【正文】 束輻線上的假想的橫波聲源的面積或直徑。假想聲源的面積A′由下式給出式中A—晶片的面積假想聲源至入射點的距離L39。的變化與界面兩側(cè)不同介質(zhì)中的波型和聲速比有關(guān)，其變化規(guī)律可用系數(shù)表示。λt/DL斜探頭探傷，我國多用橫孔作為標準幾何反射體。用超聲測量缺陷的大小，往往是根據(jù)缺陷波的高度和探頭的移動距離來決定的。圖49半波高測長法使用此法時，超聲波探傷儀的垂直線性一定要良好，否則將會產(chǎn)生較大的偏差。探頭為斜探頭探頭參數(shù)如表51所示：表51 實驗用斜探頭參數(shù)表晶片尺寸回撥頻率靈敏度始波寬度折射角前沿長度分變率聲束偏斜13x1376dB22mm22dB(1) 測零點聲速1）通道初始化開機后，按確認進入探傷界面，按功能出現(xiàn)功能菜單出現(xiàn)如下對話框：初始化1. 當前通道2. 所有通道3. 缺陷數(shù)據(jù)4. 儀器按1初始化完成。用直尺測出探頭到R50圓弧的水平距離為33mm，輸入儀器并按確定鍵，按y存儲。示意圖如圖53所示，波形圖如圖54所示圖53 測折射角示意圖圖 54 測折射角波形圖(3) 制作DAC曲線 按零點|調(diào)校兩次出現(xiàn)如下對話框：1. 最大深度：50 mm2. 反射體直徑：3 mm3. 反射體長度：40 mm按確認鍵開始測試按3，屏幕左上角出現(xiàn)“先測零點K值？y|n”，按n，屏幕出現(xiàn)如下對話框：按確認后將探頭在RB2試塊上移動（如圖55），儀器自動調(diào)節(jié)增益使身為10 mm孔的最高回波在40%~80%之間，在參數(shù)區(qū)有“DAC”提示時，按加號鍵，讓光標移至10mm孔的回波上，按確認鍵確認此回波；再次移動探頭，尋找深30mm孔的最高回波，按加號鍵，讓光標移至30mm孔的回波上，按確認鍵確認此回波；同樣確認40mm深孔的波高，各點采集完成經(jīng)確認存儲后，DAC曲線制作完成。 現(xiàn)場探傷1. 探頭掃查（）1）缺陷I反射波如圖58所示圖 58 缺陷I反射波缺陷I定位：由探傷儀可讀取缺陷水平位置距探頭發(fā)射點距離=。2. 缺陷長度測定（） 根據(jù)三處缺陷反射波判斷，三處缺陷長度測定都可使用6dB法（半波高度法），以缺陷I為例具體操作步驟如下： 1）移動探頭找到最大反射波； 2）調(diào)節(jié)增益，使缺陷波降至基準波高（80%），可利用波門控制； 3）調(diào)節(jié)增益，使靈敏度提高6dB。圖 510 缺陷III反射波 (a) (b) (c)圖511 6dB法測長表51 缺陷長度記錄表缺陷水平距離mm深度mm指示長度mmI4211II13512245221III3422 根據(jù)JB/T 4730—2005中關(guān)于指示長度計量的規(guī)定： 1）缺陷指示長度小于10mm時，按5mm計。 超聲探傷缺陷評定 承壓設(shè)備對接焊接接頭檢測一般用B級檢測技術(shù)。并且在實際的超聲波探傷過程中，仍在不斷涌現(xiàn)許多新問題。3. 結(jié)合實驗詳細介紹了超聲波探傷的操作步驟和注意事項，并對給定板材焊縫進行了現(xiàn)場探傷和等級評定，完成了焊縫超聲檢測報告和焊縫超聲檢測工藝卡。參考文獻[1]鄒廣華，劉強．過程裝備制造與檢測．北京：化學(xué)工業(yè)出版社，2003，～52[2]鄧輝，：中國勞動社會保障出版社，~5[3]鄭津洋，董其伍，：化學(xué)工業(yè)出版社，2005，~95[4]曹玉華. ，2008，4：73~75 [5]單寶華,喻言,，2004，26（5）：235~238[6]：新疆農(nóng)業(yè)大學(xué)，2005致謝本畢業(yè)設(shè)計是在胡效東老師的精心指導(dǎo)和下完成的。感謝山東科技大學(xué)為我們提供的良好的學(xué)習和生活環(huán)境。