【正文】 40分鐘 開剝光纜 、 進(jìn)接頭盒固定 、 套塑料軟管保護(hù) 、 接通線路 OTDR基本知識 注意事項(xiàng)： ?請小心連接光纖，否則測試結(jié)果將受到較大影響。 C、散射系數(shù)： — 81 注意： 此參數(shù)很重要。 I、表中的標(biāo)識：設(shè)為默認(rèn)值。即斜率的測量是以線形來判斷 的，它的精確度比兩點(diǎn)要高。若設(shè)為沒有，測沒有斜率數(shù)據(jù)。 B、反射門限：全部 注意： 此值為默認(rèn)值。 E、分辨率：自動 注意： 分辨率設(shè)為自動才能根據(jù)脈沖和范圍的改變而自動改變?yōu)橄鄳?yīng)的標(biāo)準(zhǔn)值。 C、脈沖：視探測距離而定 3us 10us 注意： 脈沖設(shè)得越窄，盲區(qū)越小，但探測距離短；脈沖設(shè)的越寬，盲區(qū)越大，但探測距離長。 ? OTDR的參數(shù)設(shè)置： 線路故障判斷和纖芯損耗測試中，正確設(shè)置 OTDR的參數(shù)才能快速有效的判斷出故障點(diǎn)的位置和纖芯損耗值。 基于以上原因，在光纖始端接受數(shù)值孔徑以內(nèi)的返回散射光，同樣具有光纖損耗的信息。這就是背向散射法測量的光纖損耗的原理?，F(xiàn)將我單位使用的 OTDR參數(shù)設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)歸納如下： 探測條件參數(shù)設(shè)置： A、激光： 1550nm 注意： 我單位目前所用光纖的波長為 1550nm,故測量時(shí)須設(shè)為該值，此值改變時(shí)，光纖參數(shù)菜單中的波長和散射系數(shù)值也會相應(yīng)的發(fā)生改變。 一般設(shè)為上述兩個(gè)參數(shù)值。 F、探測時(shí)間： 12S 注意： 該項(xiàng)設(shè)置范圍可從 5秒至 10分鐘，但線路測試時(shí)一般為 12秒。若設(shè)為沒有，則測試?yán)w芯時(shí)跡線 圖不顯示反射數(shù)據(jù)，但時(shí)間表中有顯示。 D、光纖末端門限： 自動 注意： 此值為默認(rèn)值。 G、發(fā)射光纜：不 注意： 此值為默認(rèn)值。 光纖參數(shù)設(shè)置 A、波長： 1550nm SM 注意： 我單位目前采用的光纖都是單模光纖。散射系數(shù)參數(shù)的正確設(shè)置關(guān)系到線路損耗的測量是否準(zhǔn)確。 ?請勿使用非給定的 AC/DC轉(zhuǎn)換器，或電池。） ?電池一定要充滿，否則將縮短其可使用時(shí)間。（正常溫度為： 25℃ ） ?當(dāng) MTS工作于電池供電的情況，建議背景燈不使用 30秒選項(xiàng)，以盡量延長電池的供電時(shí)間。 11）一般光接頭的使用壽命為幾百次。 13）光接頭必須清潔而無灰塵。 3） CPU、 顯示器單元 ， 主要用于信息處理和顯示信息 。 工作原理： OTDR在電路的控制之下，按照設(shè)定的參數(shù)向光口發(fā)射光脈沖信號，之后 OTDR不斷的按照一定的時(shí)間間隔從光口接收從光纖中反射回的光信號，分別按照 瑞利背向散射 （測試光釬的損耗）和 菲涅爾反射 （測試光釬的反射）的原理對光纖進(jìn)行相應(yīng)的測試。光纖中某一點(diǎn)的后向回波可以反映出光纖中光功率的分布情況，椐此可以測試出光纖的損耗。所有接頭中，其損耗凡超過該門限值的即稱為事件（即不合格接點(diǎn)）。一般清況下，超過該值， OTDR即認(rèn)為光纖已到末端。 反射事件在軌跡中產(chǎn)生尖峰信號（有一個(gè)急劇的上升和下降） 非反射事件 ：在光纖中有一些損耗但沒有光反射的部分發(fā)生。 OTDR的常規(guī)使用 距離 /分辨率 ： 對被測光纖設(shè)置的測試距離和采樣點(diǎn)的間隔。反之，脈沖寬度越窄， OTDR發(fā)出的光功率也就越低，測試的距離也就越近。 OTDR的常規(guī)使用 折射率： 此處折射率的數(shù)據(jù)應(yīng)為被測光纖折射率的數(shù)據(jù) 。 背向散射： 此處背向散射的數(shù)據(jù)應(yīng)為被測光纖背向散射的數(shù)據(jù) 。