【正文】 否能很方便 地計(jì)算？ 否 使用中 位數(shù)圖 是 使用單值圖XMR 是 接上頁(yè) 子組容量是否大于或等于 9？ 是 否 是否能方便地計(jì)算每個(gè)子組的 S值？ 使用 X—R圖 是 否 使用 X—R圖 使用 X— s圖 注：本圖假設(shè)測(cè)量系統(tǒng)已經(jīng)過(guò)評(píng)價(jià)并且是適用的。只用特殊原因被查出且采取 措 施 ,否則它們將繼續(xù)不可預(yù)測(cè)的影響過(guò)程的輸出。 制程控制系統(tǒng) 有反饋的過(guò)程控制系統(tǒng)模型 過(guò)程的呼聲 人 設(shè)備 材料 方法 產(chǎn)品或 環(huán)境 服務(wù) 輸入 過(guò)程 /系統(tǒng) 輸出 顧客的呼聲 我們工作的方式 /資源的融合 統(tǒng)計(jì)方法 顧客 識(shí)別不斷變化的需求量和期望 變差的普通原因和特殊原因 普通原因： 是指過(guò)程在受控的狀態(tài)下，出現(xiàn)的具有穩(wěn)定的且可重 復(fù)的分布過(guò)程的變差的原因。有時(shí)被稱為可查明原因，它存在的信號(hào)是：存在超過(guò)控制限的點(diǎn)或存在在控制限之內(nèi)的鏈或其它非隨機(jī)性的圖形。 鏈（ Run） 控制圖上一系列連續(xù)上升或下降，或在中心線之上或之下的 點(diǎn) 。如果數(shù)據(jù)的個(gè)數(shù)為偶數(shù)，一般將中間兩個(gè)數(shù)的平均值作為中位數(shù)。 ? 為制程分析提供依據(jù)。于是，英、美等國(guó)開(kāi)始著手研究用統(tǒng)計(jì)方法代替事后檢驗(yàn)的質(zhì)量控制方法。 ? 1924年，美國(guó)的 休哈特博士 提出將 3Sigma原理運(yùn)用于生產(chǎn)過(guò)程當(dāng)中，并發(fā)表了著名的“控制圖法”，對(duì)過(guò)程變量進(jìn)行控制，為統(tǒng)計(jì)質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。 ? 區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為采取局部措 施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南。 單值（ Individual） 一個(gè)單個(gè)的單位產(chǎn)品或一個(gè)特性的 一次測(cè)量 ，通常用符號(hào) X 表示。它是分析是否存在造成變差的特殊原因的依據(jù)。 名稱 解釋 普通原因（ Common Cause） 造成變差的一個(gè)原因，它影響被研究過(guò)程輸出的所有單值；在控制圖分析中，它表現(xiàn)為隨機(jī)過(guò)程變差的一部分。普通原因表現(xiàn)為一個(gè)穩(wěn) 系統(tǒng)的偶然原因。 每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同 范圍 范圍 范圍 范圍 但它們形成一個(gè)模型 ， 若穩(wěn)定 ， 可以描述為一個(gè)分布 范圍 范圍 范圍 分布可以通過(guò)以下因素來(lái)加以區(qū)分 位置 分布寬度 形狀 或這些因素的組合 如果僅存在變差的普通原因， 目標(biāo)值線 隨著時(shí)間的推移，過(guò)程的輸 出形成一個(gè)穩(wěn)定的分布并可 預(yù)測(cè)。 計(jì)量型數(shù)據(jù)控制圖 與過(guò)程有關(guān)的控制圖 計(jì)量單位：（ mm, kg等） 過(guò)程 人員 方法 材料 環(huán)境 設(shè)備 1 2 3 4 5 6 結(jié)果舉例 控制圖舉例 螺絲的外徑（ mm） 從基準(zhǔn)面到孔的距離（ mm） 電阻（ Ω） 錫爐溫度（ 186。 接上頁(yè) 使不必要的變差最小 確保過(guò)程按預(yù)定的方式運(yùn)行 確保輸入的材料符合要求 恒定的控制設(shè)定值 注： 應(yīng)在過(guò)程記錄表上記錄所有的相關(guān)事件，如：刀具更新，新的材料批 次等，有利于下一步的過(guò)程分析。