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《em樣品的制備》ppt課件(文件)

2025-01-26 00:24 上一頁面

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【正文】 (f)(100000) 離子減薄 金屬陶瓷的結構分析 (a) (b) (c) 圖 透射電鏡下觀察到的孿晶 透射電鏡下 金屬陶瓷 的孿晶 ? 透射電子顯微鏡成像原理 質厚襯度像 試樣中各部位因質量和厚度的差異而對入射電子的散射能力不同,引起圖像中襯度的變化,稱質厚襯度像。 暗場像 —— 用物鏡光欄擋住透射束及其余衍射束,而只讓一束強衍射束通過光欄參與成像的方法,稱為暗場成像,所得圖象為暗場像。 為了使衍襯像與晶體內部結構關系有機的聯系起來,從而能夠根據衍襯像來分析晶體內部的結構,探測晶體內部的缺陷,必須建立一套理論,這就是衍襯運動學理論和動力學理論。 衍襯像形成原理 明場像 暗場像 ? 必須指出: ① 只有晶體試樣形成的衍襯像才存明場像與暗場像之分,其亮度是明暗反轉的,即在明場下是亮線,在暗場下則為暗線,其條件是,此暗線確實是所造用的操作反射斑引起的。 生物試樣 質厚襯度像圖例 Au/Ge分形 衍射襯度像 晶體試樣中,各部位滿足 Bragg條件的程度不同,引起圖像中襯度的差異,稱衍射襯度像 衍射襯度是來源于晶體試樣各部分滿足布拉格反射條件不同和結構振幅的差異。 (3) 化學拋光預減薄 —— 從圓片的一側或兩則將圓片中心區(qū)域減薄至數 100?m 左右;從薄片上切取?3mm的圓片。 特點: ( 1)不破壞樣品表面; ( 2)最終復型是帶有重金屬投影的碳膜,穩(wěn)定性和導電導熱性好; ( 3)分辨率與塑料一級復型相當; 金屬薄膜樣品的
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