【正文】 加溫加電后對應(yīng)某一工作時間的光通量（或光功率）；β為某一結(jié)溫下的退化系數(shù)；t為某一產(chǎn)品的試驗截止時間。 光功率的初始值一直處于下降時的加速壽命示意圖若光功率出現(xiàn)先上升再下降的情況，如圖所示，則加速壽命為Lc,i＝ T1＋（T2－T1） (63)其中 光功率下降到初始值P0的試驗時間為T1，用退化系數(shù)外推法求得的壽命為T2－T1 。 數(shù)據(jù)處理方法以光通量衰減作為單一失效判據(jù)采用退化系數(shù)外推解析法,溫度應(yīng)力加速模型退化系數(shù)與結(jié)溫之間的關(guān)系用阿侖尼斯（Arrhenius）方程表示β= IFβ0exp(Ea/k Tj) (64)式中IF為工作電流，β0為常數(shù)；Ea為激活能；k為波耳茲曼常數(shù)(105ev)；Tj為結(jié)溫（絕對溫度）。正常工作環(huán)境溫度(Ta＝25℃)下的平均壽命Lc,0通過公式（68）求得 （68）Lc,0為工作環(huán)境溫度（25℃）下的平均工作壽命；Tj,0 為某一工作環(huán)境溫度下的結(jié)溫。在高溫（165℃－185℃）下LED器件的芯片會加速退化，而且封裝材料也會加速老化，使其透光性能變差，表現(xiàn)為光功率的加速衰退，這是本案例的工作壽命進入到磨損失效期m值較大的主要原因。本實驗首先通過將LED放在熱電阻下加溫，改變了其所處的環(huán)境，加速了LED 的老化，縮短了實驗周期。通過改變正向電壓測得LED的結(jié)溫，實驗操作簡單，降低了成本。本標(biāo)準(zhǔn)給出了一種縮短試驗時間求取LED平均壽命的方法，利用LED光功率緩慢退化公式，由退化系數(shù)外推不同應(yīng)力溫度下LED的失效時間（加速壽命），再用數(shù)值解析法得到正常環(huán)境溫度應(yīng)力下的LED平均壽命?？梢酝ㄟ^本實驗測得LED發(fā)光壽命。本設(shè)計給出了一種縮短試驗時間求取LED平均壽命的方法，利用LED光功率緩慢退化公式，由退化系數(shù)外推不同應(yīng)力溫度下LED的失效時間（加速壽命），再用數(shù)值解析法得到正常環(huán)境溫度應(yīng)力下的LED平均壽命。激光，2006，17(8)：945947.[7] 張海兵，呂毅軍，李開航， 電壓溫度系數(shù)的研究 [J].光電子用威布爾分布和對數(shù)正態(tài)分布圖估法進行檢驗和驗證，在加速模型、失效模式等方面未發(fā)現(xiàn)有異常。8 總結(jié)與體會這次課程設(shè)計我們歷時三個星期，在我們班里算是倒數(shù)幾組完成的吧，但經(jīng)過這兩個星期的實踐和體驗下來，我們又怎么會去在乎那個先后問題呢，因為對我來說學(xué)到的不僅是那些知識，更多的是團隊和合作。用威布爾分布和對數(shù)正態(tài)分布圖估法進行檢驗和驗證，在加速模型、失效模式等方面未發(fā)現(xiàn)有異常。此法不僅適用于所有單色光LED，而且對以光功率衰減作為單一失效判據(jù)（不考慮色溫飄移）的白光LED也適用。其次，將LED放在干燥箱內(nèi)，減少了外界濕度對實驗的影響,同時在干燥箱內(nèi)。這些變量包括電、熱失效機理的芯片和熱失效機理的封裝材料，由它們組合的多重影響，在概率紙上能夠呈現(xiàn)符合預(yù)期的威布爾分布。我們從威布爾分布圖估法（GB －81 ）驗證的案例結(jié)果可以看出：。 Rjc為結(jié)到殼的熱阻；Rch為殼到熱沉的熱阻，當(dāng)Rch在最佳情況下，計算時可以忽略不計；Rha為熱沉到環(huán)境的熱阻。試驗采用定數(shù)截尾，一般情況下，試驗截尾時間應(yīng)使失效數(shù)r大于或等于投試樣品數(shù)n 的30%，當(dāng)失效數(shù)無法達(dá)到30%n時，至少有r≥4。減少試驗數(shù)據(jù)的誤差，第一個數(shù)據(jù)點的退化量應(yīng)大于儀器測量誤差，可以采用圖估法(在概率紙上描點劃線或運用計算機)進行線性擬合，選取偏離直線最小、光輸出衰減較大的試驗數(shù)據(jù)點，該數(shù)據(jù)點的累計時間即為試驗截止時間，通過公式（62）計算給定結(jié)溫下的失效時間（工作壽命Lc,i），這樣可以縮短試驗時間。試驗過程中，每次測試均應(yīng)使用同一測試儀器和工具，如必須更換時，則必須經(jīng)過計量，以便保證測試精度。 在沒有自動記錄的試驗中，具體產(chǎn)品測試間隔時間的選擇，可通過摸底試驗來確定。引用“亞瑪卡西”（yamakoshi）的發(fā)光管光功率緩慢退化公式，通過退化系數(shù)得到不同加速應(yīng)力溫度下LED的壽命試驗數(shù)據(jù)，再用“阿倫尼斯”（Arrhenius）方程的數(shù)值解析法得到正常應(yīng)力（室溫）下的LED 的平均壽命，簡稱“退化系數(shù)解析法”,測量的數(shù)據(jù)計算出室溫下平均壽命的一致性。