（ 注： 數(shù)據(jù)僅代表單一刀具、沖頭、模具等 生產(chǎn)出來(lái)的零件，即一個(gè)單一的生產(chǎn)流。一般為 25組，首次使 用管制圖選用 35 組數(shù)據(jù)，以便調(diào)整。 注： 一個(gè)有用的建議是將 R 圖的刻度值設(shè)置為 X 圖刻度值的 2倍。 2 計(jì)算控制限 首先計(jì)算極差的控制限，再計(jì)算均值的控制限 。其系數(shù)值 見(jiàn)下表 ： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 ? ? ? ? ? A2 注： 對(duì)于樣本容量小于 7的情況， LCLR可能技術(shù)上為一個(gè)負(fù)值。 ? 對(duì)各條線標(biāo)上記號(hào)（ UCLR ， LCLR ， UCLX ， LCLX） ? 注：在初始研究階段，應(yīng)注明試驗(yàn)控制限。 注 2： 因?yàn)樽咏M極差或子組均值的能力都取決于零件間的變差， 因此，首先應(yīng)分析 R圖。 b 低于平均極差的鏈或下降鏈說(shuō)明存在下列情況之一或全部： b1 輸出值的分布寬度減小 ， 好狀態(tài) 。 UCL LCL R UCL R LCL 不受控制的過(guò)程的極差 （存在高于和低于極差均值的兩種鏈） 不受控制的過(guò)程的極差（存在長(zhǎng)的上升鏈） 313 明顯的非隨機(jī)圖形 a 非隨機(jī)圖形例子：明顯的趨勢(shì)；周期性；數(shù)據(jù)點(diǎn)的分布在整個(gè)控制限內(nèi)，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等。 c3 數(shù)據(jù)已經(jīng)過(guò)編輯（極差和均值相差太遠(yuǎn)的幾個(gè)子組更改刪除）。 32 識(shí)別并標(biāo)注所有特殊原因（極差圖） a 對(duì)于極差數(shù)據(jù)內(nèi)每一個(gè)特殊原因進(jìn)行標(biāo)注，作一個(gè)過(guò)程操作 分析，從而確定該原因并改進(jìn)，防止再發(fā)生。 修改后的 R 和 X 可用于重新計(jì)算均值的試驗(yàn)控制限， X 177。并且一定要改變過(guò)程，以使特殊原因不會(huì)作為過(guò)程的一部分重現(xiàn)。 不受控制的過(guò)程的均值（長(zhǎng)的上升鏈） 不受控制的過(guò)程的均值（出現(xiàn)兩條高于和低于均值的長(zhǎng)鏈） UCL X LCL UCL X LCL 343 明顯的非隨機(jī)圖形 a 非隨機(jī)圖形例子：明顯的趨勢(shì)；周期性；數(shù)據(jù)點(diǎn)的分布在整個(gè) 控制限內(nèi) ， 或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等 。 d2 過(guò)程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個(gè)或多個(gè)不 同的過(guò)程流的測(cè)量值（這可能是由于對(duì)可調(diào)整的過(guò)程進(jìn)行 過(guò)度 控制造成的，這里過(guò)程改變是對(duì)過(guò)程數(shù)據(jù)中隨機(jī)波 動(dòng)的響應(yīng)）。 36 重新計(jì)算控制限（均值圖） 在進(jìn)行首次過(guò)程研究或重新評(píng)定過(guò)程能力時(shí)，要排除已發(fā)現(xiàn) 并解決了的特殊原因的任何失控點(diǎn)，然后重新計(jì)算并描畫(huà)過(guò)程 均值 X 和控制限，使所有點(diǎn)均處于受控狀態(tài)。 4 過(guò)程能力分析 如果已經(jīng)確定一個(gè)過(guò)程已處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)，還存在過(guò)程是 否有能力滿足顧客需求的問(wèn)題時(shí)； 一般講，控制狀態(tài)穩(wěn)定， 說(shuō)明不存在特殊原因引起的變差，而能力反映普通原因引起 的變差，并且?guī)缀蹩傄獙?duì)系統(tǒng)采取措施來(lái)提高能力，過(guò)程能 力通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)偏差來(lái)評(píng)價(jià)。 