they are time of flight or the amountof time for the sound to travel through the sample and amplitude of received on velocity and round trip time of flight through the material the material thickness can be calculated as follows: T=Material Thicknessc=Material Sound Velocity=Time of FlightMeasurements of the relative change in signal amplitude can be used in sizing flaws or measuring the attenuation of a relative change in signal amplitude is monly measured in values are the logarithmic value of the ratio of two signal can be calculated using the following useful relationships are also displayed in the table below。)and the period (T) of a plete cycle.,Period and WavelengthUltrasonic vibrations travel in the form of a wave,similar to the way light ,unlike light waves,which can travel in a vacuum (empty space),ultrasound requires an elastic medium such as a liquid or a in Figure(2)are the basic parameters of a continuous wave(cw).These parameters include the wavelength(λ) and the period(T)of a plete cycle.The number of cycles pleted in one second is called frequency(f)and is measured in Hertz(Hz),some examples follow。衷心感謝實驗室劉梅老師給予我的指導(dǎo)和幫助。由于超聲檢測的本身所固有的特點和局限性，在實際的無損檢測中還須與其他檢測方法配合使用。本課題著重做了以下工作：1. 論述了過程設(shè)備制造工藝流程，并詳細介紹了焊接過程中常見的缺陷和產(chǎn)生缺陷的原因。結(jié)論科技在發(fā)展，焊縫無損檢測技術(shù)也在向著自動化、智能化和信息化的方向發(fā)展。 由探傷儀回波，II處相鄰兩缺陷在一直線上，其間距為11mm，小于12mm，作為一條缺陷處理。如圖511a、511b、511c所示。3）缺陷III反射波如圖510所示。按選項鍵，判廢偏移輸入2dB，定量偏移輸入6dB，評定偏移輸入12dB。示意圖如圖51所示，波形圖如圖52所示。3）按零點|調(diào)校兩次出現(xiàn)如下對話框：1. 測零點聲速2. 測折射角3. 制作DAC4. 制作AVG按1進入零點調(diào)校出現(xiàn)如下對話框：1. 預(yù)置工件聲速：3230 m/s2. 一次回波聲程：50 mm3. 兩次回波聲程：100 mm按確認鍵開始測試按確認鍵開始測試。本章內(nèi)容主要包括超聲波探傷實驗儀器調(diào)校、現(xiàn)場探傷、相應(yīng)的探傷缺陷評定、缺陷產(chǎn)生原因分析和相應(yīng)的缺陷處理方法。此法是探頭沿缺陷方向平行移動，首先找到最大缺陷波H，然后左右移動探頭，直到聲束中心遇到缺陷邊緣，使缺陷波的高度降到H/2時，此時探頭移動的距離即為缺陷的指示長度（lu）。用于斜探頭橫波聲場條件下的各種標準幾何反射體的反射率，應(yīng)當加以修正。式中S—缺陷至入射點的距離；λt—橫波波長；φ—平底孔缺陷的直徑。可由下式給出：由上述可知，在進行斜探頭的AVG曲線計算時，應(yīng)取4(S+L39。亦縮短，其變化規(guī)律可用系數(shù)Ds/Dc表示。對圓形晶片，常用下述基本公式修正。對這種橫波聲場內(nèi)的缺陷反射有兩種計算方法可供參考：一種方法是不考慮任意入射角時折射聲場所引起的變化，采用與直探頭相同的橫波AVG圖計算斜探頭探傷時的平底孔反射回波高度。后者包括相對靈敏度測長法、絕對靈敏度測長法、極坐標作圖法、包絡(luò)線作圖法和標準圖形參照比較法等。表42缺陷的等級分類 檢驗等級 mm評定等級ABC8~508~3008~300I2T/3 最小12T/3 最小10；最大30T/3 最小10；最大20II3T/4 最小122T/3最小10；最大50T/2 最小10；最大30IIIT 最小203T/4 最小16；最大752T/3 最小12；最大50IV超過III級者注：；。