手機(jī)電磁兼容測(cè)試演示系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案-wenkub
2023-05-25 05:31:37 本頁(yè)面
【正文】 統(tǒng)主要技術(shù)指標(biāo) 可測(cè)量的項(xiàng)目a) 便攜手機(jī)的機(jī)殼端口雜散騷擾；b) 輔助設(shè)備的機(jī)殼端口連續(xù)騷擾；c) 機(jī)殼端口的輻射騷擾抗擾度測(cè)量。 測(cè)試流程測(cè)試流程也包括兩個(gè)：專(zhuān)用模式測(cè)試流程和空閑模式測(cè)試流程。 測(cè)試布置如圖2所示，通過(guò)SS子系統(tǒng)與手機(jī)建立通信連接，通過(guò)接收控制子系統(tǒng)對(duì)手機(jī)的幅射雜散騷擾信號(hào)進(jìn)行測(cè)量，并通過(guò)預(yù)校準(zhǔn)器來(lái)確定騷擾頻點(diǎn)的騷擾幅值。 抗擾度測(cè)試條件和布置對(duì)收發(fā)信機(jī)進(jìn)行抗擾度測(cè)試時(shí)，發(fā)信機(jī)應(yīng)工作在最大額定輸出功率情況下，采用正常測(cè)試調(diào)制，并建立起通信聯(lián)系。對(duì)于下行鏈路，參考電平等效于在ERP處1KHZ時(shí)的0dBPa,對(duì)于上行鏈路，則等效于在MRP處1KHZ時(shí)的－5dBPa。 注：上行鏈路校準(zhǔn)時(shí)，EUT在圖示位置；下行鏈路校準(zhǔn)時(shí)，無(wú)EUT。 性能判據(jù) 發(fā)信機(jī)在連續(xù)騷擾下的性能判據(jù) 測(cè)試時(shí)，手機(jī)應(yīng)建立并保持通信連接。 收信機(jī)在連續(xù)騷擾下的性能判據(jù) 測(cè)試時(shí)，手機(jī)建立并保持通信連接。5 系統(tǒng)配置圖5系統(tǒng)配置示意圖 幅射雜散騷擾測(cè)試概述該測(cè)試系統(tǒng)主要按照YD10322000有關(guān)規(guī)定對(duì)手機(jī)的電磁兼容輻射雜散性能進(jìn)行測(cè)試，如果不合格必須指出頻率點(diǎn)及其對(duì)應(yīng)的幅度值，以備產(chǎn)品設(shè)計(jì)人員有針對(duì)性地改進(jìn)，將問(wèn)題較早消除，為產(chǎn)品進(jìn)入市場(chǎng)前能順利通過(guò)國(guó)家指定認(rèn)證機(jī)構(gòu)的測(cè)試奠定基礎(chǔ)。 SS子系統(tǒng)a) 功能完成對(duì)手機(jī)的初始化設(shè)置，包括專(zhuān)用模式的初始化和空閑模式的初始化。2） 通信天線(xiàn) 與SS配合使用，與手機(jī)建立通信連接。c) 主要設(shè)備介紹1) 信號(hào)發(fā)生器可以產(chǎn)生306000MHz范圍內(nèi)的連續(xù)正弦波，該設(shè)備選用Agilent8257D－520。3) 控制計(jì)算機(jī)通過(guò)GPIB卡控制頻譜儀的設(shè)置并啟動(dòng)掃描過(guò)程；讀取頻譜儀上的測(cè)試曲線(xiàn)數(shù)據(jù)，然后與指定的極限線(xiàn)進(jìn)行比較，提取騷擾頻點(diǎn)的頻率和幅值信息；逐點(diǎn)逐角度測(cè)試每一個(gè)騷擾頻點(diǎn)并記錄下每一頻點(diǎn)的最大幅值和角度；控制預(yù)校準(zhǔn)器在上述發(fā)現(xiàn)的每一騷擾頻點(diǎn)產(chǎn)生與該頻點(diǎn)最大幅值相等的信號(hào)；生成并打印測(cè)試報(bào)表。3) 軟件自主設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)。c) 主要設(shè)備介紹1) 頻譜儀Agilent E4440A 頻譜儀。 接收控制
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