kvyaaa地質(zhì)羅盤使用方法(文件)
【正文】 E象限Ⅲ180176。—360176。瞄準(zhǔn)器 包括接目和接物覘板、反光鏡中的細(xì)絲及其下方的透明小孔，是用來瞄準(zhǔn)測量目的物（地形和地物）的。 地球上各 點(diǎn)的磁偏角均定期計(jì)算，并公布以備查用。如圖53 A表示δ東偏30176。=NE60176。20176。首先放松磁針制動小螺紐，打開對物覘板并指向所測目標(biāo)，即用羅盤的北（N）端對著目的物，南（S）端靠近自己進(jìn)行瞄準(zhǔn)。巖層的空間位置決定于其產(chǎn)狀要素，巖層產(chǎn)狀要素包括巖層的走向、傾向和傾角（見圖54）。 巖層傾角的測量 巖層傾角是指層面與假想水平面間的最大夾角，稱真傾角。 巖層產(chǎn)狀的記錄方法 如用方位角羅盤測量，測得某地層走向是330176。/SW∠50176。如果用方位角羅盤測量但要用象限角記錄時(shí)，則需把方位角換算成象限角，再作記錄。傾向 β=240176。W/SW∠50176。在地質(zhì)圖或平面圖上標(biāo)注產(chǎn)狀要素時(shí)，需用符號和傾 角表示。=60176。－330176?！?0176。、傾角為50176。測量時(shí)將羅 盤側(cè)立，使羅盤長邊緊靠層面，并用右手中指撥動底盤外之活動扳手，同時(shí)沿層面移動羅盤，當(dāng)管狀水準(zhǔn)器氣泡居中時(shí)，測斜指針?biāo)缸畲蠖葦?shù)即巖層的真傾角。 巖層傾向的測量 巖層傾向是指巖層向下最大傾斜方向線（真傾向線）在水平面上投影的方位。圖53A 磁偏角東偏示意圖 圖53B 磁偏角西偏示意圖 圖53C羅盤儀測量目的物的方位⑵ 巖層產(chǎn)狀要素的測定在對方向或目的物方位進(jìn)行測量時(shí)即測定目的物與測者兩點(diǎn)所連直線的方位角。為工作上方便，可以根據(jù)上述原理進(jìn)行磁偏角校正，磁偏角偏東時(shí)，轉(zhuǎn)動羅 盤外壁的刻度螺絲，使水平刻度盤順時(shí)針方向轉(zhuǎn)動一磁偏角值則可（若西偏時(shí)則逆時(shí)針方向轉(zhuǎn)動）。測線所測角為SE110176。時(shí)，則A=30176。如果某點(diǎn)磁偏角 （δ）為已知，則一測線的磁方位角（A磁）和正北方位角（A）的關(guān)系為A=A磁177。 －A NW象限水準(zhǔn)器 羅盤上通常有圓形和管形兩個(gè)水準(zhǔn)器，圓形者固定在底盤上，管狀者固定在測斜器上，當(dāng)氣泡居中時(shí)，分別表示羅盤底盤和羅盤含長邊的面處于水平狀態(tài)。γ=A－180176。—180176。E以示區(qū)別 （圖52 A、B，表5－1）。記作N75176。在具體工作中，為區(qū)別所讀數(shù)值是方位角或象限角，可按下述方法區(qū)分：如圖A與B的測線位置相同，在方位角刻度盤上讀作285176。的四個(gè)象限。象限角刻度盤與它不同之處是S、N兩端均記作0176。和180176。外圈為水平刻度盤， 其刻度方式有兩種，即方位角和象限角，隨不同羅盤而異，方位角刻度盤是從0176。磁針制動器 是在支撐磁針的軸下端套著的一個(gè)自由環(huán)，此環(huán)與制動小螺紐以杠桿相連，可使磁針離開轉(zhuǎn)軸頂針并固結(jié)起來，以便保護(hù)頂針和旋轉(zhuǎn)軸不受磨損，保持儀器的靈敏性，延長羅盤的使用壽命。一般都由磁針、磁針制動器、刻度盤、測斜器、水準(zhǔn)器和瞄準(zhǔn)器等幾部分組成，并安
醫(yī)療健康相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1