【正文】 　 子樣的標(biāo)準(zhǔn)偏差。PU有 當(dāng)分布中心 μ與公差中心 Mε ____平均值的偏離量（簡稱偏離量或偏移量）；μ____因為正態(tài)分布的對稱性，所以稱 Pp值（僅用來與 CP及 CPK對比，并測量和確定隨時間改進(jìn)的優(yōu)先順序）。 這說明一般精度的活用了特別精密的設(shè)備和工藝加工，這勢必影響生產(chǎn)效率，降低設(shè)備壽命，提高產(chǎn)品成本。理程序》、《 SPC管理實施基準(zhǔn)》進(jìn)行；制方法使用指導(dǎo)書》、《 CP/CPK數(shù)據(jù)收集及計算指導(dǎo)計量值數(shù)據(jù)是可以連續(xù)取值的數(shù)的據(jù)，通常是使用量具、儀器、儀表進(jìn)行測量而取得的。計數(shù)值數(shù)據(jù)是不能連續(xù)取值，只能以個數(shù)計算的數(shù)據(jù)。當(dāng)分子是計量數(shù)據(jù)時，則求得的百分率數(shù)據(jù)為計量數(shù)據(jù)。它是表示數(shù)據(jù)集中位置最常用的特征數(shù)之一，它說明隨機變量的平均水平如何。其中 X1為最小值， Xn為最大值，則中位數(shù)為：① 當(dāng) n為奇數(shù)時，則取順序排列的中間數(shù)；② 當(dāng) n為偶數(shù)時，則取中間兩個數(shù)的平均數(shù)。式中 標(biāo)準(zhǔn)偏差又稱標(biāo)準(zhǔn)差或均方差，用符號 S表示，其計算公式為：所謂直方圖，就是將數(shù)據(jù)按其順序分成若干間隔相等的組，以組距為底邊，以落入各組的頻數(shù)為高的若干長方形排列的圖。② . 表 110收集數(shù)據(jù)。表中的數(shù)據(jù)表示短軸外徑尺寸，其標(biāo)準(zhǔn)為 177。S=。K值可以從表 111選取，本例取 K=10組。h=（ LS） /K對于本例， h=本例測定單位 =，組距 h=。第一組的下界值加上組距，作為每一組的上界值。x1=測定單位22某組上界值 +某組下界值2（ 7）統(tǒng)計頻數(shù)（即落在各組的數(shù)據(jù)個數(shù)）。（ 11）統(tǒng)計頻數(shù)與變換值組中值平方的乘積 f1u12，記入 f1u12欄內(nèi)，各組組中值 x1x0h表 112（ 12）計算平均值。） =表 114是直方圖分布與公差界限的比較。如 N＜ 50，就會造成誤差大，且可信度低。沒有針對樣本容量大小選擇合適的組數(shù)，結(jié)果影響對分布狀態(tài)的判斷 .組距選擇不當(dāng)，沒有取奇數(shù)或不是測量單位的整數(shù)倍，將會出現(xiàn)騎墻現(xiàn)象。把不同條件下取得的樣本混在一起，造成分布狀態(tài)有異，判斷有誤。⑤ 直方 圖類 型 分析與判斷正常型。偏向型有偏左和偏右之分。由剔除了不合格品后的數(shù)據(jù)所作的直方 圖 也呈偏向型。直方圖的形狀分析與判斷(a)正常型(b)偏向型 (左 ) (c)偏向型 (右 )直方 圖類 型 分析與判斷雙峰型。平 頂 型。在直方 圖 的左 邊 或右 邊 出 現(xiàn) 孤立的 長 方形。直方 圖 的分布中心（ x）和 規(guī) 格中心 (TM)近似重合，直方 圖 的分布在公差范 圍 內(nèi)且兩 邊有些余量。直方 圖 的分布在公差范 圍 內(nèi)，但分布中心（x）和 規(guī) 格中心 TM有 較 大偏移。直方 圖 的分布在公差范 圍 內(nèi)，兩 邊 均沒有余地。xTM(d)如分布中心 x偏右（左）， 應(yīng)設(shè) 法使分布中心調(diào) 整，近似與 規(guī) 格中心重合。 這 種情況表明 雖 然不會出 現(xiàn) 不合格品，但很不 經(jīng)濟(jì) ，屬于 過 剩 質(zhì) 量，除特殊精密、主要的零件外，一般 應(yīng) 適當(dāng)放 寬 材料、工具與 設(shè)備 的精度要求，或放 寬檢驗頻 次以降低 鑒 定成本。x(f)x(g)TMTMTL T TuTL TuTMTL T Tu能力富裕型。雖 然數(shù)據(jù)分散程度可能比公差范 圍 幅度小，但直方 圖 的分布已超 過 公差范 圍 。