質(zhì)量工程師講義-統(tǒng)計過程控制spc中級-wenkub
2023-03-27 02:10:08 本頁面
【正文】 圖。 （二）控制圖原理的第一種解釋 點子出界就判異 —— 小概率事件原理 （三）控制圖原理的第二種解釋 區(qū)分偶然因素與異常因素兩類因素 四、控制圖在貫徹預防原則中的作用 ? 及時告警。 2. 第二類錯誤：漏發(fā)警報 過程已經(jīng)異常，但仍會有部分產(chǎn)品落在控制線內(nèi)，這類錯誤發(fā)生的概率記為 β。 ? 交接手續(xù)： 判異準則 ? 新的異常出現(xiàn) —— 恢復 二 、 常規(guī)控制圖的設計思想 （ 1） 點出界就判異 —— 3σ方式 ， 確定α0=% （ 2） 界內(nèi)點排列不隨機 —— 第二類判異準則 三 、 判異準則 常見的異常情況與模式有如下八種： A區(qū)以外； 9點落在中心線的同側； 6點遞增或遞減； 14點中相鄰點上下交替； 3點中有 2點落在中心線同側的 B區(qū)以外； 5點中有 4點落在中心線同一側的 C區(qū)以外； 15點在 C區(qū)中心線上下； 8點在中心線兩側而無一點在Ｃ區(qū)。 二、過程能力指數(shù)（工序能力指數(shù)） （ 一 ） 雙側公差的過程能力指數(shù) ?????6TT6TCp Lu（二）單側公差的過程能力指數(shù) 上單側： ????3TCp UU? ?UT?? ????3TCp LL? ?LT?? （三）有偏移情況的過程能力指數(shù) ? Cpk=min(Cpu， Cpl) T22/TK????（ 0K1） ? ? ? ? ????? 6 TK1CpK1Cp K其中： ε—— μ與公差中心 M偏移量 T—— 公差帶寬 T=TU— TL 則： K: μ 對 M的偏移度， ε=|M μ| ? （四） Cp和 Cpk的比較與說明 Cp—— 反映過程加工的一致性，即“質(zhì)量能力” Cpk—— 反映過程中心 μ與公差中心的偏移情況，是“質(zhì)量能力”與“管理能力”綜合的結果 ?將 Cp與 Cpk兩數(shù)值聯(lián)合使用，可對產(chǎn)品質(zhì)量有更全面的了解。 三、 控制圖 Rx?（ 一 ） 圖的特點：適用范圍廣 靈敏度高 RX ?（ 二 ） 圖的作法 RX ?1. 預備數(shù)據(jù)：觀測值
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