ito腐蝕分析報(bào)告-wenkub
2023-04-26 22:18:59 本頁面
【正文】 IMS正離子圖譜22,defect area point 22,defect area point 2圖12 2＃（單色）樣品腐蝕處點(diǎn)SIMS負(fù)離子圖譜22,nomal area 2,nomal area圖15 2＃（單色）樣品無腐蝕處點(diǎn)SIMS負(fù)離子圖譜圖14 2＃（單色）樣品無腐蝕處點(diǎn)SIMS負(fù)離子圖譜圖162＃（彩色）樣品腐蝕點(diǎn)氯分布形貌注 意 事 項(xiàng)１．報(bào)告無分析單位公章無效。1＃、2＃樣品SIMS分析中，未見鈉的存在，證明腐蝕部位氯不是來自組件工藝過程中人體的汗水污染，氯可能來自LCD組件ITO工藝或LCD組件清洗工藝的殘留。③ 正常部位（無腐蝕部位）未見氯或氯含量遠(yuǎn)比腐蝕點(diǎn)低圖圖圖1圖15分別是1＃、2＃樣品ITO正常部位（無腐蝕部位）的SIMS分析圖譜，可見，正常部位（無腐蝕部位）不含氯或氯的含量遠(yuǎn)比腐蝕部位低。本次分析采用二次離子質(zhì)譜分析（SIMS）儀開展分析，SIMS分析圖譜見圖4～圖15，圖16是2＃樣品1個腐蝕點(diǎn)的氯的分布圖形。② 2＃（單色屏）樣品腐蝕點(diǎn)具有化學(xué)腐蝕的特征2＃樣品腐蝕發(fā)生在多條ITO上，腐蝕點(diǎn)的外圍形成包圍狀圖形，具有化學(xué)腐蝕的特征。 分析過程、項(xiàng)目觀察樣品外觀見圖1。② FX01JE25電子組件失效分析程序與方法。LCD組件ITO腐蝕分析報(bào)告 合同號：FX0440791 第 16 頁 共15頁報(bào)告編號FX03合 同 號FX0440791總 頁 數(shù)15頁 分 析 報(bào) 告樣品名稱：LCD組件（手機(jī)顯示）型號規(guī)格：＃10154 ＃1082
醫(yī)療健康相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1