生產(chǎn)測井資料的解釋及應用(文件)
【正文】 中子壽命就越短。 中子壽命測井 ?/TNoeN ??式中 N0開始衰減時的熱中子密度； N經(jīng)過時間 T的熱中子密度； τ 巖石的熱中子壽命 μs。沿井身測量則會得到 τ 或 Σ 的測井曲線。 中子壽命測井 求含水飽和度（ Sw） 在地層孔隙度比較大，且地層水礦化度比較高的情況下，可以由中子壽命測井的宏觀俘獲截面 Σ求含水飽和度 Sw。 中子壽命測井 含泥質地層用下式求含水飽和度 Sw 式中 Vsh、 Σsh分別為泥質的體積百分含量和泥質的宏觀俘獲截面 中子壽命測井 ? ?? ? ? ?????)()()(hwmahma??? ?? ???)()(hwmashshV?Sw= — 選井的條件 ①中子壽命測井應用的優(yōu)越條件可認為地層水總礦化度在 15萬 PPm、孔隙度在 15%以上，即總礦化度與孔隙乘積大于 ，可單獨使用資料進行含水飽和度解釋。 中子壽命測井 謝謝大家！ 演講完畢，謝謝觀看！ 。其地質條件要求目的層厚度在 140m，孔隙度大于 11%，滲透率在 50 101μm 2以上。 ΣW— 地層水宏觀俘獲截面 ， 知道地層水的溫度與所含鹽的成份和濃度 ， 可以查圖版或計算求得； Σh— 油、氣的宏觀俘獲截面，可查圖版求得。 中子壽命測井 觀察油水和氣水界面的變化 油層在采油過程中含水飽和度不斷變化，油水界面向上移動。 中子壽命測井 在兩次發(fā)射脈沖中子之間，在俘獲伽瑪射線強度隨時間按指數(shù)規(guī)律衰減的時間范圍內，選取兩個適當?shù)难舆t時間 T1和 T2。 中子壽命測井 快中子變成為熱中子以后，熱中子開始向周圍擴散。 中子壽命測井 在沉積巖石中，除硼之外，氯核素的微觀俘獲截面比其它核素的大得多。 第五節(jié) 中子壽命測井 中子壽命測井也叫熱中子衰減時間測井（ TDT），它是通過測量熱中子在地層中的壽命，研究地層對熱中子的俘獲性質，從而認識地層的一種中子測井方法。如 6517井。 根據(jù) C/O，可確定 So。 C/O測井 非彈性散射伽瑪能譜測井，根據(jù)不同核反應的時間分布，按照時間先后儀器開有脈沖門，俘獲門等測量門，分別接收非彈性散射伽瑪射線和俘獲伽瑪射線。 C/O測井 由于快中子與地層中不同核素發(fā)生非彈性散射放出具有不同特征能量的伽瑪射線 ， 例如硅 （ Si） 、 鈣 （ Ca） ，碳 （ C） 、 氧 （ O） 的非彈性散射伽瑪射線能量分別為 、 、 。 用渦輪產(chǎn)量計可達到此目的 。 產(chǎn)出剖面測井資料的解釋方法及應用 二 、 產(chǎn)出剖面測井資料的應用 產(chǎn)出剖面測井資料的解釋方法及應用 1． 根據(jù)產(chǎn)出剖面資料選擇壓裂層 ， 針對性強 ， 避免選層的盲目性； 2． 利用井溫剖面資料結合放射性同位素示蹤技術及其它測井資料定性判斷壓裂效果和預測裂縫形成部位 。 第一層的分層產(chǎn)水量 =測點 1的合層產(chǎn)水量 測點 2的合層產(chǎn)水量 ，以下各點以此類推 。 產(chǎn)出剖面測井資料的解釋方法及應用 1． 計算合層產(chǎn)水量 第一層合層產(chǎn)水量 Qw1=Q1 依據(jù)流體力學的基本原理 ，井內流體流動分析離不開對流速 、流體密度 、 溫度 、 壓力以及各相介質分布型態(tài)等相對關系的研究 。 放射性同位素示蹤法測井 （ 三 ） 應用 1． 定量測出分層水量 2． 定性判斷套管漏失點如：文檢 2井 （ 吸水剖面 ） 3． 可發(fā)現(xiàn)套管竄槽 ( 如文側 1540井 ) 4． 利用水井注入剖面定性推測產(chǎn)出剖面 （ 1） 吸水剖面基本反映了連通油井同期的產(chǎn)液剖面 （ 2） 油井水淹層明顯地對應著主力吸水層 （ 3） 隨著吸水剖面的變化 ， 連通油井產(chǎn)出剖面也相應地變化 。 目前還沒有針對同位素微球進入地層而造成的散失進行解釋中的校正模型研究 。 放射性同位素示蹤法測井 常見放射性同位素物理特征表 放射性同位素示蹤法測井 名稱 分子式 半衰期（ d） 伽瑪射線能量MeV 59Fe FeCl3 45 ～ 65Zn ZnCl2 250 110Ag AgNO3 260 ～ 131I NaI ～ 131Ba Ba(NO3)2 ～ 131BaGTP微球 BaCl3 ～ 三 、 放射性同位素示蹤法測吸水剖面的解釋及應用 放射性同位素示蹤法測井 （ 一 ）
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