【正文】 第一篇：應變測量實驗報告一、實驗目的學習應變片粘貼、使用的基本方法學習電橋的聯(lián)線方法及電橋的測量原理和特點學習使用WS3811應變儀測量應變的基本方法二、實驗原理利用惠斯登電橋原理進行測量三、實驗儀器微型計算機、WS3811數(shù)字式應變儀、橋盒、應變片及其附件四、實驗內(nèi)容；，使測點表面平整、光潔，并做清潔處理；，盡量使應變片與被測物緊密貼合，如圖1所示： ，使它自然干燥； ；，進行測試和設置：應變量程設置為177。40000με，濾波頻率 設置為20Hz，界面如圖3；，選擇“自動校準”，設置界面如圖4所示；。把橋盒連接到試驗儀上，試驗儀已與電腦連接。把被測金屬長 片的一端用手按在桌沿，使它伸出桌面。設置好參數(shù)，點擊“開始示波”，此時波形為一條直線，說明連接正常，再用手撥動金屬長片伸出桌面的那一端使它振動，這時波形如圖5，操作界面如圖5所示；，保存數(shù)據(jù)。實驗完成。五、實驗結(jié)果實驗結(jié)果如圖5所示：六、思考題，1/4橋接法應用于一個應變片，前者的橋盒上多接了一根兩個應變片的共用線，少了一個短接插片。，而校準的目的是使測試值更加精確，減少儀器的誤差。第二篇：光測應變測量應變測量是材料和結(jié)構(gòu)力學性能試驗中的一項基本任務，是了解材料在力學載荷等因素作用下的變形、損傷和失效行為的基礎，對于確定結(jié)構(gòu)設計許用值、結(jié)構(gòu)壽命預測和評估等均有重要價值。其中光測力學是由光學和力學的交叉、結(jié)合而形成的一門實驗科學，它采用現(xiàn)代光學測量技術(shù)和數(shù)字圖象處理技術(shù)對力學參數(shù)進行測量。其主要的方法有：? 云紋及云紋干涉法 ? 光彈性法? 散斑干涉及剪切散斑干涉法 ? 數(shù)字圖象相關(guān)法? 全息/數(shù)字全息干涉法 ? 其它而光測力學的主要特點有以下幾點： ? 全場性 ? 非接觸性? 高精度、高分辨率? 以（數(shù)字）圖像，特別是條紋圖像為信息載體 ? 操作和信息的提取較為復雜一、幾何云紋法基本原理云紋源自法語，意思是從中國傳入的絲綢的“耀眼的光澤”或“波形圖案”。在實驗力學中，它指的是兩個空間頻率相差不大的振幅型光柵疊加在一起時所產(chǎn)生的明暗交錯的條紋圖案。通過分析云紋圖案和條紋間距，可以測量物體的面內(nèi)變形和應變以及三維形貌，這種方法成為云紋法。，云紋實際上是兩個光柵間的互相遮擋與透過現(xiàn)象。云紋中的亮條紋是由兩個光柵的白線相交形成的（源于互不遮擋）。而暗條紋是由兩個光柵的白線與黑線相交形成的（源于互相遮擋）。由于人眼的分辯率或低通濾波性，白條紋中的黑線干擾被忽略了。 云紋示意圖適用范圍云紋法是可以測定位移場及應變場的實驗應力分析方法。用它來測量構(gòu)件的位移和應變有很多優(yōu)點?？捎糜诟鞣N材料，包括常用工程材料以及有特殊性能的材料，如低彈性模量的、各向異性的、復合或聚合材料等?？梢詰糜陟o荷與動荷，包括測定瞬時沖擊或長期蠕變等，可以用于測定較大量程的變形——彈性、塑性直至破壞的大變形，還可以用于測定裂紋附近的彈塑性變形場，板、殼，以及二維和三維穩(wěn)定等問題。優(yōu)缺點用于測量構(gòu)件的位移和應變有很多優(yōu)點。它測量時所使用的設備簡單，應用范圍廣。云紋法的不足之處是在測量彈性范圍的微小應變時，還缺乏足夠的靈敏度與準確度，但是近年來在這方面已有不少進展。分辨率云紋法測平面位移的分辨率為（參考柵的）一個柵距。一般為101000 微米二、云紋干涉法基本原理云紋干涉是近20年來產(chǎn)生的現(xiàn)代光測力學中的一部分。，戴福隆利用波前理論科學解釋了云紋干涉法原理，進一步完善了云紋干涉理論。云紋干涉具有高靈敏度、大量程、極好的條紋質(zhì)量、非接觸、實時全場觀測等優(yōu)點，從其誕生之日起就受到高度重視。目前云紋干涉的理論與方法研究已經(jīng)基本完善，并在材料科學、無損檢測、斷裂力學、細觀力學、微電子封裝等許多領域應用廣泛。，并概括為：云紋干涉發(fā)的本質(zhì)在于從試件柵衍射出的翹曲波前相互干涉，產(chǎn)生代表位移等值線的干涉條紋。當試件受載變形時刻制在試件表面的試件柵也隨之變形，變形后的試件柵與作為基準的空間虛柵相互作用形成云紋圖。適用范圍云紋干涉法可以測定全場面內(nèi)位移。在斷裂力學中的應用為裂尖位移場/應變場的測量，塑性區(qū)的確定，斷裂力學理論的驗證等方面。在電子器件熱，機械可靠性評價方面的應用包括：焊球熱變形及疲勞壽命的確定，塑料封裝材料吸濕膨脹系數(shù)的測量等。優(yōu)缺點不僅克服了通常的全息干涉法不能直接獲取面內(nèi)位移場的困難，比較云紋法、散斑照相法更具有靈敏度，而且其量程也不像散斑干涉那樣受到極嚴格的限制。此外，這一方法還可以對面內(nèi)位移進行全場實時觀測，這也是其他光學干涉方法是難以實現(xiàn)的。但是需要貼光柵，并且進行條紋處理，過程較為繁瑣。分辨率測試分辨率都決定于光柵的空間頻率（兩入射光干涉形成的干涉條紋的空間頻率是物理光柵空間頻率的2 倍?。?，可以達到波長量級 幾何云紋法與云紋干涉法的異同? 條紋形成機制不同，幾何光學干涉與物理光學干涉； ? 測試分辨率相差很大；? 測試分辨率都決定于光柵的空間頻率；? 云紋干涉法的條紋成因可借助云紋法的條紋成因理解（交叉入射光的干涉條紋可視為參考柵，但注意其頻率問題）；? 變形的正負都可用相同方法判斷（轉(zhuǎn)動參考柵）； ? 條紋處理方法相同；? 實現(xiàn)相移