課題4_質(zhì)量檢驗(yàn)(文件)
【正文】 齒側(cè)間隙的消除：通過(guò)游絲消除齒偶間隙，提高測(cè)量精度。其形狀有長(zhǎng)方體和圓柱體兩種 ,常用的是長(zhǎng)方體。 ? 量塊的用途 ： ? ⑴作為長(zhǎng)度尺寸標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)物載體 ,將國(guó)家的長(zhǎng)度基準(zhǔn)按照一定的規(guī)范逐級(jí)傳遞到機(jī)械產(chǎn)品制造環(huán)節(jié) ,實(shí)現(xiàn)量值統(tǒng)一。 極限量規(guī) ? 極限量規(guī)是一種是一種無(wú)刻度的專(zhuān)用檢驗(yàn)量具，用來(lái)判斷零件的加工誤差是否在極限范圍內(nèi)。 ? 結(jié)構(gòu) ：立式光學(xué)比較儀結(jié)構(gòu)如圖所示： 萬(wàn)能測(cè)長(zhǎng)儀 ? 萬(wàn)能測(cè)長(zhǎng)儀是一種由精密機(jī)械、光學(xué)系統(tǒng)和電氣部分相結(jié)合起來(lái)的長(zhǎng)度測(cè)量?jī)x器。 六、形位誤差檢驗(yàn) ? 形位誤差的測(cè)量方法很多，這里僅介紹一些常用實(shí)例。 平面度誤差測(cè)量 ? 測(cè)微表法：將被測(cè)工件支撐在標(biāo)準(zhǔn)平板上，以標(biāo)準(zhǔn)平板為測(cè)量基面。 ? 測(cè)量時(shí)，將工件放在工作臺(tái)上，使工件軸線與儀器轉(zhuǎn)軸同軸。 ? (2)用 V形鐵測(cè)量 ? 將工件放在 V形鐵上，使其軸線垂直測(cè)量截面，同時(shí)固定軸向位置，回轉(zhuǎn)工件一周，指示計(jì)讀數(shù)最大差值之半為單個(gè)截面的圓度誤差，如此測(cè)量若干截面，取所有讀數(shù)最大最小差之半作為圓柱度誤差。因此，平面度誤差包含在平行度誤差之中。在整個(gè)箱體側(cè)面上取若干處高度測(cè)量，最后取最大讀數(shù)中的最大值與最小讀數(shù)中的最小值之差作為箱體側(cè)面對(duì)底面的垂直度誤差。 ? 針描法 是應(yīng)用最廣的表面粗糙度測(cè)量方法，它是通過(guò)金剛石觸針在被測(cè)表面上慢慢滑移，觸針隨表面輪廓的峰谷起伏而上下振動(dòng)，經(jīng)傳感器轉(zhuǎn)換為電信號(hào)的一種測(cè)量方法。無(wú)損檢驗(yàn)可探測(cè)內(nèi)部和外部缺陷：例如氣孔、裂紋（表層及內(nèi)部）、夾渣、疏松、化學(xué)成分的變化、晶粒大小不均、偏析、加工缺陷，凹痕、撕裂、焊接缺陷等。 二、放射性檢驗(yàn) ? 放射性檢驗(yàn)是利用 X射線或 γ射線能穿透普通光不能穿透的物質(zhì)，且在物質(zhì)中具有衰減作用和一定的衰減規(guī)律。超聲波檢的優(yōu)點(diǎn)是靈敏度高、設(shè)備簡(jiǎn)單、對(duì)人體無(wú)傷害、檢驗(yàn)費(fèi)用低廉且便于實(shí)現(xiàn)信息處理和計(jì)算機(jī)自動(dòng)控制。 五、滲透檢驗(yàn) ? 滲透檢驗(yàn)是檢查工件或材料表面缺陷的一種方法。