【正文】 孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的 50%作為基準(zhǔn)靈敏度。 掃查方式 a) 探頭沿垂直于鋼板壓延方向，間距不大于 100mm 的平行線進(jìn)行掃查。 ） 圖 28 探頭掃查示意圖 七、 缺陷的測(cè)定與記錄 在檢測(cè)過(guò)程中，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一即作為缺陷： a) 缺陷第一次反射波（ F1）波高大于或等于滿刻度的 50%，即F1≥ 50%。 b) 用雙晶直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長(zhǎng)度時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直，并使缺陷波下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的 25%或使缺陷第一次反射波波高與底面第一次反射波波高之比為 50%。此時(shí)，探頭中心的移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度，探頭中心即為缺陷的邊界點(diǎn)。 e) 當(dāng)板厚較薄，確需采用第二次缺陷波和第二次底波來(lái)評(píng)定缺陷時(shí)，基準(zhǔn)靈敏度應(yīng)以相應(yīng)的第二次反射波來(lái)校準(zhǔn)。 b) 多個(gè)缺陷其相鄰間距小于 100mm 或間距小于相鄰較小缺陷的指示長(zhǎng)度（取其較大值）時(shí)，以各缺陷面積之和作為單個(gè)缺陷指示面積。 九、 鋼板質(zhì)量分級(jí) 鋼板質(zhì)量分級(jí)見(jiàn)表 3。 鋼板橫波檢測(cè) 見(jiàn) JB/ B（規(guī)范性附錄）進(jìn)行。為了改善的組織性能，鍛后還要進(jìn)行正火、退火和調(diào)質(zhì)等熱處理。 檢查方法： 直探頭徑向和軸向檢測(cè) 、斜探頭周向及軸向檢測(cè)。 1） 、直 探頭檢測(cè) 用直探頭從筒體外圓面或端面進(jìn)行檢測(cè)，其目的發(fā)現(xiàn)與軸線平行的周向缺陷。 一般原則 鍛件應(yīng)進(jìn)行縱波檢測(cè)，對(duì)筒形和環(huán)形鍛件還應(yīng)增加橫波檢測(cè)。如確有需要也可采用其他對(duì)比試塊。 圖 32 CS Ⅲ標(biāo)準(zhǔn)試塊 耦合劑選擇 應(yīng)采用透聲性好，且不損傷檢測(cè)表面的耦合劑，如機(jī)油、漿糊、甘油和水等 。當(dāng)采用自動(dòng)報(bào)警裝置掃查時(shí)，不受此限。 3）、 工件上三處衰減系數(shù)的平均值即作為該工件的衰減系數(shù)。 單直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定 當(dāng)被檢部位的厚度大于或等于探頭的 3 倍近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度，且探測(cè)面與底面平行時(shí)，原則上可采用底波計(jì)算法確定基準(zhǔn)靈敏度。 掃查靈敏度一般不得低于最大檢測(cè)距離處的 φ 2mm平底孔當(dāng)量直徑。 500mm 處底波與φ 2 平底孔回波的分貝差為 Δ =20lg22lg20 ffB D xPP ? ??=20lg 2 ???? 探頭對(duì)準(zhǔn)完好區(qū)圓柱底面，衰減 55dB，調(diào)“增益”使底波 B1 最高基準(zhǔn) 60%高，然后用“衰減器”增益 46dB， 即去掉 46dB ,保留 9dB,這時(shí)φ 2 靈敏度就調(diào)節(jié)好了。 六 缺陷 回 波的判定 1 當(dāng)量直徑超過(guò)φ 4mm的單個(gè)缺陷（其缺陷間距大于 50mm） ，要測(cè)定波幅，缺陷大小和位置（缺陷較小時(shí)，用當(dāng)量法當(dāng)量，當(dāng)缺陷較大時(shí)，用 6dB 法測(cè)定其邊界和面積范圍。 