TMTM表 114因此， 應(yīng) 分析原因，采取措施，使分布中心 x與公差中心 TM近似重合。根據(jù)概率 計 算，公差范 圍 T大 約等于數(shù)據(jù)偏差 S的 8倍， 這 是最理想的情況。如原材料一 時 的 變 化，刀具嚴(yán) 重的磨 損 ，或混入了不同 規(guī) 格的 產(chǎn) 品等。如刀具的磨 損 ，操作者的疲 勞 等。鋸齒 型（包括掉 齒 型）。也有的是由于加工 習(xí)慣 造而造成的。中部有一 頂 峰，左右兩 邊 低且近似 對 稱，這時 判定工序 處 于 穩(wěn) 定狀 態(tài) 。隨機抽取的樣本混在一起。組數(shù)和組距確定不當(dāng)。隨機抽樣的樣本容量過小。當(dāng)出現(xiàn)異常情況時，應(yīng)立即采取措施，預(yù)防不格合品的產(chǎn)生 .② 表 113說明了直方圖的形狀分析與判斷方法。直方圖的形狀分析圖的下方注明圖名、繪圖者、日期等可供參考事項。直方圖的縱坐標(biāo)表示頻數(shù)，橫坐標(biāo)標(biāo)明分組的各組組界。S==x=+（ 9）計算各組的組中值及變換組中值 u1。最后一組應(yīng)包含數(shù)據(jù)的最大值 L。；對本例， Xmtn=組距 h要取奇數(shù)。=為避免分組出現(xiàn)騎墻現(xiàn)象 ,組距的確定要注意兩點 :① （ 4）確定組距 h。短袖外徑數(shù)據(jù)表 (mm)某工廠加工短袖，其外徑尺寸為 177?！?x1x)2ni=1n1案例： 15 直方圖的畫法④ ③ 直觀地看出產(chǎn)品質(zhì)量性值的分布狀態(tài)，便于掌握產(chǎn)品質(zhì)量分布其計算公式為： R=LS（ 1）極差 R。將一組數(shù)據(jù)按從小到大順序排列，位于中間位置的數(shù)叫中位數(shù)，常用符號表示。如不合格品率為計數(shù)數(shù)據(jù)。計數(shù)值數(shù)據(jù)還可以細(xì)分為計件值數(shù)據(jù)和計點值數(shù)據(jù)，計件值數(shù)據(jù)是按件記數(shù)的，如不合格件數(shù)。計數(shù)值數(shù)據(jù)：八、直方圖 (histogram)一、數(shù)據(jù)的分類：計量值數(shù)據(jù)：統(tǒng)計技術(shù)的教育可依據(jù)《 SPC教育訓(xùn)練基準(zhǔn)》進(jìn)行；注： 材料質(zhì)量及提高其適用性，使工藝能力得到一步提高。度，并使工藝更為合理有效，進(jìn)一步提高操作技術(shù)與質(zhì)量意識，改進(jìn)原這時，就要分析原制訂計劃，采取措施，努力提高設(shè)備精工序能力大小應(yīng)當(dāng)根據(jù)具體情況加以確定。⑷ 的最小或 ⑶ PpK＝ 求得 K值后，可用 K值去修正 CP值，修正后的工序能力指數(shù)為 CPK。其中 ε＝｜ M－ μ|公式中 ＝ 來評價工序能力，其計算公式為：這時用一個考慮了偏離量的新的工序能力指數(shù) 超上差的不合格品率圖 13 圖 14σ 數(shù) Cp等于技術(shù)要求 T和工序能力 B的比值，即是工序能力指數(shù)（或稱工序能力系數(shù)）。g、標(biāo)注有關(guān)事宜，如日期、班組、制作人等（本例省略）h、判斷控制圖有無異常。=%+3UCL=P－ 3本 例： +3CL=P240=nmax＜ 2nn=2241=482， n為宜。和 nmin＞ 不合格品率控制圖主要用于判斷生產(chǎn)過程中不合格率是否處注意：控制用控制圖的控制線來自分析用控制圖，不必隨時計算。 k、 打上點記號：在控制界限內(nèi)的點以 g、計算每組極差 R。 c、對數(shù)據(jù)加以分組，把 2－ 6個數(shù)據(jù)分為一組。－ A2 R圖 每組平均值 X圖 一組測量數(shù)據(jù) 5， 2， 10， 7， 4有 5個。R主要控制各組內(nèi)（同一組樣品）的范圍變化過程控制圖的目的不是追求 “完美 ”，而是保持合理、經(jīng)濟(jì)的控制狀態(tài) X－ R圖（平均數(shù)極差控制圖） 控制限有可能用作過程控制用。措施，均要重新進(jìn)行試驗。修正數(shù)據(jù)或重新采集數(shù)據(jù)：●分辨率、偏倚、穩(wěn)定性、