霍爾效應(yīng)及霍爾元件基本參數(shù)的測(cè)量(已修改)
2025-08-17 19:50 本頁(yè)面
【正文】 霍爾效應(yīng)及霍爾元件 基本參數(shù)的測(cè)量 【 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?】 ?對(duì)材料要求的知識(shí)。 ?。 ? VHIS圖線和 VHIM 圖線，計(jì)算器件的霍爾系數(shù) RH和靈敏度 KH。 ? RH判斷試樣的導(dǎo)電類型、載流子濃度以及遷移率。 【 實(shí)驗(yàn)原理 】 1 ．霍爾效應(yīng) 霍爾效應(yīng)從本質(zhì)上講是運(yùn)動(dòng)的帶電粒子在磁場(chǎng)中受洛侖茲力作用而引起的偏轉(zhuǎn)。當(dāng)帶電粒子（電子或空穴）被約束在固體材料中，這種偏轉(zhuǎn)就導(dǎo)致在垂直電流和磁場(chǎng)方向上產(chǎn)生正負(fù)電荷的聚積，從而形成附加的橫向電場(chǎng)，即霍爾電場(chǎng) 。 ? ? 霍爾電場(chǎng) 是阻止載流子繼續(xù)向側(cè)面偏移，當(dāng)載流子所受的橫向電場(chǎng)力 與洛侖茲力 相等，樣品兩側(cè)電荷的積累就達(dá)到動(dòng)態(tài)平衡，故有 ? （ 1） ? 設(shè)試樣的寬為 b，厚度為d，載流子濃度為 n ，則 ? （ 2） 圖 1 霍爾效應(yīng)實(shí)驗(yàn)原理示意圖 （ a）載流子為電子（
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