絕緣電阻測(cè)試儀的原理(已修改)
2024-09-04 16:51 本頁(yè)面
【正文】 絕緣電阻測(cè)試儀表面電阻測(cè)試儀的原理 利用直流四探針?lè)y(cè)量半導(dǎo)體的電阻率 一,測(cè)試原理: 當(dāng)四根金屬探針排成一條直線,并以一定壓力壓在半導(dǎo)體材料上時(shí),在1,4兩根探針間通過(guò)電流I,則2,3探針間產(chǎn)生電位差V(如圖所示). 根據(jù)公式可計(jì)算出材料的電阻率: 其中,C為四探針的探針系數(shù)(cm),它的大小取決于四根探針的排列方法和針距. 二,儀器操作: (一)測(cè)試前的準(zhǔn)備: 1,將電源插頭插入儀器背面的電源插座,電源開(kāi)關(guān)置于斷開(kāi)位置。 2,工作方式開(kāi)關(guān)置于短路位置,電流開(kāi)關(guān)處于彈出位置。 3,將手動(dòng)測(cè)試架的屏蔽線插頭與電氣箱的輸入插座連接好。 4,對(duì)測(cè)試樣品進(jìn)行一定的處理(如噴沙,清潔等)。 5,調(diào)節(jié)室內(nèi)溫度及濕度使之達(dá)到測(cè)試要求. (二)測(cè)試: 首先將電源開(kāi)關(guān)置于開(kāi)啟位置,測(cè)量選擇開(kāi)關(guān)置于短路,出現(xiàn)數(shù)字顯示,通電預(yù)熱半小時(shí). 1,放好樣品,壓下探頭,將測(cè)量選擇開(kāi)關(guān)置于測(cè)量位置,極性開(kāi)關(guān)置于開(kāi)關(guān)上方。 2,選擇適當(dāng)?shù)碾妷毫砍毯碗娏髁砍?數(shù)字顯示基本為0000,若末位有數(shù)字,可旋轉(zhuǎn)調(diào)零調(diào)節(jié)旋鈕使之顯示為0000。 3,將工作方式開(kāi)關(guān)置于I調(diào)節(jié),按下電流開(kāi)關(guān),旋動(dòng)電流調(diào)節(jié)旋鈕,使數(shù)字顯示為1000,該值為各電流量程的滿量程值。 4,再將極性開(kāi)關(guān)壓下,使數(shù)顯也為1000177。1,退出電流開(kāi)關(guān),(,)。 (調(diào)節(jié)電流后,上述步驟在以后的測(cè)量中可不必重復(fù)。只要調(diào)節(jié)好后,按下電流開(kāi)關(guān),可由數(shù)顯直接讀出測(cè)量值.) 5,若數(shù)顯熄滅,僅剩1,表示超出該量程電壓值,可將電壓量程開(kāi)關(guān)撥到更高檔。 6,讀數(shù)后,將極性開(kāi)關(guān)撥至另一方,可讀出負(fù)極性時(shí)的測(cè)量值,將兩次測(cè)量值取平均數(shù)即為樣品在該處的電阻率值. 三,注意事項(xiàng): 1,壓下探頭時(shí),壓力要適中,以免損壞探針。 2,由于樣品表面電阻可能分布不均,測(cè)量時(shí)應(yīng)對(duì)一個(gè)樣品多測(cè)幾個(gè)點(diǎn),然后取平均值。 3,樣品的實(shí)際電阻率還與其厚度有關(guān),還需查附錄中的厚度修正系數(shù),進(jìn)行修正. 1. 在測(cè)容性負(fù)載阻值時(shí),絕緣電阻測(cè)試儀輸出短路電流大小與測(cè)量數(shù)據(jù)有什么關(guān)系,為什么? 絕緣電阻測(cè)試儀輸出短路電流的大小可反映出該兆歐表內(nèi)部輸出高壓源內(nèi)阻的大小?當(dāng)被測(cè)試品存在電容量時(shí),在測(cè)試過(guò)程的開(kāi)始階段,內(nèi)的高壓源要通過(guò)其內(nèi)阻向該電容充電,
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