阻礙人員公正的因素 ● 提供相應(yīng)的資源 ● 管理者支持定義過(guò)程 根據(jù)加工過(guò)程和上下使用者之間的關(guān)系，分析每個(gè)階段的影響因素。 2. 量化的值（例如： “直徑為 ”）比簡(jiǎn)單的是 /否陳述（例如： “直徑符合規(guī)范 ”）包含的信息更多； 3. 雖然獲得一個(gè)測(cè)量的數(shù)據(jù)比獲得一個(gè)通過(guò)或不通過(guò)的數(shù)據(jù)成本高，但為了獲得更多的有關(guān)過(guò)程的信息而需要檢查的件數(shù)卻較少，因此，在某些情況下測(cè)量的費(fèi)用更低； 4. 由于在作出可靠的決定之前，只需檢查少量產(chǎn)品，因此可以縮短零件生產(chǎn)和采取糾正措施之間的時(shí)間間隔； 5. 用計(jì)量型數(shù)據(jù)可以分析一個(gè)過(guò)程的性能，可以量化所作的改進(jìn)，即使每個(gè)單值都在規(guī)范限界之內(nèi)。 ■例如：軸承的直徑、關(guān)門(mén)所用的力，或?qū)彶橐粡埵論?jù)所用的時(shí)間等。統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制（ SPC） 注意事項(xiàng)！公差界限與控制界限不同統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制（ SPC） 注意事項(xiàng)！■強(qiáng)調(diào)過(guò)程穩(wěn)定受控，是穩(wěn)定在典型分布上。 同一產(chǎn)品由不同廠家生產(chǎn)時(shí)，其公差界限應(yīng)該是相同的（執(zhí)行同樣的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)）。統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制（ SPC） 注意事項(xiàng)！（ 1）控制圖中的控制界限與公差界限是完全不同的兩種概念，切不可混為一談?！隹刂茍D中點(diǎn)子分布狀況所出現(xiàn)的趨勢(shì)、鏈狀、超界等，就表明過(guò)程中已出現(xiàn)異?；虍惓Ｚ厔?shì)，給生產(chǎn)者和管理者發(fā)出過(guò)程異常的警報(bào)。UCLCLLCL趨勢(shì)超界鏈狀正常 異常 正常統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制（ SPC）■如果過(guò)程受到異常因素的作用，典型的分布就會(huì)遭到破壞。哈休特認(rèn)為，只要過(guò)程中的任何變化都能夠在控制圖中反映出來(lái)，控制圖就能夠?qū)^(guò)程實(shí)施有效的控制。%%%m m+s m+2s m+3smsm2sm3s167。控制圖的縱坐標(biāo)就是正態(tài)分布的橫坐標(biāo)， 表示被控制的質(zhì)量特性值或其分布的特征值。 流程性能指數(shù) :Pp和 Ppk 當(dāng)流程不穩(wěn)定或長(zhǎng)期中流程