但滲透檢驗(yàn)對(duì)埋藏于表層以下的缺陷是無(wú)能為力的，它 只能檢查開(kāi)口暴露于表面的缺陷 。 計(jì)量檢驗(yàn)工工作內(nèi)容 ? (1)設(shè)計(jì)檢驗(yàn)流程圖或傳遞單； ? (2)設(shè)置檢驗(yàn)站 (組 )：包括原材料檢驗(yàn)站 (組 )；配套件和輔助件檢驗(yàn)站 (組 )；工序檢驗(yàn)站 (組 )；裝配檢驗(yàn)站 (組 )；成品檢驗(yàn)站 (組 )。進(jìn)廠檢驗(yàn)包括首件 (批 )檢驗(yàn)和成批進(jìn)貨檢驗(yàn)。其目的是預(yù)防廢品的發(fā)生，防止將不合格品轉(zhuǎn)到下道工序。 計(jì)量檢驗(yàn)工工作注意事項(xiàng) ? 測(cè)量器具的選擇 ? 檢測(cè)中應(yīng)遵循的重要原則 ：阿貝原則、基準(zhǔn)統(tǒng)一原則、測(cè)量路線最短原則、最小變形原則和封閉原則。成品檢驗(yàn)一般包括成品的質(zhì)量精度、性能、外觀和安全性等。 ? （ 2)工序檢驗(yàn) ：對(duì)某道工序或某批零件進(jìn)行檢驗(yàn)。 ? (4)充實(shí)檢測(cè)手段計(jì)劃：充實(shí)必要的檢測(cè)器具，完善檢測(cè)手段，以適應(yīng)產(chǎn)品質(zhì)量檢驗(yàn)的變化需求。 ? 檢驗(yàn) ：在生產(chǎn)過(guò)程中，技術(shù)測(cè)量人員對(duì)各種原材料、半成品和成品，用計(jì)量器具或其他數(shù)據(jù)分析方法以檢查其是否合乎有關(guān)規(guī)定的過(guò)程，稱(chēng)為檢驗(yàn)。另外此法原理簡(jiǎn)明、費(fèi)用低廉、設(shè)備簡(jiǎn)單且顯示缺陷直觀，可以同時(shí)顯示各個(gè)不同方向的各類(lèi)缺陷。 ? 脈沖反射法 ? 穿透法 ? 共振法 四、磁粉探傷 ? 磁粉檢驗(yàn)用于探測(cè) 磁性材料 (鐵、鎳、鈷、碳素鋼及某些合金鋼 )表面 或近表面上的 裂紋 以及其它缺陷。目前主要有射線照相法、熒光屏觀察法、 x射線電視法。 ? 常用的檢驗(yàn)方法有：①錘擊法②加壓法③沖水法。 第二節(jié) 組織性能檢驗(yàn) ? 為了鑒定產(chǎn)品優(yōu)劣，保證其質(zhì)量，除了必須進(jìn)行尺寸精度、形位誤差等幾何量檢測(cè)外，對(duì)于具有特殊使用性能要求的零件還必須對(duì)其 組織性能 進(jìn)行檢驗(yàn)。 ? 光切法 是一種應(yīng)用光切原理測(cè)量表面粗糙度的方法。然后將表架移至箱體側(cè)面，與側(cè)面良好接觸，并前后平穩(wěn)移動(dòng)表架，注意表架左端面要始終與箱體側(cè)面接觸（如圖 b），讀取指示器最大與最小讀數(shù)。用平板模擬定向基準(zhǔn)，平穩(wěn)地移動(dòng)表架，指示器最大最小讀數(shù)之差則為平行度誤差 (下標(biāo) //表示平行度 )。如此測(cè)量若干截面，取其中最大的誤差值作為該工件的圓度誤差。通常用測(cè)微表最大最小讀數(shù)之差近似作為平面度誤差值。將刀口尺與工件緊貼，（這樣便
環(huán)評(píng)公示相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號(hào)-1