元器件鑒定檢驗(yàn)工作程序和常用可靠性試驗(yàn)方法-v6see(文件)
【正文】 、電特性退化，甚至芯片脫落引起器件開路。 失效分析： 我所主要產(chǎn)品的本試驗(yàn)失效的器件多為金絲頸縮點(diǎn)、引線損傷導(dǎo)致的不達(dá)標(biāo)或通電熔斷，可采取引線斷面顯微鏡觀察確定是機(jī)械損傷（斷面凸凹不平）或電燒熔（斷面為球面）來(lái)進(jìn)行失效分析。） 掃頻振動(dòng)試驗(yàn)： 尋找被考核器件的各階固有頻率（也是共振頻率）及在這個(gè)頻率段的 耐振能力。在篩選檢測(cè)中，不合格必須剔除。 ? 所需設(shè)備： 沖擊振動(dòng)臺(tái)（提供 500g－ 30000g的沖擊脈沖） ? 合格判據(jù)： 外殼，引線的損壞，標(biāo)記的模糊或者其他附加的參數(shù)測(cè)試 機(jī)械振 動(dòng)試驗(yàn) 振動(dòng)疲勞試驗(yàn)： 檢查器件管殼、引線焊接、管芯鍵合、襯底等是否符合規(guī)定要求。 ? 所需設(shè)備： 離心機(jī) ? 合格判據(jù)： 器件無(wú)損壞，標(biāo)識(shí)清楚，其他參數(shù)測(cè)試 機(jī)械沖擊： ? 目的： 檢查在規(guī)定的沖擊條件下受到機(jī)械沖擊時(shí)的適應(yīng)性或評(píng)定其結(jié)構(gòu)的牢靠性。 ? ⑤比對(duì)試驗(yàn)前后器件的相關(guān)電性能參數(shù)值，若值差超過(guò)允值為失效。 輻照試驗(yàn)： 試驗(yàn)程序和方法： ? ①按規(guī)范要求，選定輻照類型、劑量或劑量率及輻照時(shí)間。試驗(yàn)方案要依據(jù)不同的產(chǎn)品和不同的試驗(yàn)?zāi)康?，選擇輻照的總劑量或劑量率及輻照時(shí)間，否則由于輻照過(guò)低或過(guò)量而得不到尋求的閾值或損壞樣品。 ? 所需設(shè)備： 溫濕箱 ? 試驗(yàn)程序 ? 干燥－升溫－保持－降溫－升溫－保持－降溫 循環(huán) 10次 低溫子循環(huán) (至少 5次） 耐 濕 ? 濕度控制： 80％－ 100％ ? 試驗(yàn)時(shí)間： 10天左右 ? 失效判據(jù)： 標(biāo)志脫落、褪色、模糊 鍍層腐蝕或封裝零件腐蝕透 引線脫落，折斷或局部分離 因腐蝕導(dǎo)致的引線之間或引線與外殼搭接 輻照試驗(yàn)： 射線對(duì)物質(zhì)的最基本作用是電離作用，電離作用與物質(zhì)從射線吸收的能量有關(guān)對(duì)于定量的射線，物質(zhì)質(zhì)量越小，吸收越密集，影響越大。 注意： 必須在規(guī)定的沖擊溫度上下限溫度點(diǎn)進(jìn)行規(guī)定的沖擊次 數(shù)，屬于非破壞性的檢測(cè)，篩選時(shí)為 100％檢驗(yàn)，質(zhì)量一 致性檢測(cè)時(shí)也可抽樣檢測(cè)。 溫 度 試驗(yàn) 目的： 測(cè)定器件承受極端高溫和極端低溫的能力，以及極端高低溫變化對(duì)器件的影響 所需設(shè)備： 高低溫實(shí)驗(yàn)箱 實(shí)驗(yàn)方法： 兩箱法 單箱法 溫度循環(huán) 溫 度 試驗(yàn) 計(jì)時(shí)： 轉(zhuǎn)換時(shí)間 （ ≤ 1min) 樣品從一個(gè)極端溫度轉(zhuǎn)移到另一個(gè)極端溫度所經(jīng)歷的時(shí)間 保持時(shí)間 （ ≥ 10min) 樣品到達(dá)極端溫度（ ＜ 15min)后 停留的時(shí)間 循環(huán)次數(shù)： 大于 10次 中斷處理： 由于電源或設(shè)備故障，允許中斷試驗(yàn)，但是如果中斷次數(shù) 超過(guò)規(guī)定的循環(huán)總次數(shù)的 10％時(shí)，必須重新開始。 檢驗(yàn)記錄 二、常用可靠性試驗(yàn)方法介紹 常用 參 考 標(biāo) 準(zhǔn) ? 總規(guī) 范： ? GJB597A－ 96 半 導(dǎo) 體集成 電 路 總規(guī) 范 ? GJB33A－ 97 半 導(dǎo) 體分立器件 總規(guī) 范 ? SJ2064297 半 導(dǎo) 體光 電 模 塊總規(guī) 范 ? 實(shí)驗(yàn) 方法 ? GJB128A97 半 導(dǎo) 體分立器件 試驗(yàn) 方法 ? GJB548B－ 2023 微 電 子 試驗(yàn) 方法和程序
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