4 當(dāng)缺陷回波和底面波都很低甚至消失時(shí)，說(shuō)明鍛件中存在大面積且傾斜的缺陷或在檢測(cè)面附近有大缺陷。 N= mmD 204 22 ???? 3N=3 =250mm Δ =20lg1221 lg40 xxPPff ? +2α (X2X1) =40lg250400+2 (400250) = φ 4+=φ 4+ 該鍛件評(píng)為Ⅲ級(jí)。超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí)選擇應(yīng)符合制造、安裝、在用等有關(guān)規(guī)范、標(biāo)準(zhǔn)及設(shè)計(jì)圖樣規(guī)定。 B 級(jí)檢測(cè)： a) 母材厚度為 8mm～ 46mm 時(shí)，一般用一種 K值探頭采用直射波法和一次反射波法在對(duì)接焊接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。 d) 應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測(cè)。如焊接接頭余高磨平，探頭應(yīng)在焊接接頭及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查，見(jiàn)圖 34。其中一個(gè)折射角應(yīng)為 45176。的窄間隙焊縫，如有可能應(yīng)增加對(duì)檢測(cè)與坡口表面平行缺陷有效的檢測(cè)方法。 檢測(cè)曲面工件時(shí)，如檢測(cè)面曲率半徑 R ≤ W2/4 時(shí)（ W 為探頭接觸面寬 度，環(huán)縫檢測(cè)時(shí)為探頭寬度，縱縫檢測(cè)時(shí)為探頭長(zhǎng)度），應(yīng)采用與檢測(cè)面曲率相同的對(duì)比試塊，反射孔的位置可參照標(biāo)準(zhǔn)試塊確定。檢測(cè)表面應(yīng)平整，便于探頭的掃查，其表面粗糙度 Ra 值應(yīng)小于或等于 m，一般應(yīng)進(jìn)行打磨。 c） 去除余高的焊縫，應(yīng)將余高打磨到與鄰近母材平齊。 推薦采用的斜探頭 K 值 板厚 T， mm K 值 6～ 25 ～ （ 72176。） 46～ 120 ～ （ 60176。） K 值選擇 1）、使聲束能掃查到整個(gè)焊縫截面 2）、使聲束中心線盡量與主要危險(xiǎn)性缺陷垂直 3）、保證有足夠的檢測(cè)靈敏度 K≥T lba o?? a T b 檢測(cè)頻率 檢測(cè)頻率一般為 2MHz～ 5MHz。 b） 檢測(cè)靈敏度：將無(wú)缺陷處第二次底波調(diào)節(jié)為熒光屏滿刻度的100%。如果距離－波幅曲線繪制在熒光屏上，則在檢測(cè)范圍內(nèi)不低于熒光屏滿刻度的 20%。 c） 檢測(cè)橫向缺陷時(shí)，應(yīng)將各線靈敏度均提高 6dB。 f） 掃查靈敏度不低于最大聲程處的評(píng)定線靈敏度。的左右轉(zhuǎn)動(dòng)。的斜向掃查。 b） 縱縫 檢測(cè)時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑與檢測(cè)面曲率半徑之差應(yīng)小于 10%。 c） 環(huán)縫檢測(cè)時(shí)，對(duì)比試塊的曲率半徑應(yīng)為檢測(cè)面曲率半徑的 倍 ～ 。 4 缺陷最大反射波幅的測(cè)定 將探頭移至缺陷出現(xiàn)最大反射波信號(hào)的位置，測(cè)定波幅大小，并確定它在距離－波幅曲線圖中區(qū)域。 2) 當(dāng)缺陷反射波峰值起伏變化，有多個(gè)高點(diǎn)，且位于Ⅱ區(qū)或Ⅱ區(qū)以上時(shí)，使波幅降到熒光屏滿刻度的 80%后，應(yīng)以端點(diǎn) 6dB法測(cè)其指示長(zhǎng)度。 3 相鄰兩缺陷在一直線上，其間距小于其中較小的缺陷長(zhǎng)度時(shí)，應(yīng)作為一條缺陷處理，以兩缺陷長(zhǎng)度之和作為其指示長(zhǎng)度（間距不計(jì)入缺陷長(zhǎng)度）。