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光伏研發(fā)中心組建方案(已修改)

2025-10-30 08:53 本頁(yè)面
 

【正文】 光伏實(shí)驗(yàn)室組建方案 無(wú)錫佳誠(chéng)太陽(yáng)能科技 有限公司 目錄 一、公司介紹…………………………………………………… 3 二、硅片測(cè)試設(shè)備…………………………………………………… 4 傅立葉變換紅外光譜儀 ……………………………………………… 4 C V 測(cè)試儀 …………………………………………………… 5 四探針測(cè)試儀 …………………………………………………… 6 少子壽命測(cè)試儀 …………………………………………………… 10 探針輪廓儀 …………………………………………………… 11 全自動(dòng)電化學(xué) CV測(cè)試儀 ……… ……………………………………… 13 掃描探針顯微鏡 …………………………………………………… 14 激光橢偏儀 …………………………………………………… 16 原生多晶電阻率測(cè)試儀 ………………………………………………… 17 硅芯電阻率測(cè)試儀 …………………………………………………… 18 1原生多晶型號(hào)測(cè)試儀 ………………………………………………… 20 1硅料表面金屬雜質(zhì)測(cè)試儀 …………………………………………… 21 1硅片表面線痕深度測(cè)試儀 …………………………………………… 22 1無(wú)接觸 電阻率型號(hào)測(cè)試儀 …………………………………………… 23 1硅片測(cè)試儀 …………………………………………………… 24 1硅片缺陷測(cè)試儀 …………………………………………………… 28 1多晶硅紅外探傷測(cè)試儀 ……………………………………………… 29 1氧碳測(cè)試儀 …………………………………………………… 30 1硅料硼磷含量測(cè)試儀 ………………………………………………… 33 三、太陽(yáng)能電池測(cè)試設(shè)備…………………………………………… 35 太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試系統(tǒng) ………………………………………… 35 太陽(yáng)能電池 IV 特性測(cè)量系統(tǒng) ………………………………………… 38 太陽(yáng)能電池光譜測(cè)試系統(tǒng) ……………………………………………… 39 太陽(yáng)光模擬器 …………………………………………………… 41 薄膜太陽(yáng)能電池材料光譜響應(yīng)測(cè)量系統(tǒng) ……………………………… 42 便攜式太陽(yáng)能電池測(cè)試儀 ……………………………………… ____________4 2 四、太陽(yáng)能電池組件生產(chǎn)線………………………………………… 46 生產(chǎn)線運(yùn)行的基本工藝路線 ………………………………………… 46 實(shí)驗(yàn)室內(nèi)設(shè)備安裝模式 … ………………………………………… 46 組件生產(chǎn)線設(shè)備清單 ……………………………………………… 46 組件生產(chǎn)線生產(chǎn)工藝流程 ……………………………………………… 47 5光伏電池組件層壓機(jī) ……………………………………………… 47 52 光伏電池組件測(cè)試儀 ……………………………………………… 49 53 光伏電池單片分選機(jī) ……………………………………………… 50 54 光伏電池單片分選機(jī) ……………………………………………… 51 5 5 激光劃片機(jī) …………………………………………………… 52 56 玻璃清洗機(jī) …………………………………………………… 53 57 組件周轉(zhuǎn)車 …………………………………………………… 54 58 焊接工作臺(tái) …………………………………………………… 55 五、太陽(yáng)能要素系統(tǒng)………………………………………………… 55 智能型人造太陽(yáng)裝置 ………………………………………………… 55 太陽(yáng)能輻射觀測(cè)系統(tǒng) ………………………………………………… 56 太陽(yáng)光譜分析系統(tǒng) ………………………………………………… 59 太陽(yáng)自動(dòng)追蹤系統(tǒng) …………………………………………………… 62 太陽(yáng)輻射電流表 …………………………………………………… 63 六、太陽(yáng)能發(fā)電測(cè)試產(chǎn)品…………………………………………… 65 太陽(yáng)能發(fā)電測(cè)試系統(tǒng) ………………………………………………… 65 太陽(yáng)能電站檢測(cè)系統(tǒng) ………………………………………………… 68 太陽(yáng)能電池組件 /陣列評(píng)測(cè)系統(tǒng) ………………………………………… 74 一、公司介紹 北京海瑞克科技發(fā)展有限公司成立于 2020年,是由多位海外歸國(guó)留學(xué)人員創(chuàng) 立的高科技公司。