【正文】 TH0=一5000f256； / /5ms定時　　　　　　　TL0=一5000％256。 ／／打開TO中斷　　　　　　　ITO =1。 ／／關(guān)閉蜂鳴器　　　　　　　Int0_count =O ／／產(chǎn)生外部中斷O的計數(shù)器清零 ) void main() (　　　　　　?。?調(diào)用初始化函數(shù)*／　　　　　　　init()?！　≡跇訖C加電之前，首先要進行靜態(tài)測試，主要內(nèi)容有； 1．檢查線路。 3．檢查電源系統(tǒng)。電源電壓正常，芯片沒有過熱現(xiàn)象。進行局部電路調(diào)試，提供有關(guān)模擬信號或開關(guān)信號。如果對于任意區(qū)域讀出和寫入的內(nèi)容都一致，表明擴展RAM工作正常，否則就有故障。 對于單片機本身的輸入口，通過輸入設(shè)備給輸入口設(shè)置一定的狀態(tài)，然后用讀特殊功能寄存器命令讀出相應(yīng)輸入接口寄存器的狀態(tài)，與設(shè)定的狀態(tài)一致，輸入口工作正常。 3．試驗預(yù)充、充電保護、自動斷電和充電完成報警提示功能。因此，軟件調(diào)試實際上可分為編輯、匯編(或編譯)和調(diào)試兩部分。 一類是各種計算程序已經(jīng)代碼轉(zhuǎn)換程序、靜態(tài)I／O程序。調(diào)試這類程序不能用單拍或慢速斷點方式，而必須采用全速斷點或全速連續(xù)運行方式。系統(tǒng)調(diào)試的任務(wù)是排除軟硬件中的殘留錯誤，使整個微機系統(tǒng)能夠完成預(yù)定的工作任務(wù)，達到要求的技術(shù)性能指標。 ，仿真器采用全速斷點或連續(xù)運行方式，在綜合調(diào)試的最后階段應(yīng)使用樣機中的晶振。相對濕度60177。 溫度計要求：測量溫度的儀表準確度應(yīng)不低于177。 恒壓源的電壓恒定可調(diào)，其電壓變化應(yīng)在177?！　　　”? 充電、放電方法項目
方法
標準放電
。
、試驗方法和判定規(guī)則(1)　　試驗方法：電池按規(guī)定充電方式標準充電后，擱置一段時間()，在20℃土5℃。2)℃的高溫箱中恒溫2h，將電池取出放在(20177。5)℃的條件下，電池標準充電后，將電池放入一20℃177。 電池標準充電結(jié)束后，在環(huán)境溫度為(20177。放電結(jié)束后，再進行下一個充放電循環(huán)，電池按上述方法進行充放電循環(huán)，直到連續(xù)兩次放電時間小于48分鐘，則認為壽命終止。 所有測試均在標準試驗條件下進行。)V以下時，充電過程應(yīng)可重新開始。lA)時，放電應(yīng)被禁止，保護啟動延遲時間應(yīng)小于20ms。(7)靜電ESD保護 ESD電壓為177。次設(shè)計實現(xiàn)的是單節(jié)鋰離子電池充電器，因此選用了芯片MAXl898作為充電芯片。 在本次畢業(yè)設(shè)計中，我在指導(dǎo)老師的幫助下，系統(tǒng)地學(xué)習(xí)了單片機、EDA以及應(yīng)用程序編制等方面的知識。但是，在實際的編程以及調(diào)試程序過程中，我發(fā)現(xiàn)自己所應(yīng)該學(xué)的太多太多。 總之，這次畢業(yè)設(shè)計對我來說是一次比較全面的、富有創(chuàng)造性和探索性的鍛煉，完成了我的心愿。指導(dǎo)老師不厭其煩地審閱本設(shè)計，指出我設(shè)計中的問題和不足，使得我在最大程度上完善了畢業(yè)設(shè)計。通過此次設(shè)計提高了自己軟件編制和硬件電路設(shè)計的能力。 在本次設(shè)計過程中，需著重把握的是：預(yù)充、快充、滿充等充電方式的工作原理；MAXl898的充電狀態(tài)指示輸出信號CH6在本實訓(xùn)中的應(yīng)用；MAXl898在外圍電路的設(shè)計中，其中包括設(shè)置充電電流的電阻和充電時間的電容數(shù)值的選取以及如何在單片機程序中判斷出充電完成還是充電出錯，并做出相應(yīng)的處理。 總 結(jié) 本次設(shè)計以充電芯片MAXl898的使用為主體，利用單片機實現(xiàn)智能化的手機充電器。(5)工作電流消耗　　當(dāng)電池正常工作狀態(tài)下，保護板電流消耗應(yīng)小于10uA。)V時，放電應(yīng)禁止。)V時，充電應(yīng)被禁止。 (2)內(nèi)阻值 試驗方法：使用AC ，測量電池接口處正負極之間的內(nèi)阻值，若檢測儀表在檢測過程中使用附加的電池固定夾具和引線，可以視情況減去固定引線的電阻值，且記錄最大與最小之差值。(1)循環(huán)壽命 試驗方法：在環(huán)境溫度為(20177。5)℃的條件下擱置2小時，然后目視電池外觀?！　∨卸ㄒ?guī)則：放電時間不少于51分鐘，外觀應(yīng)無變形、無漏液、無爆裂。(2)lC5A放電容量　　試驗方法：在環(huán)境溫度為(20177。
