【正文】 137Cs放射源的基本結(jié)構(gòu)圖 電流電離室電離室有兩類：一類是，測量單個(gè)入射離子的稱為脈沖電離室，這在測厚儀表中很少應(yīng)用。溫度漂移及長期漂移是影響測量精度的主要因素。中心由圓棒、圓筒或細(xì)絲形成另一個(gè)電極。 電流電離室結(jié)構(gòu)圖。由于電離電流很小，為了得到足夠的電壓降，RL值應(yīng)取得特別高。數(shù)據(jù)采集(DAQ)，是指從傳感器和其它待測設(shè)備等模擬和數(shù)字被測單元中自動(dòng)采集或產(chǎn)生信息的過程。 PCI6221數(shù)據(jù)采集卡的組成數(shù)據(jù)采集卡主要由以下四個(gè)部分組成：1)多路開關(guān)多路開關(guān)將多路信號輪流切換到放大器的輸入端，以實(shí)現(xiàn)多參數(shù)多路信號的分時(shí)采集。如果被測信號變化很慢，也可不用采樣保持器。其他相關(guān)電路，如定時(shí)/計(jì)數(shù)器、總線接口電路等，也集成在一塊電路板上，以完成對信號的采集、放大及模/數(shù)轉(zhuǎn)換任務(wù)。 PCI6221數(shù)據(jù)采集卡的引腳圖 數(shù)據(jù)采集卡與計(jì)算機(jī)的通信PCI是Peripheral Component Interconnect(外設(shè)部件互連標(biāo)準(zhǔn))的縮寫，是Intel公司1991年推出的用于定義局部總線的標(biāo)準(zhǔn)。PCI總線也支持總線主控技術(shù)，允許智能設(shè)備在需要時(shí)取得總線控制權(quán)，以加速數(shù)據(jù)傳送。PCI插槽是主板的主要擴(kuò)展插槽，通過插接不同的擴(kuò)展卡可以獲得目前電腦能實(shí)現(xiàn)的幾乎所有功能，是名副其實(shí)的“萬用”擴(kuò)展插槽。再通過微小電流放大電路，將從電流電離室出來的微弱電壓信號給予放大，再將放大后的電壓信號傳給PCI6221數(shù)據(jù)采集卡。LabVIEW集成了與滿足GPIB、VXI、RS232和RS485協(xié)議的硬件及數(shù)據(jù)采集卡通訊的全部功能。圖形化的程序語言，又稱為“G”語言。使用它進(jìn)行原理研究、設(shè)計(jì)、測試并實(shí)現(xiàn)儀器系統(tǒng)時(shí)，可以大大提高工作效率。采用虛擬儀器技術(shù)構(gòu)建測試儀器，開發(fā)效率高，可維護(hù)性強(qiáng)；測試精度、穩(wěn)定性和可靠性能夠得到充分保證；具有很高的性能價(jià)格比，節(jié)省投資，便于設(shè)備更新和功能轉(zhuǎn)換與擴(kuò)充。目前常用的虛擬儀器硬件結(jié)構(gòu)形式主要有以下幾種。VXI系統(tǒng)：它是以VXI(VME eXtension For Instrumentation)標(biāo)準(zhǔn)總線儀器模塊與計(jì)算機(jī)為儀器硬件平臺組成的虛擬儀器測試系統(tǒng)。而本設(shè)計(jì)采用的是PCI6221數(shù)據(jù)采集卡，故采用的是PCDAQ系統(tǒng)。開發(fā)虛擬儀器必須有合適的軟件工具，目前的虛擬儀器軟件開發(fā)工具有如下兩類：文本式編程語言如Visual C++、Visual BASIC、LabWindows/CVI等；圖形化編程語言如LabVIEW、HPVEE等。虛擬儀器是一種軟件化的測量裝置，用戶可以通過軟件定義一臺虛擬儀器和虛擬面板，然后通過計(jì)算機(jī)進(jìn)行控制，計(jì)算機(jī)就像一臺萬用的儀器一樣，只要改變軟件就可以改變它的功能。虛擬儀器一般運(yùn)行于Windows環(huán)境，因此可以同時(shí)啟動(dòng)多個(gè)對象，組成一個(gè)測量系統(tǒng)。 基于射線連續(xù)測厚系統(tǒng)的軟件框圖： 基于γ射線連續(xù)測厚系統(tǒng)的軟件框圖首先是由數(shù)據(jù)采集卡采集信號，接著將信號進(jìn)行濾波放大處理，再將處理后的信號進(jìn)行標(biāo)度變換，標(biāo)度變換后用波形圖和數(shù)值兩種形式顯示，如果最后的厚度值沒有在上、下限范圍之內(nèi)，則報(bào)警提示。(a)(b)所示，其總框圖程序如附錄所示。