spc使用講解-wenkub
2023-03-09 10:49:52 本頁(yè)面
【正文】 PU及下限能力指數(shù) CPL 3),(333322MinKLSLdRUSLdRZCPLCPUMinCPZLSLXCPLZXUSLCPU???????????? 制程能力評(píng)價(jià) 等級(jí) CPK 說(shuō)明 A ≦ CPK 制程能力極優(yōu) B ≦ CPK≦ 制程能力優(yōu)良，還可改進(jìn) C 1≦ CPK≦ 制程能力平等，須進(jìn)行制程改善 D ≦ CPK≦1 制程能力不佳，應(yīng)全面檢討，全面改進(jìn)，有必要，可停產(chǎn) E 0≦ CPK≦ 制程能力拙劣，應(yīng)立即停止生產(chǎn)，作全面改善 6σ概念 ? 何謂六個(gè) σ製程 ? – 製程精密度 (Cp)= – 製程能力指數(shù) (Cpk)≧ 。 – 占制程問(wèn)題的 15%,可以通過(guò)管制圖分析發(fā)現(xiàn) ﹐ 由制程的人員負(fù)責(zé)改善。 ? 成品改善：對(duì)已經(jīng)製造出來(lái)的不良品加以選別，進(jìn)行全數(shù)檢查並修理或報(bào)廢。成品經(jīng)觀(guān)察、量測(cè)或測(cè)試可衡量其績(jī)效。REV: 02 SPC使用講解 SPC Team 目錄 ? 統(tǒng)計(jì)品管之基本概論 – 數(shù)據(jù) – 基本統(tǒng)計(jì)的量數(shù) – 各種分配 ? 統(tǒng)計(jì)制程管制 SPC – 管制圖的分類(lèi) – XR Control Chart – P Control Chart – 制程能力分析 ? 總結(jié) 數(shù)據(jù) ? 數(shù)據(jù)的意義 ? 數(shù)據(jù)的分類(lèi)（按特性分） – 計(jì)數(shù)值數(shù)據(jù) ﹕ 以個(gè)數(shù)計(jì)算的數(shù)據(jù)或數(shù)據(jù)是間斷的 ﹑ 不連續(xù)的 ﹐ 如不良數(shù)。SPC所管制的製程必須符合連續(xù)性原則。 管制界限的構(gòu)成 制程變異之原因 ? 共同原因 ﹕ 制程中變異的因素在統(tǒng)計(jì)狀態(tài)下 ﹐ 則分配位置 ﹑ 分配散布及分配形狀三種變異。 製程中只有共同原因的變異 製程中有特殊原因的變異 四種管制狀態(tài) 滿(mǎn)足要求 受控 不受控 可接受 1 類(lèi) 3類(lèi) 不可接受 2類(lèi) 4類(lèi) SPC導(dǎo)入流程 建立可解決 問(wèn)題之系統(tǒng) 確認(rèn)關(guān)鍵 製程及特性 導(dǎo)入ＳＰＣ進(jìn)行關(guān)鍵製程 及 特 性 之 管 制 檢討製程能力 符合規(guī)格程序 持續(xù)進(jìn)行製程 改善計(jì)劃 提 報(bào) 及 執(zhí) 行 製程改善計(jì)劃 不足 足夠 SPC工具 管制圖 ? 計(jì)量值管制圖 – XR Chart: 平均值與全距管制圖 – XR Chart: 中位數(shù)與全距管制圖 – Xs Chart: 平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖 – XRm Chart: 個(gè)別值與移動(dòng)全距管制圖 ? 計(jì)數(shù)值管制圖 – P Chart :不良率管制圖 – nP Chart:不良數(shù)管制圖 – C Chart: 缺點(diǎn)數(shù)管制圖 – U Chart: 單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖 管制圖的應(yīng)用
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