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【正文】 tab作 C圖分析 按下圖所示進(jìn)行選擇，然后點(diǎn)擊 OK29利用 Minitab作 C圖分析30單位產(chǎn)品不合格數(shù)的 u圖u圖用來測(cè)量每檢驗(yàn)單位產(chǎn)品之內(nèi)的不合格數(shù)量，不同時(shí)期子組內(nèi)的樣本容量可以有不同 (受檢材料的量不同 )。25%內(nèi)216。SPC38UCLLCLCCBAAB控制圖異常判讀控制圖異常判讀One point above UCL 一點(diǎn)在控制上限之上Two out of three successive point here or above連續(xù) 3點(diǎn)中其中 2點(diǎn)在此或以上區(qū)域Four out of five successive point here or above連續(xù) 5點(diǎn)中其中 4點(diǎn)在此或以上區(qū)域Seven out of eight successive point here or above連續(xù) 8點(diǎn)中其中 7點(diǎn)在此或以上區(qū)域One point above LCL 一點(diǎn)在控制上限之下Two out of three successive point here or bellow連續(xù) 3點(diǎn)中其中 2點(diǎn)在此或以下區(qū)域Four out of five successive point here or bellow連續(xù) 5點(diǎn)中其中 4點(diǎn)在此或以下區(qū)域Seven out of eight successive point here or bellow連續(xù) 8點(diǎn)中其中 7點(diǎn)在此或以下區(qū)域3s2s1s3s2s1s%%%%%%%%39TestmorecenterNinerowsidelineSixrowallFourteenrowdown檢驗(yàn) 行交替上升和下降 5.three2σ(sameFourpointscenter連續(xù)排列的五個(gè)點(diǎn)中有四個(gè)距離中心線超過 Fifteenrowline8.a1σfromside)ForProcesses考察失控過程時(shí)考察失控過程時(shí) 常見原因常見原因q Isinthedifferentmethods?不同操作者是否采用不同的方法 ?q Isbyhumidity)?過程是否受環(huán)境 (如溫度 ,濕度 )的影響 ?q IschangeForProcesses考察失控過程時(shí)考察失控過程時(shí) 常見原因常見原因q IsbywithoutthechangeofaffectedReasonsControlchangemaintenance?設(shè)備 保養(yǎng)程序中是否有變化 ?q Isfrequently?是否經(jīng)常調(diào)節(jié)機(jī)器 ?q Areequipment,不同輪班時(shí)間和不同操作者 ?q IswillingbadreportoperatororfromequipmentthethereOutoperatorthethethereinvolvedwear?過程是否受工具磨損的影響 ?q AreprocessOfenvironment?環(huán)境是否有重大改變 ?44Commonaenvironment(.processusingequipmentprecisionaOf在中心線兩側(cè)連續(xù)排列的八個(gè)點(diǎn)距離中心線超過 1σ(任一側(cè) )xxUCLLCL3σ3σ2σ1σ1σ2σUCLLCL3σ3σ2σ1σ1σ2σ控制圖異常判讀控制圖異常判讀
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