422 對(duì)于雙向容差，計(jì)算： Zusl=(USLX) / σ Zlsl=(XLSL) / σ Z=Min{ Zusl。 b 對(duì)于雙邊容差，根據(jù) Zusl 和 Zlsl 的值查標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布表， 分別算出 Pzusl 和 Pzlsl 的百分比，再將其相加。 均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖（ Xs圖） 一般來(lái)講 ， 當(dāng)出現(xiàn)下列一種或多種情況時(shí)用 S圖代替 R圖： a 數(shù)據(jù)由計(jì)算機(jī)按設(shè)定時(shí)序記錄和 /或描圖的 ， 因 s的計(jì)算程序 容易集成化 。 注： s 圖的刻度尺寸應(yīng)與相應(yīng)的 X圖的相同。見(jiàn)下表： 當(dāng)需要計(jì)算過(guò)程能力時(shí)；將 σ 帶入 XR圖 42的公式即可。 13 將每個(gè)子組的單值描在圖中一條垂直線上，圈上子組的中位數(shù)， 并連接起來(lái)。 4 過(guò)程能力的分析 （同 XR） 估計(jì)過(guò)程標(biāo)準(zhǔn)偏差： δ= R / d2 注：只有中位數(shù)和極差處于受控狀態(tài)，才可用 δ的估計(jì)值來(lái)評(píng)價(jià)過(guò)程 能力。 54 找出超過(guò)極差控制限的點(diǎn) 操作者與每個(gè)子組的最大標(biāo)記點(diǎn)和最小標(biāo)記點(diǎn)進(jìn)行比較，用窄垂直框圈上超出膠片控制限的子組。 11 移動(dòng)圖的三中用法： a 單值 b 移動(dòng)組 c 固定子組 數(shù)據(jù)收集 （ 基本同 XR ） 21 在數(shù)據(jù)圖上 ， 從左到右記錄單值的讀數(shù) 。 24 移動(dòng)極差圖 （ MR） 的刻度間隔與 X 圖一致 。見(jiàn)下表： 注 ： 只有過(guò)程受控，才可直接用 δ的估計(jì)值來(lái)評(píng)價(jià)過(guò)程能力 。 子組數(shù)量： 收集的時(shí)間足夠長(zhǎng) ， 使得可以找到所有可能影響 過(guò)程的變差源 。 8114 將不合格品率描繪在控制圖上 a 描點(diǎn) ， 連成線來(lái)發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢(shì) 。方法如下： A、 確定可能超出其平均值 177。 3 P ( 1 – P ) / n = P 177。 81311 超出控制限的點(diǎn) a 超出極差上控制限的點(diǎn)通常說(shuō)明存在下列情況中的一種 或幾種： 控制限計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)時(shí)描錯(cuò) 。 測(cè)量系統(tǒng)已改變或過(guò)程性能已改進(jìn)。 b 一般情況，各點(diǎn)與均值的距離：大約 2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在控制 限的中間 1/3的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點(diǎn)落在其外的 2/3的區(qū)域。 8133 重新計(jì)算控制限 初次研究，應(yīng)排除有變差的子組，重新計(jì)算控制限。 8222 記錄表上記錄樣本的容量。 832 數(shù)據(jù)的收據(jù) 8321 檢驗(yàn)樣本的容量（零件的數(shù)量，織物的面積，電線的長(zhǎng)度 等）要求相同，這樣描繪的 C值將反映質(zhì)量性能的變化而 不是外觀的變化，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本容量。 C和 n都應(yīng)