ic產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性測試-wenkub
2023-04-08 04:55:33 本頁面
【正文】 0176。 4 級 小于或等于30176。 2a 級 小于或等于30176。 1 級 小于或等于30176。 具體的測試條件和估算結(jié)果可參考以下標(biāo)準(zhǔn) MITSTD883E Method JESD22A108A EIAJED 4701D101 二、環(huán)境測試項目（Environmental test items） PRECON, THB, HAST, PCT, TCT, TST, HTST, Solderability Test, Solder Heat Test ①PRECON:預(yù)處理測試（ Precondition Test ）目的: 模擬IC在使用之前在一定濕度，溫度條件下存儲的耐久力，也就是IC從生產(chǎn)到使用之間存儲的可靠性。 認(rèn)識了典型IC產(chǎn)品的生命周期，我們就可以看到，Reliability的問題就是要力圖將處于早夭期failure的產(chǎn)品去除并估算其良率，預(yù)計產(chǎn)品的使用期，并且找到failure的原因，尤其是在IC生產(chǎn)，封裝，存儲等方面出現(xiàn)的問題所造成的失效原因。相對而言，Reliability的問題似乎就變的十分棘手，這個產(chǎn)品能用多久，誰會能保證今天產(chǎn)品能用，明天就一定能用？ 為了解決這個問題，人們制定了各種各樣的標(biāo)準(zhǔn)，如: JESD22A108A、EIAJED 4701D101，注：JEDEC（Joint Electron Device Engineering Council）電子設(shè)備工程聯(lián)合委員會,，著名國際電子行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化組織之一；EIAJED：日本電子工業(yè)協(xié)會，著名國際電子行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化組織之一。 Reliability Test ) 質(zhì)量（Quality）和可靠性（Reliability）在一定程度上可以說是IC產(chǎn)品的生命。 質(zhì)量（Quality） 就是產(chǎn)品性能的測量，它回答了一個產(chǎn)品是否合乎規(guī)格（SPEC）的要求，是否符合各項性能指標(biāo)的問題；可靠性（Reliability）則是對產(chǎn)品耐久力的測量，它回答了一個產(chǎn)品生命周期有多長，簡單說，它能用多久的問題。在介紹一些目前較為流行的Reliability的測試方法之前，我們先來認(rèn)識一下IC產(chǎn)品的生命周期。 下面就是一些 IC產(chǎn)品可靠性等級測試項目（IC Product Level reliability test items ）一、使用壽命測試項目（Life test items）：EFR, OLT (HTOL), LTOL ①EFR:早期失效等級測試（ Early fail Rate Test ）目的: 評估工藝的穩(wěn)定性，加速缺陷失效率，去除由于天生原因失效的產(chǎn)品。 測試流程（Test Flow）: Step 1:超聲掃描儀 SAM (Scanning Acoustic Microscopy) Step 2: 高低溫循環(huán)（Temperature cycling ）40℃(or lower) ~ 60℃(
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