高壓開(kāi)關(guān)設(shè)備及絕緣預(yù)防性試驗(yàn)(文件)
【正文】 緣強(qiáng)度最有效和最直接的試驗(yàn)項(xiàng)目。對(duì)于12～，其試驗(yàn)電壓值與對(duì)地耐壓時(shí)相同。2. 分母數(shù)為根據(jù)IEC補(bǔ)充的較高耐壓水平值。其試驗(yàn)電壓按DL/T593－1966規(guī)定值的80％進(jìn)行。交流耐壓試驗(yàn)前后的絕緣電阻不下降30％為合格。為使試驗(yàn)電壓不受泄漏電流變化的影響，（有效值）。在試品放電時(shí)，由于電源輸出的電流較小，從而限制了對(duì)試品絕緣的損壞。接觸電阻的存在，增加了導(dǎo)體在通電時(shí)的損耗，使接觸處的溫度升高，其值的大小直接影響正常工作時(shí)的載流能力，在一定程度上影響短路電流的切斷能力，也是反映安裝檢修質(zhì)量的重要數(shù)據(jù)。常用的測(cè)量方式有電壓降法（電流－電壓表法）和微歐儀法。微歐儀法微歐儀的工作原理仍是直流電壓降法，通常采用交流220V電壓經(jīng)整流后，通過(guò)開(kāi)關(guān)電路轉(zhuǎn)換為高頻電流，最后再整流為100A的低壓直流，用作測(cè)量電源。由前述可知，斷路器觸頭的接觸電阻是由表面電阻（膜電阻）和收縮電阻組成的。所以電橋法和直流電壓降法的測(cè)量結(jié)果是有差別的，而直流壓降法更能反映斷路器的實(shí)際工作狀況。又當(dāng)觸頭因調(diào)整不當(dāng)（如觸頭壓力變化）、運(yùn)行中發(fā)生變化或觸頭燒損嚴(yán)重等使有效接觸面積減小時(shí)，雙臂電橋的微弱電流，在其接觸處不會(huì)產(chǎn)生收縮，即無(wú)法測(cè)出收縮電阻，而在大電流或正常工作電流通過(guò)時(shí)，就會(huì)使該接觸處的電阻增加，引起觸頭的過(guò)度發(fā)熱和加速氧化。測(cè)量時(shí)，微歐儀內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)電阻分流器（Rdi）與被測(cè)回路電阻（Rx）呈串聯(lián)關(guān)系，有，即，所以即使測(cè)量通入的電流值稍有偏離100A，也不影響測(cè)量結(jié)果。測(cè)量時(shí)，圖6－2的回路通以100A直流電流，電流用分流器及毫伏表1進(jìn)行測(cè)量，回路接觸電阻的電壓降用毫伏表2進(jìn)行測(cè)量，毫伏表2應(yīng)接在電流接線端里側(cè)，以防止電流端頭的電壓降引起測(cè)量誤差。斷路器導(dǎo)電回路電阻的測(cè)量是在斷路器處于合閘狀態(tài)下進(jìn)行的，其測(cè)量接線如圖6－2所示。由于兩個(gè)導(dǎo)體接觸時(shí)，因其表面非絕對(duì)的光滑、平坦，只能在其表面的一些點(diǎn)上接觸，使導(dǎo)體中的電流線在這些接觸處劇烈收縮，實(shí)際接觸面積大大縮小，而使電阻增加，此原因引起的接觸電阻稱為收縮電阻。串聯(lián)諧振回路主要由容性試品或容性負(fù)載和與之串聯(lián)的電感以及中壓電源組成，也可由電容器與感性試品串聯(lián)而成。如有機(jī)絕緣材料燒壞應(yīng)
法律信息相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號(hào)-1