標準充電
標準充電后,—lh,。(3)充電、放電方法。 恒流源的電流恒定可調(diào)，其電流變化應(yīng)在177。(2)測量儀表要求 電壓表要求：，內(nèi)阻應(yīng)不小于lOKΩ／V。、試驗及判定(1)標準測試環(huán)境條件 溫度20℃177。 ，避免遺漏。如果有問題，需要從硬件和軟件兩個方面進行檢查和解決。這里我準備了多組有代表性的原始數(shù)據(jù)，以便程序中各個分支都能得到運行，調(diào)試工作不至出現(xiàn)遺漏。 應(yīng)用程序應(yīng)分成若干個功能模塊來編寫和調(diào)試，單個程序模塊都調(diào)試通過后，將它們組合起來進行系統(tǒng)統(tǒng)調(diào)。 軟件調(diào)試是在編譯器下進行的。檢查時先向其控制(命令)寄存器寫入控制字，設(shè)定接口的工作狀態(tài)，然后再用外部數(shù)據(jù)存儲器讀寫命令來檢查I／0口的狀態(tài)。 2．測試I／O口和I／0設(shè)備。進行聯(lián)機調(diào)試，用專用仿真插頭將樣機和仿真器連接起來，分別打開樣機和仿真器的電源，按以下步驟進行具體調(diào)試： 1．測試擴展RAM(數(shù)據(jù)存儲器)。 4．外圍電路調(diào)試。檢查完整流穩(wěn)壓電路后，逐一檢查各芯片插座上電源引腳的電壓是否有異常情況。 2．核對元器件。若不理想，可以調(diào)整電阻的大小以獲得滿意的亮度效果，還可結(jié)合示波器測試晶振及波形情況進行綜合測試分析。 ／／打開外部中斷O 　　　　　　　GATE =1。 ／／打開cpu中斷　　　　　　　　PTO =1 ／／T0中斷設(shè)為高優(yōu)先級　　　　TMOD=0X01。顯然前兩種情況單片機都可以直接控制光耦切斷充電電源，所以，程序中只要區(qū)別對待第3種充電出錯的情況即可?！　　　　　　　〉谖逭? 軟件設(shè)計　　充電器的充電過程主要由MAXl898控制，而單片機芯片主要是對電池起保護作用?！　∮捎诔潆娖髟跈z測電池電壓是否達到終止電壓時有充電電流通過電池內(nèi)阻，盡管在滿充和頂端截止充電過程中充電電流逐漸下降，減小了電池內(nèi)阻和其他串聯(lián)電阻對電池端電壓的影響，但串聯(lián)在充電回路中的電阻形成的壓降仍然對電池終止電壓的檢測有影響。恒流充電時，電池電壓緩慢上升，一旦電池電壓達到所設(shè)定的終止電壓，恒流充電終止，充電電流快速遞減，充電進入滿充過程。預(yù)充　　在安裝好電池之后，接通輸入直流電源，當(dāng)充電器檢測到電池時將定時器復(fù)位，從而進入預(yù)充過程，在此期間充電器以快充電流的10％給電池充電，使電池電壓、溫度恢復(fù)到正常狀態(tài)。Q1為P溝道的場效應(yīng)管，由MAxl898提供驅(qū)動?！　　　　　　　　　?圖5 電壓轉(zhuǎn)換及光耦隔離部分電路的原理圖　　　　U3為輸出+5V的電壓轉(zhuǎn)換芯片M7805，它將12V的輸入電壓轉(zhuǎn)換為固定的5v輸出；u4為光耦隔離芯片6N137，其輸入為LM7805產(chǎn)生的5V電壓，輸出為經(jīng)過隔離的5V電壓，U4的2腳和單片機的P2．0相連，由單片機控制適時地關(guān)閉充電電源。　　硬件電路由單片機電路、電壓轉(zhuǎn)換及光耦隔離電路、充電控制電路3部分組成。6N137的引腳分布如圖3所示。此引腳需旁接一個大電解電容到地；　　GND(8腳)：接地端；　　DRV(9腳)：外部晶體管驅(qū)動器，接晶體管的基極；　　CS(10腳)：電流傳感輸入，接晶體管的發(fā)射極。接一個時間電容來設(shè)置充電時間，電容為100nF時，幾乎為3個小時，此引腳直接接地將禁用此功能；　　RSTRT(6腳)：自動重新啟動控制引腳。MAXl898可對所有化學(xué)類型的Li+電池進行安全充電，它具有高集成度，在小尺寸內(nèi)集成了更多功能，盡可能多地覆蓋了基本應(yīng)用電路，只需要少數(shù)外部元件。啟動快充后，打開外接的P型場效應(yīng)管，當(dāng)檢測到電池電壓達到設(shè)定的門限時進入脈沖充電方式，P型場效應(yīng)管打開的時JI間會越來越短。　　(4)在限制電流的模式下，通過外接的電阻RSET來設(shè)置最大充電電流IFSTCHG，關(guān)系如下式所示：1f