當(dāng)折算后的缺陷累計(jì)長(zhǎng)度小于單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度時(shí)，以單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度為準(zhǔn)。 表 23 焊接接頭質(zhì)量分級(jí) mm 等級(jí) 板厚 T 反射波幅 (所在區(qū)域 ) 單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度 L 多 個(gè)缺陷累計(jì)長(zhǎng)度 L′ Ⅰ 6～ 400 Ⅰ 非裂紋類缺陷 6～ 120 Ⅱ L＝ T /3，最小為 10，最大不超過(guò) 30 在任意 9T 焊縫長(zhǎng)度范圍內(nèi) L′不超過(guò) T 120～400 L＝ T /3，最大不超過(guò) 50 Ⅱ 6～ 120 Ⅱ L＝ 2 T/3，最小為 12，最大不超過(guò) 40 在任意 L′不超過(guò) T 120～400 最大不超過(guò) 75 Ⅲ 6～ 400 Ⅱ 超過(guò)Ⅱ級(jí)者 超過(guò)Ⅱ級(jí)者 Ⅲ 所有缺陷 Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ 裂紋等危害性缺陷 注 1： 母材板厚不同時(shí)，取薄板側(cè)厚度值。 八 缺陷評(píng)定 1 超過(guò)評(píng)定線的信號(hào)應(yīng)注意其是否具有裂紋等危害性缺陷特征，如有懷疑時(shí)，應(yīng)采取改變探頭 K 值、增加檢測(cè)面、觀察動(dòng)態(tài)波型并結(jié)合結(jié)構(gòu)工藝特征作判定，如對(duì)波型不能判斷時(shí)，應(yīng)輔以其他檢測(cè)方法作綜合判定。 a） 缺陷當(dāng)量直徑 φ ，用當(dāng)量平底孔直徑表示，主要用于直探頭檢測(cè)，可采用公式計(jì)算，距離－波幅曲線和試塊對(duì)比來(lái)確定缺陷當(dāng)量尺寸。 2 對(duì)所有反射波幅達(dá)到或超過(guò)定量線的缺陷，均應(yīng)確定其位置、最大反射波幅和缺陷當(dāng)量。 2）探頭接觸面修磨后，應(yīng)注意探頭入射點(diǎn)和 K 值的變化， 并用曲率試塊作實(shí)際測(cè)定。 圖 21 四種基本掃查方法 曲面工件（直徑小于或等于 500mm）對(duì)接焊接接頭的超聲檢測(cè) a） 檢測(cè)面為曲面時(shí)，可盡量按平板對(duì)接焊接接頭的檢測(cè)方法進(jìn)行檢測(cè)。 圖 20 鋸齒型 掃查 b）不同檢測(cè)技術(shù)等級(jí)對(duì)橫向缺陷的檢測(cè)要求見(jiàn) 。探頭前后移動(dòng)的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊接接頭截面，在保持探頭垂直焊縫作前后移動(dòng)的同時(shí)，還應(yīng)作 10176。 e） 工件的表面耦合損失和材質(zhì)衰減應(yīng)與試塊相同，否則應(yīng)按附錄 F（規(guī)范性附錄）的規(guī)定進(jìn)行傳輸損失補(bǔ)償。 表 19 距離 波幅曲線的靈敏度 試塊型式 板厚， mm 評(píng)定線 定量線 判廢線 CSKⅡ A 6～ 46 φ 24018dB φ 24012dB φ 2404dB ＞ 46～ 120 φ 24014dB φ 2408dB φ 240+2dB CSKⅢ A 8～ 15 φ 1612dB φ 166dB φ 16+2dB ＞ 15～ 46 φ 169dB φ 163dB φ 16+5dB ＞ 46～ 120 φ 166dB φ 1 6 φ 6+10dB b） 壁厚大于 120mm 至 400mm 的焊接接頭，其距離－波幅曲線靈敏度按表 20的規(guī)定。 掃描速度的調(diào)節(jié) 1）、聲程法 2）、水平法 3）、深度法 距離－波幅曲線的繪制 距離－波幅曲線應(yīng)按所用探頭和儀器在試塊上實(shí)測(cè)的數(shù)據(jù)繪制而成，該曲線族由評(píng)定線、定量線和判廢線組成。該項(xiàng)檢測(cè)僅作記錄，不屬于對(duì)母材的驗(yàn)收檢測(cè)。） 