6 系統(tǒng)功能及指標(biāo)參數(shù)LED芯片壽命試驗過程，提出了壽命試驗條件，完善的試驗方案，消除可能影響壽命試驗結(jié)果準(zhǔn)確性的因素，保證了壽命試驗結(jié)果的客觀性和準(zhǔn)確性。該MCU在保持與8051指令系統(tǒng)兼容的同時。5 系統(tǒng)調(diào)試本實驗，在軟件調(diào)試方面，采用PROTEL99 SE軟件，進行逐級調(diào)試，最后利用頂層文件總體調(diào)試方法，實現(xiàn)對設(shè)計的驗證性調(diào)試。串聯(lián)連接形式：即將多個LED的正極對負(fù)極連接成串，其優(yōu)點通過每個LED的工作電流一樣，一般應(yīng)串入限流電阻R，如圖二為單串電路，當(dāng)出現(xiàn)一個LED開路時，將導(dǎo)致這串8個LED熄滅，從原理上LED芯片開路的可能性極小。本次設(shè)計將使用protel軟件進行電路設(shè)計。9999SE共分5個模塊，分別是原理圖設(shè)計、PCB設(shè)計（包含信號完整性分析）、自動布線器、原理圖混合信號仿真、PLD設(shè)計。該電路使用靈活、方便，只需外接少量的阻容元件就可以構(gòu)成單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器和多諧振蕩器等，因而廣泛用于信號的產(chǎn)生、變換、控制與檢測。555定時器的電源電壓范圍寬，~16V當(dāng)u1132Ucc，u1231Ucc是復(fù)位輸入端。 ADUC848的引腳排列 ADUC848電路設(shè)計 555芯片555集成電路開始是作定時器應(yīng)用的，后來經(jīng)過開發(fā)，它除了作定時延時控制外，還可用于調(diào)光、調(diào)溫、調(diào)壓、調(diào)速等多種控制及計量檢測。該MCU在保持與8051指令系統(tǒng)兼容的同時。 ADM3251E引腳圖 ADUC848ADuC848是ADI公司新推出的嵌有單指令周期8052閃存MCU、帶兩路24位Δ∑A/D、雙12位D/A以及兩個靈活脈寬調(diào)制輸出的高性能24位數(shù)據(jù)采集與處理系統(tǒng)芯片。同時也消除了光電耦合中不穩(wěn)定的電流傳輸率，非線性傳輸，溫度和使用壽命等方面的問題。15KV的ESD保護，因此適用于極端的電力環(huán)境和任何可以適用RS232收發(fā)器的場合。在LED顯示屏規(guī)模較大時，使用晶體管顯示儀進行測量更為方便。直接躍遷的材料(如GaAs_x Px)的響應(yīng)時間僅為幾納秒，而間接躍遷材料(如GaP、的響應(yīng)時間則是100ns。若結(jié)溫為Tj外部環(huán)境溫度為Ta則當(dāng)TjTa時，內(nèi)部熱量借助管座向外傳熱，散逸熱量(功率)可表示為 P=KT(Tj—Ta) (33)響應(yīng)時間：LED的響應(yīng)時間是標(biāo)志反應(yīng)速度的一個重要參數(shù)，尤其是在脈沖驅(qū)動或電壓調(diào)制時顯得非常重要。C—U特性呈二次函數(shù)關(guān)系。反向擊穿區(qū)：UUR， UR稱為反向擊穿電壓；與UR對應(yīng)的電流IR為反向漏電流。 LED正向伏安特性曲線從LED的伏安特性曲線及模型看，LED在正向?qū)ê笃湔螂妷旱募?xì)小變動將引起電流的很大變化，而且環(huán)境溫度、老化時間等因素也將影響LED的電氣性能?！?V。時，外加電場尚未克服少數(shù)載流子擴散而形成勢壘電場，此時電阻R很大；對于不同LED，開啟電壓不同。當(dāng)LED在脈沖電流驅(qū)動下工作時，在脈沖的下降沿從受激輻射結(jié)束到發(fā)光強度下降至穩(wěn)定值的10％為止所需要的時間。結(jié)電容對于LED在高頻下工作有較大的影響。3．反向漏電流IR。2．正向工作電壓UF。 串口電路原理圖 過零觸發(fā)電路設(shè)計 過零觸發(fā)電路設(shè)計 LED燈常用電路參數(shù)1．正向工作電流IF。用積分球法測LED光通量時有兩種測試結(jié)構(gòu)：一種是將被測 LED 放在球心；另外一種是將其放在球壁。整個測量過程中,電流要保持恒定。 LED 發(fā)出的光通過透鏡 ( 7 ) 匯聚后,透過恒溫箱的玻璃窗口 ( 8 ) ,進入光譜儀 ( 9 ) ( SSP 3112 光譜儀 )的積分球。LED支架可以方便的固定LED ( 2 ) 以及測量電路和熱電阻 ( 3 ) ( Pt100標(biāo)準(zhǔn)熱電阻) 。通過熱像儀所測得的此數(shù)值為 ℃/W。我們利用這兩種方法測得的熱阻值完全一致。對熱傳導(dǎo)過程的計算證實幾乎所有的