在表格中就會(huì)出現(xiàn)按時(shí)間先后順序排列的數(shù)據(jù)。(a)所示： (a) 帶通濾波器說明圖 (b)所示：(b) 信號濾波處理程序本設(shè)計(jì)在帶通濾波器的高截止頻率和低截止頻率分別引出一個(gè)輸入控件以便在前面板的操作中，能夠方便快捷的對高截止頻率和低截止頻率進(jìn)行調(diào)整。(a)所示： (a) 信號放大程序放大后的信號，(b)所示的數(shù)據(jù)大小計(jì)算器，來運(yùn)算出整個(gè)數(shù)組里包含多少個(gè)元素，再把得出來的數(shù)據(jù)傳給顯示及報(bào)警程序中的For循環(huán)中。由于是連續(xù)的測厚，需要連續(xù)的顯示，所以將顯示和報(bào)警的框圖程序放在一個(gè)For循環(huán)當(dāng)中，以保證數(shù)據(jù)的連續(xù)顯示。 數(shù)據(jù)存儲在運(yùn)行程序時(shí)，點(diǎn)擊前面板的開始檢測后，就可以選擇點(diǎn)擊數(shù)據(jù)存儲。綜合上述的情況，可以看出本設(shè)計(jì)運(yùn)用LabVIEW軟件實(shí)現(xiàn)了信號的采集及處理、具體厚度值的顯示及報(bào)警和數(shù)據(jù)的保存與讀取。如果存在語法錯(cuò)誤，則當(dāng)啟動(dòng)快捷工具欄的“運(yùn)行”按鈕時(shí)，該按鈕變成一個(gè)折斷的箭頭，程序不能被執(zhí)行。在沒有被執(zhí)行的代碼將呈灰色顯示，執(zhí)行后的代碼呈高亮顯示，并顯示數(shù)據(jù)流上的數(shù)據(jù)值。測量精度也達(dá)到了預(yù)定要求。(4) 系統(tǒng)可方便的利用計(jì)算機(jī)強(qiáng)大的網(wǎng)絡(luò)功能，擴(kuò)展儀器的遠(yuǎn)程監(jiān)控功能。PCI插槽是基于PCI(Peripheral Component Interconnect)局部總線而設(shè)計(jì)的擴(kuò)展插槽，其位寬為32位或64位，工作頻率為33MHz，最大數(shù)據(jù)傳輸率為133MB/sec(32位)和266MB/sec(64位)。 展望隨著計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)的迅速普及，遠(yuǎn)程控制作為計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)的一項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù)，也越來越受到重視。參考文獻(xiàn)1. 張俊哲. 無損檢測技術(shù)及其應(yīng)用[M],北京:科學(xué)出版社, 1993.2. 耿榮生. 新千年的無損檢測技術(shù)[J],無損檢測, 2001年第23卷第1期.3. 鄭世才. 射線檢測[M],北京:北京大學(xué)出版社, 1987.4. 王其俊. 同位素儀表[M],北京：原子能出版社,1984.5. 劉君華. 檢測技術(shù)與測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)[D],西安交通大學(xué)出版社,1998.6. 徐莉. 我國射線檢測技術(shù)的發(fā)展[J],無損檢測，2007,第10期.7. 李家偉. 無損檢測手冊[M]，機(jī)械工業(yè)出版社，2002.8. 江晶. 薄膜X射線測厚儀的設(shè)計(jì)和軟件開發(fā)[D]，北京化工大學(xué)，.9. 田世鋒. 幾種測厚儀器的研究現(xiàn)狀及其應(yīng)用[J],中南工業(yè)大學(xué)學(xué)報(bào)，2003,34(2).10. 岳臨平. γ射線測厚儀控制系統(tǒng)在中厚板軋制中的應(yīng)用[J]，無損檢測，2006,第14期.11. 高福兵. 基于NiosII的γ射線厚度測量儀表的研究與設(shè)計(jì)[D]，重慶自動(dòng)化學(xué)院，.12. 劉以思等. γ測厚儀的設(shè)計(jì)[J],核電子學(xué)和探測技術(shù),1996,16(1):pp28.13. 楊化中,姚澤恩,賈文寶等. 散料γ射線測厚方法的研究[J],核電子學(xué)與探測技術(shù),1998,18(1):2124.14. 