但由于在每一個(gè)采樣點(diǎn)上均有噪聲信號，因此將嚴(yán)重的影響到測試的準(zhǔn)確度。 OTDR的常規(guī)使用 軌 跡分析 正常軌跡 脈沖設(shè)置較小 阻斷圖形 衰減圖形 嚴(yán)重受損圖形 成端故障圖形 發(fā)光受阻圖形 儀表發(fā)光受損圖形 OTDR的常規(guī)使用 正常圖形 這是一條比較完好的纖芯背向散射圖形。 OTDR的常規(guī)使用 成端故障圖形 此圖反映出成端無正常反射峰，說明有幾個(gè)問題： 法蘭盤故障 光纜纖芯故障 尾纖故障 OTDR的常規(guī)使用 發(fā)光受阻圖形 此圖無背向散射圖形顯示，說明儀表發(fā)光部分 故障或成端部分如：尾纖、法蘭盤故障等。 OTDR的常規(guī)使用 OTDR的相關(guān)介紹 OTDR基本知識 3 1OTDR的工作原理 3 3 2內(nèi)容提要 OTDR的常規(guī)使用 3 43 5 光纖斷點(diǎn)定位與誤差分析 光纖斷點(diǎn)定位與誤差分析 ? 障礙點(diǎn)的判斷 : 一種為斷纖障礙，一種為光纖鏈路某點(diǎn)衰減增大性障礙。發(fā)現(xiàn)異常情況即可查找到障礙點(diǎn)發(fā)生的位 置。 ? 分類解決 ? 1. 部分光纖阻斷障礙 精確調(diào)整 OTDR儀表的折射率、脈寬和波長，使之與被測纖芯的參數(shù)相同，盡可能減少測試誤差。若障礙點(diǎn)與接頭距離相差較大，則為纜內(nèi)障礙。 用 OTDR儀表精確測試障礙點(diǎn)至鄰近接頭點(diǎn)的相對距離 (纖長 )，由于光纜在設(shè)計(jì)時(shí)考慮其受力等因素，光纖在纜中留有一定的余長，所以 OTDR測試的纖長不等于光纜皮長，必須將測試的纖長換算成光纜長度 (皮長 )，再根據(jù)接頭的位置與纜的關(guān)系以確定障礙點(diǎn)的位置，即可精確定位障礙點(diǎn)。P為該光纜的余長，因光纜結(jié)構(gòu)不同而異。Sb為單盤光纜標(biāo)記的皮長尺碼長度。 La 式中 :Ly為障礙點(diǎn)的皮長尺碼值 。實(shí)距證明這種方法簡單有效。 ? 光纖衰耗過大造成的障礙 用 OTDR測試系統(tǒng)障礙纖芯，如果發(fā)現(xiàn)障礙是衰耗突變引起的，可基本判定障礙點(diǎn)位于某接頭出處，多是由于彎曲損耗造成的。另外，接頭盒進(jìn)水也是造成接頭處障礙的主要原因之一。 OTDR在短距離測試狀態(tài)下分辨率很高，可以比較準(zhǔn)確地測出是跳纖還是終端盒內(nèi)障礙。如余纖盤留規(guī)整，熱縮管固定牢用，接頭盒密封要嚴(yán)密等。 3 測量距離 10E5177。若直接測，必須把游標(biāo)打在盲區(qū)后曲線趨平直的地方，不然可能造成較大的測試誤差。 光纖斷點(diǎn)定位與誤差分析 誤差產(chǎn)生的原因 其它原因 A、光纜在敷設(shè)安裝時(shí)和資料的記載產(chǎn)生的偏差 B、 OTDR 測試的是光纜中光纖的物理長度，而光纜線路從設(shè)計(jì)資料 上的數(shù)據(jù)，經(jīng)過敷設(shè)的過程，到每個(gè)標(biāo)石上的數(shù)字，盡管進(jìn)行過各 種各樣的折算，仍會產(chǎn)生一些偏差。只有準(zhǔn)確地設(shè)置了測試儀表的基本參數(shù)，才能為準(zhǔn)確的測試創(chuàng)造條件。在光纜接續(xù)監(jiān)測時(shí)，應(yīng)記錄測試端至每個(gè)接頭點(diǎn)位置的光纖累計(jì)長度及中繼段光纖總衰減值，同時(shí)也將測試儀表型號、測試時(shí)折射率的設(shè)定值進(jìn)行登記，準(zhǔn)確記錄各種光纜余留。 光纖斷點(diǎn)定位與誤差分析 如何精確定位斷點(diǎn) 保持測試條件的一致性 障礙測試時(shí)應(yīng)盡量保證測試儀表型號、操作方法及儀表參數(shù)設(shè)置等的一致性，使得測試結(jié)果有可比性。當(dāng)故障點(diǎn)附近路由上沒有明顯特征，具體障礙點(diǎn)現(xiàn)場無法確定時(shí)，可采用在就近接頭處測量等方法。畫這條線的方法有兩種。 光纖斷點(diǎn)定位與誤差分析 如何精確定位斷點(diǎn) L