120～ 400 ～ （ 60176。） 25～ 46 ～ （ 68176。 探頭 K值（角度） 斜探頭的 K 值（角度）選取可參照表的規(guī)定。）。 三、 檢測(cè)準(zhǔn)備 檢測(cè)面 a） 檢測(cè)區(qū)的寬度應(yīng)是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度 30%的一段區(qū)域，這個(gè)區(qū)域最小為 5mm，最大為 10 mm，見(jiàn)圖 38。檢測(cè)時(shí)，將探頭放在與焊縫及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查 圖 33 斜平行掃查 圖 34 平行掃查 二、試塊 采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為 CSKⅠ A、 CSKⅡ A、 CSKⅢ A和 CSKⅣ A 圖 35 CSKⅠ A 試塊 圖 36 CSKⅡ A 試塊 圖 37 CSKⅢ A 試塊 CSKⅣ A 試塊尺寸 mm CSKⅣ 被檢工件厚度 對(duì)比試塊厚度 T 標(biāo)準(zhǔn)孔位置 b 標(biāo)準(zhǔn)孔直徑 d ＞ 120～ 150 135 T/ T/2 (1/4 in) ＞ 150～ 200 175 T/ T/2 (5/16 in) ＞ 200～ 250 225 T/ T/2 (3/8 in) ＞ 250～ 300 275 T/ T/2 (7/16 in) ＞ 300～ 350 325 T/ T/2 (1/2 in) ＞ 350～ 400 375 T/ T/2 (9/16 in) CSKⅠ A、 CSKⅡ A 和 CSKⅢ A 試塊適用壁厚范圍為 6mm～ 120mm的焊接接頭， CSKⅠ A 和 CSKⅣ A 系列試塊適用壁厚范圍大于 120mm 至400mm 的焊接接頭。兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于 10176。 a) 母材厚度為 8mm～ 46mm 時(shí)，一般用兩種 K值探頭采用直射波法和一次反射波法在焊接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)?！?20176。 c) 母材厚度大于 120mm 至 400mm 時(shí)，一般用兩種 K 值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測(cè)?？捎靡环NK 值探頭采用直射波法和一次反射波法在對(duì)接焊接接頭的單面單側(cè)進(jìn)行檢測(cè)。 解：根據(jù)密集缺陷評(píng)級(jí)： 10024 100%=6%＞ 5% 評(píng)為Ⅲ級(jí) 根據(jù)底波降低量評(píng)級(jí) [B]G[B]F=4430=14dB 評(píng)為Ⅱ級(jí)， 答該鍛件評(píng)為 Ⅲ 級(jí)。 七 鍛件評(píng)定 見(jiàn) JB/ 標(biāo)準(zhǔn) 例： 用 探頭檢測(cè) 400mm 厚的鋼鍛件，鋼中 CL=5900m/s，衰減系數(shù)α =，檢測(cè)靈敏度為 400mm/φ 4mm 平底孔，檢測(cè)中在 250mm 處發(fā)現(xiàn)一處缺陷，其波高比基準(zhǔn)波高 20dB，根據(jù)JB/ 標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定該鍛件的質(zhì)量級(jí)別。餅形鍛件記錄大于或大于φ 4mm 當(dāng)量直徑缺陷密集區(qū)，其他鍛件應(yīng)記錄大于或大于φ 3mm 當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)，密集區(qū)密集為 50mm 50mm 的方塊最為最小量度單位，其邊界可用 6dB 法決定。當(dāng)缺陷長(zhǎng)度 X≥3N 時(shí)，常用當(dāng)量計(jì)算法或當(dāng)量 AVG 曲線法定量，當(dāng)缺陷長(zhǎng)度 X＜ 3N時(shí)，用 試