劉興來，徐立勛. 一種用于管道外照法的γ射線探傷儀[J]，無損檢測，1999(8)：362.15. 王紅巖, 漆德虎, [J]，核電子學(xué)與探測技術(shù)，2004 年第1 期.16. [J], 商洛師范?？茖W(xué)校學(xué)報(bào)，.17. 程虎. 虛擬儀器的現(xiàn)狀和發(fā)展趨勢[J]，現(xiàn)代科學(xué)儀器，1999,4(2):69.18. 俞鐵岳，林建歡，黃宜堅(jiān). 虛擬儀器和LabVIEW簡介[J]，福建電腦，2004,1(2):23.19. 張毅，周邵磊等. 虛擬儀器技術(shù)分析與應(yīng)用[M]，北京：機(jī)械工業(yè)出版社，2004.20. 張斌，何金田. 基于PCI_1710數(shù)據(jù)采集卡的多通道智能化同位素測厚儀設(shè)計(jì)原理與實(shí)現(xiàn)[J]，鄭州大學(xué)物理工程學(xué)院，2006.21. 辛登科，張玉杰. 冷軋帶鋼生產(chǎn)用的γ射線在線測厚儀[J]，陜西科技大學(xué)，200602.22. 陳拉. 薄膜X射線測厚儀的設(shè)計(jì)與開發(fā)[D]，北京化工大學(xué)，20064.23. 汲長松等. 核輻射探測器及其實(shí)驗(yàn)技術(shù)手冊[M]，原子能出版社,1990,10.24. 劉忠立. 半導(dǎo)體輻射探測器[M]，國防工業(yè)出版社,2004,5.25. 肖智敏. 高精度同位素測厚儀[J]，鋁加工,1997,20(4):pp2732.26. 楊化中，姚澤恩，賈文寶. 散料γ射線測厚方法的研究[J]，蘭州大學(xué)現(xiàn)代物理系，1998.27. 季創(chuàng). 可編程控制器在非接觸式X射線測厚儀中的應(yīng)用[J]，鋼鐵,1998,33(8).28. 吳磊. x射線測厚儀的硬件設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[D], 北京化工大學(xué)，20074.29. 徐光. FET徼電流放大器、電測與儀表[J]，1995,(2).30. 陸祖光. 電流測量技術(shù)探討，電測與儀表[J]，1990,(5)附錄 虛擬射線連續(xù)測厚系統(tǒng)框圖程序致謝本設(shè)計(jì)自始至終是在楊立清副教授的精心指導(dǎo)下完成的。在我的課題進(jìn)展中，同時(shí)還得到了同班同學(xué)郭波以及其他實(shí)驗(yàn)室同學(xué)好友的熱心幫助和支持，在此向他們表示最真摯的感謝。對本研究提供過幫助和做出過貢獻(xiàn)的個(gè)人或集體，均已在文中作了明確的說明并表示了謝意。對本文的研究做出重要貢獻(xiàn)的個(gè)人和集體，均已在文中以明確方式標(biāo)明。涉密論文按學(xué)校規(guī)定處理。圖表整潔，布局合理，文字注釋必須使用工程字書寫，不準(zhǔn)用徒手畫3）畢業(yè)論文須用A4單面打印，論文50頁以上的雙面打印4）圖表應(yīng)繪制于無格子的頁面上5）軟件工程類課題應(yīng)有程序清單，并提供電子文檔1）設(shè)計(jì)（論文）2）附件：按照任務(wù)書、開題報(bào)告、外文譯文、譯文原文（復(fù)印件）次序裝訂。：任務(wù)書、開題報(bào)告、外文譯文、譯文原文（復(fù)印件）。作者簽名： 日期： 年 月 日學(xué)位論文版權(quán)使用授權(quán)書本學(xué)位論文作者完全了解學(xué)校有關(guān)保留、使用學(xué)位論文的規(guī)定，同意學(xué)校保留并向國家有關(guān)部門或機(jī)構(gòu)送交論文的復(fù)印件和電子版，允許論文被查閱和借閱。作者簽名：　　 　 　　 日　 期：　　 　 　　 學(xué)位論文原創(chuàng)性聲明本人鄭重聲明：所呈交的論文是本人在導(dǎo)師的指導(dǎo)下獨(dú)立進(jìn)行研究所取得的研究成果。畢業(yè)設(shè)計(jì)（論文）原創(chuàng)性聲明和使用授權(quán)說明原創(chuàng)性聲明本人鄭重承諾：所呈交的畢業(yè)設(shè)計(jì)（論文），是我個(gè)人在指導(dǎo)教師的指導(dǎo)下進(jìn)行的研究工作及取得的成果。從開始的不了解、不熟悉，到如今的熟練操作，這些都離不開楊老師的諄諄教誨。在利用無損檢測