不合格的缺陷應(yīng)返修。GB 1134589標準將焊縫質(zhì)量分為I、II、III、IV四個等級。當缺陷反射波只有一個高點時，用降低6dB相對靈敏度測長(見圖47)；當缺陷反射波峰值起伏變化，有多個高點時，則以缺陷兩端反射波降至1/2最大反射波波高之間探頭的移動長度作為缺陷長度(見圖48)。對所有反射波幅超過定量線的缺陷，均應(yīng)確定其位置、最大反射波幅所在區(qū)域和缺陷指示長度。在保持探頭垂直焊縫作前后移動的同時，還應(yīng)作的左右轉(zhuǎn)動。當受檢工件的表面耦合損失及材質(zhì)衰減與試塊不一致時，應(yīng)考慮探傷靈敏度的補償。圖44距離一波幅曲線(DAC)示意圖表41 距離波幅曲線的靈敏度檢驗級別板厚/mm靈敏度DACA8~50B8~300C8~300判廢線DACDAC4dBDAC2dB定量線DAC10dBDAC10dBDAC8dB評定線DAC16dBDAC16dBDAC14dB備注一般采用B級檢驗，原則上在焊縫單面雙側(cè)進行6)在作上述測試的同時，可對現(xiàn)場使用的便攜式試塊上的某一參考反射體作同樣測量，并將其反射波位置和峰值標記在曲線板上，以便現(xiàn)場進行靈敏度驗。3)調(diào)節(jié)“增益”使該孔的反射波為熒光屏滿幅高度的80%，將其峰值標記在熒光屏前的輔助面板上。超聲波檢測時要根據(jù)缺陷回波波幅高度判定缺陷是否有害，必須按不同聲程的回波波幅進行修正。3)按深度調(diào)整。滿刻度相當于聲程250mm。時間基線的調(diào)整方法有如下幾種：1)按聲程調(diào)整。K值的測定方法如下：用CSK2B或II W試塊測定，將被測探頭置于試塊上，探頭沿試塊側(cè)面前后移動，當對應(yīng)于φ50圓弧面所獲得最高反射回波時，斜探頭的入射點所對應(yīng)的試塊上的角度刻度或K值刻度指示即為該探頭的折射角或K值(見圖42)。此時探頭殼側(cè)面與R100圓心的刻度線所對應(yīng)的點即為入射點。(4)斜探頭入射點和斜率的測定1) 斜探頭的入射點測定。~。這是因為在探傷前按一定的比例在超聲儀熒光屏上作有距離—波幅曲線。超聲檢測因其固有特點，它比較適合于檢測焊縫中的平面型缺陷，如裂紋、未焊透、未熔合等。兩個探頭置于焊縫的同一側(cè)，并分別置于工件的兩面，以便探測類似中部未焊透這類缺陷。此法多用于具有焊縫加強高的工件。探頭多次平行于焊縫移動，此法多用于自動化、半自動或在無法辨認真假反射波時，采用固定位置的一種掃查方式。由于焊縫中的自然缺陷在多數(shù)情況下形狀是復(fù)雜的，有一定的方向性，所以難以找到上述典型波形。探頭以缺陷為中心作環(huán)繞運動。斜探頭的掃查方式一般分為以下幾類：單探頭的掃查、特殊掃查及雙探頭掃查。在焊縫探傷中，由于焊縫加強高的影響及焊縫中存在的缺陷往往是與探測面近于垂直或形成一定角度，所以在一定情況下采用超聲波傾斜入射到工件內(nèi)部的探傷方法，即橫波斜探頭法進行。結(jié)構(gòu)尺寸如圖32所示。3）焊縫探傷常用試塊舉例a.ⅡW試塊 ⅡW試塊是標準試塊其結(jié)構(gòu)尺寸如圖31所示。特別是3N以內(nèi)的缺陷，采用試塊比較法仍然是最有效的定量方法。因此在超聲波探傷前，常用試塊上某一特定的人工反射體來調(diào)整探傷靈敏度?；瘜W(xué)糨糊的耦合效果比較好，也是一種常用的耦合劑。水的優(yōu)點是來源方便，缺點是容易流失，容易使工件生銹，有時不易潤濕工件。為了改善探頭與工件間聲能的傳遞，而加在探頭和檢測面之間的液體薄層稱為耦合劑。探頭種類：用漢語拼音縮寫字母表示。聚焦探頭種類較多。當斜探頭的入射角大于或等于第二臨界角時，在工件中產(chǎn)生表面波，表面波探頭用于探測表面或近表面缺陷。不難看出超聲波探頭在工作時實現(xiàn)了電能和聲能的相互轉(zhuǎn)換，因此常把探頭叫做換能器。反之當晶體材料在交變電場作用下，產(chǎn)生伸縮變形的效應(yīng)稱為逆壓電效應(yīng)。(2) 探頭超聲波探頭是組成超聲波檢測系統(tǒng)的最重要組件之一。C型：C型顯示也是一種圖象顯示，屏幕的橫坐標和縱坐標都代表探頭在工件表面的位置，探頭接收信號幅度以光點輝度表示，因而當探頭在工件表面移動時，屏上顯示出被探工件內(nèi)部缺陷的平面圖象，但不能顯示缺陷的深度。按缺陷顯示方式分類，超聲