spc統(tǒng)計過程控制論述(ppt87頁)-wenkub
2023-03-11 14:53:07 本頁面
【正文】 到的結(jié)果一致。（ 3Cp（ 1K）））＝ 2Cpk＝（ 1K） Cp＝（ T2ε） /6例題：某零件的熱處理溫度， 假如分布是（ 762， 2） 溫度 設(shè) 定 為 760177。3Cp（ 1K）））使用Cpk.PPU}當(dāng)過程 沒有 處于用標(biāo)準控制圖所定義的統(tǒng)計控制狀態(tài)時 ,3?TPPKUSLX3?TPPUCPU}CPL… 是過程平均值和靠近的規(guī)范極限之差的絕對值與 3倍的所測量的過程標(biāo)準偏差的比值 .… 反映過程中心偏移和離散問題 .客戶要求的產(chǎn)品我們生產(chǎn)的產(chǎn)品LSL USL目標(biāo)值CPK使用 Pp.=使用Cp.USLLSL報告長期 PPK過程潛力指數(shù) :步記住 :1.步第 StatQuality1規(guī)范 :Cpk＝（ 1K） Cp＝（ T2ε） /6假如分布是（ 762， 2） 溫度 設(shè) 定 為 760177。8176。5176。當(dāng)過程處于用標(biāo)準控制圖所定義的統(tǒng)計控制狀態(tài)時 ,{PPL,XLSL=={CPL,:Cp目標(biāo)值LSL USL當(dāng)過程 沒有 處于用標(biāo)準控制圖所定義的統(tǒng)計控制狀態(tài)時 ,6?T當(dāng)過程處于用標(biāo)準控制圖所定義的統(tǒng)計控制狀態(tài)時 ,=USLLSL5σ 233177。1σ 317,000 697,700177。σ： Zlt=， Cpk=?Zst=3Cp ?Zlt=3lt統(tǒng)計基本概念的理解? 正態(tài)分布 ： N（ 60， 52）? 標(biāo)準正態(tài)分布： N（ 0， 12）? 70分的情況下 Z值是? 假如規(guī)格上限是 75分的話，現(xiàn)在的工序能力是 Z=2或是 2σ 。PROCESS過程是一組輸入轉(zhuǎn)化為輸出的相互關(guān)聯(lián)或作用的活動；? 通過質(zhì)量審核、管理評審、過程控制、產(chǎn)品檢驗以及顧客反饋等提供的信息，研究分析＆改進過程，并最終使交付的產(chǎn)品能持續(xù)滿足顧客的要求。本資料來源統(tǒng)計過程控制（ SPC）zen要點? 理解質(zhì)量控制、過程控制和統(tǒng)計過程控制的關(guān)系? 過程能力和過程能力指數(shù)，學(xué)會如何計算? 影響過程能力指數(shù)的主要因素? 過程能力指數(shù)和不合格率之間的關(guān)系? 利用過程分析方法解決過程控制中的實際問題? 控制圖質(zhì)量控制的三個內(nèi)容? 識別并確定過程，以做到及時發(fā)現(xiàn)和排除產(chǎn)品實現(xiàn)過程中的變異，使上（過程）工序的問題不帶到下一（過程）工序中去，以保證過程的穩(wěn)定性和產(chǎn)品質(zhì)量的一致性，這是一項預(yù)防性工作，簡稱過程控制。這是一項改進性工作，簡稱過程改進。CONCTROL) ? Z值是已測定的標(biāo)準偏差（ σ ）有幾個能進入平均值到規(guī)格上下界限（ USL， LSL）之間的測定值。）?Cp ?Cpk?技術(shù) ?技術(shù) +工序管理?最佳條件下的工序能力 ?日常條件下的工序能力?6Cpk?長期內(nèi)的工序能力因工序的中心移動及變動，跟 ZltZst關(guān)系有關(guān)?Zshift=ZstZlt ? Zst=Zlt+6 sigma的品質(zhì)水準是什麼？? 正態(tài)分布的平偏移（ 177。2σ 45,500 308,700177。6σ ?6Sigma品質(zhì)是每百萬個中 ，即 Cp=， Cpk=工序能力? 工序能力的數(shù)學(xué)式– 兩側(cè)有規(guī)格的工序能力SL SU工序能力– 有偏移時的工序能力SL SUKM工序能力– 用語解釋? K：偏移系數(shù)（如果 K=0， Cp=Cpk）? M（ Midrange）：規(guī)格的中心? T（ Tolerane）：公差? SU（ Upper Spec）：規(guī)格上限? SL（ Lower Spec）：規(guī)格下限工序能力– 只有規(guī)格上限時的工序能力SU工序能力– 只有規(guī)格下限時的工序能力SL過程潛力指數(shù) :USLLSL使用Cp.=使用 Pp.… 是過程平均值和靠近的規(guī)范極限之差的絕對值與 3倍的所測量的過程標(biāo)準偏差的比值 .… 反映過程中心偏移和離散問題 .客戶要求的產(chǎn)品我們生產(chǎn)的產(chǎn)品LSL USL目標(biāo)值CPKCPU}CPL3?TPPUUSLX3?TPPKPPU}當(dāng)過程 沒有 處于用標(biāo)準控制圖所定義的統(tǒng)計控制狀態(tài)時 ,使用Cpk.C， 長 期 測試結(jié)果爐溫服從（ 760， 2）的正 態(tài) 分布， 計 算工序能力指數(shù)。Cp＝ 16/12＝ 8176。δ ＝（（ 16－（762760）） /（ 6*2）＝ 1打開 步 :ToolsCapability3… 是規(guī)范范圍與 6倍的所測量的過程標(biāo)準偏差的比值 .… 反映過程離散情況 .Cp3==XLSL==使用 Ppk.6176。δ ＝（（ 16－（ 762760）） /（ 6*2）＝ 1 Cp＝ 1， k＝ 2ε/T＝ （ Φ （ 3*1（1+）） +離散型數(shù)據(jù)分析? 用語解釋– D（ Defect）：缺陷 or不良（事項）? 為了滿足顧客的要求事基而浪費的再作業(yè)或失敗的工作。? DPMO=DPO 1,000,000– 例：上例 DPMO是 1,000,000 DPMO
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