自公司成立以來(lái),公司一直致力于新能源產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)和應(yīng)用, 目前已經(jīng)在光熱應(yīng)用、光伏 發(fā)電系統(tǒng)、風(fēng)光互補(bǔ)發(fā)電系統(tǒng)和太陽(yáng)能電池測(cè)試產(chǎn)品 方面取得了重大進(jìn)展。 2020年,公司獲得北京市科委頒發(fā)的高新技術(shù)企業(yè)稱號(hào); 2020年,公司通過(guò) ISO9001:2020質(zhì)量管理體系認(rèn)證,為公司的發(fā)展提供了一個(gè)全 新的平臺(tái)。特別是在光伏發(fā)電產(chǎn)品方面,公司一直提倡制造更加高性能及價(jià)格低 廉的家用光伏發(fā)電系統(tǒng),讓更清潔的能源能夠走下神壇,走進(jìn)尋常百姓家,讓更 多的百姓用上更清潔、能耗更低、性價(jià)比更高的光伏發(fā)電產(chǎn)品。 企業(yè)核心價(jià)值:綠色、智慧、超越、奉獻(xiàn) 企業(yè)理念:產(chǎn)業(yè)專注、速度領(lǐng)先、成本領(lǐng)袖、宏大愿景 企業(yè)使命: 讓更多百姓用上更清潔的能源 企業(yè)愿景:為太陽(yáng)能插上騰飛的翅膀 二、硅片測(cè)試設(shè)備 傅立葉變換紅外光譜儀 設(shè)備名稱: 傅立葉變換紅外 光譜儀 設(shè)備編號(hào): HIKSCT1 ( 1)系統(tǒng)簡(jiǎn)介 ? 全新擺式干涉儀,易于實(shí)現(xiàn)快速掃描。干涉儀穩(wěn)定性高、體積小,結(jié)構(gòu)緊湊、便于 維護(hù)。 ? 干涉儀采用密封防潮防塵型結(jié)構(gòu),有效降低了對(duì)使用環(huán)境的要求。 ? 高強(qiáng)度紅外光源采用球形反射裝置,可獲得均勻、穩(wěn)定的紅外輻射。 ? 程控增益放大電路、高精度 A/D 轉(zhuǎn)換電路的設(shè)計(jì)及嵌入式微機(jī)的應(yīng)用,提高了儀 器的精度及可靠性。 ? 光譜儀與計(jì)算機(jī)之間通過(guò) USB 方式進(jìn)行控制和數(shù)據(jù)通訊,完全實(shí)現(xiàn)即插即用。 ? 通用微機(jī)系統(tǒng),全中文應(yīng)用軟件,內(nèi)容豐富。具備完整的譜圖采集、光譜轉(zhuǎn)換、光 譜處理、光譜分析及譜圖輸出功能,使操作更簡(jiǎn)單、方便、靈活。 ( 2)技術(shù)參數(shù) ? 波數(shù)范圍 : 4400cm1~ 600cm1 ? 分辨率 : 2cm1, 4cm1 可選 ? 波數(shù)準(zhǔn)確度:優(yōu)于所設(shè)分辨率的 1/2 ? 透過(guò)率重復(fù)性 :: %T ? 100%T 線信噪比 :2100 cm1 附近, S/N 優(yōu)于 10000:1(RMS 值 ) ? 分束器: ZnSe ? 探測(cè)器 : DTGS, MCT 可選 ? 光源:高性能的空冷高效球反射紅外光源 CV測(cè)試儀 設(shè)備名稱: CV 測(cè)試儀設(shè)備編號(hào): HIKSCT2 ( 1)系統(tǒng)簡(jiǎn)介 作為組成半導(dǎo)體器件的基本結(jié)構(gòu)的 PN 結(jié)具有電容效應(yīng)(勢(shì)壘電容) 。加正向偏 壓時(shí), PN 結(jié)勢(shì)壘區(qū)變窄,勢(shì)壘電容變大;加反向偏壓時(shí), PN 結(jié)勢(shì)壘區(qū)變寬,勢(shì)壘電 容變小。 CV2020 型電容電壓特性測(cè)試儀是測(cè)試頻率為 1MHz 的智能化數(shù)字的電容測(cè)試儀 器, 專用于測(cè)試半導(dǎo)體器件 PN 結(jié)的勢(shì)壘電容在不同偏壓下的電容量,也 可測(cè)試其它 電容。 面板上的發(fā)光二極管指示儀器的工作狀態(tài),用數(shù)碼管組成的顯示板,將被測(cè)元件的 數(shù)值,小 數(shù)點(diǎn)清晰地顯示出來(lái)。儀器有較高的分辨率,電容量是四位讀數(shù),可分辮到 , 偏置電壓分辨力為 ,漏電流分辨力為 。 儀器配有專用 CV2020 型測(cè)量座,接插元件靈活,方便可靠。 ( 2)應(yīng)用范圍 本儀器測(cè)量技術(shù)先進(jìn),性能穩(wěn)定可靠,造型考究,功能齊全。操作簡(jiǎn)便,測(cè)試速度 快,精度高。可廣泛應(yīng)用于元件生產(chǎn)廠,科研部門(mén),國(guó)防軍工,高等院校等各個(gè)部門(mén)。 ( 3)技術(shù)參數(shù) ? 測(cè)試信號(hào)頻率: 177。 % ? 測(cè)試信號(hào)電壓:小于或等于 100mVrms ? 電容測(cè)量范圍: ~ 1000pF ? 工作誤差:177。 %177。 2 字 ? 直流偏壓:最大 100V ? 供電電源 ? 交流電壓: 220V177。 5%; ? 頻率: 50Hz177。 5%; ? 消耗功率:不大于 40W; ? 工作環(huán)境 ? 溫度: 0— 40℃; ? 濕度: 20%~90%RH 40℃; 四探針測(cè)試儀 3臺(tái)式四探針測(cè)試儀 設(shè)備名稱: 四探針測(cè)試儀設(shè)備編號(hào): HIKSCT3 HIKSCT3 四探 針測(cè)試儀 四探針測(cè)試儀前面板 四探針測(cè)試儀軟件界面 ( 1)系統(tǒng)簡(jiǎn)介 四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物 理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的,專用于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻 率及方塊電阻 (薄層電阻 )的專用儀器。 儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成,測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接 顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析,然后以表格,圖形方 式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。 儀器采用了最新電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)、裝配。具有功能選擇直觀、測(cè)量取數(shù)快、精 度 高、測(cè)量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。 ( 2)應(yīng)用范圍 本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的 電阻性能測(cè)試。 105 ( 3)技術(shù)參數(shù) 測(cè)量范圍 電阻率: 104~ ; 方塊電阻: 103~ 106Ω/□ (可擴(kuò)展 ); 電導(dǎo)率: 105~ 104s/cm; 電阻: 104~ 105Ω; 可測(cè)晶片直徑 140mmX150mm(配 S2A 型測(cè)試臺(tái) ); 200mmX200mm(配 S2B 型測(cè)試臺(tái) ); 400mmX500mm(配 S2C 型測(cè)試臺(tái) ); 恒流源電 流量程分為 1μ A、 10μ A、 100μ A、 1mA、 10mA、 100mA 六檔, 各檔電流連續(xù)可調(diào) 數(shù)字電壓表 量程及表示形式 ~ mV; 分辨力: 10μ V; 輸入阻抗> 1000MΩ; 精度:177。 % ; 顯示:四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示;極性、超量程自動(dòng)顯示; 四探針探頭基本 指標(biāo) 間距: 1177。 ; 針間絕緣電阻:≥ 1000MΩ; 機(jī)械游移率:≤ %; 探針:碳化鎢或高速鋼Ф ; 探針壓力: 5~ 16 牛頓 (總力 ); 模擬電阻測(cè)量相 對(duì)誤差 、 、 1Ω、 10Ω、 100Ω、 1000Ω、 10000Ω≤ %177。 1 字 整機(jī)測(cè)量最大相 對(duì)誤差 (用硅標(biāo)樣片 : 測(cè)試 ) ≤177。 5% 整機(jī)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)不 確定度 ≤ 5% 計(jì)算機(jī)通訊接口并口 標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境 溫度: 23177。 2℃; 相對(duì)濕度:≤ 65%; 無(wú)高頻干擾; 無(wú)強(qiáng)光直射; 3便攜式四探針測(cè)試儀 設(shè)備名稱: 便攜式四探針測(cè)試儀設(shè)備編號(hào): HIKSCT4 ( 1)系統(tǒng)簡(jiǎn)介 手持式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單 晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) 標(biāo) 準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的, 專用于測(cè)量硅晶塊、 晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、 ITO 導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。 儀器采用了最新電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)、裝配。具有功能選擇直觀、測(cè)量取數(shù)快、精度 高、測(cè)量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。如有需要可加配測(cè)試臺(tái)使用。 ( 2)應(yīng)用范圍 本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的 電阻性能測(cè)試。 ( 3)技術(shù)參數(shù) 測(cè)量范圍 電阻率: ~ ; 方塊電阻: ~ 19999Ω/□; 恒流源電流量程分為 100μ A、 1mA 兩檔,兩檔電流連續(xù)可調(diào) 數(shù)字電壓表 量程及表示形式 ~ mV; 分辨力: 10μ V; 輸入阻抗> 1000MΩ; 精度:177。 % ; 顯示:以大屏幕 LCD 顯示讀數(shù),直觀清晰;極性、超量程自動(dòng) 顯示; 四探針探頭基本 指標(biāo) 間距: 1177。 ; 針間絕緣電阻:≥ 1000MΩ; 機(jī)械游移率:≤ %; 探針:碳化鎢或高速鋼Ф ; 探針壓力: 5~ 16 牛頓 (總力 ); 模擬電阻測(cè)量相 對(duì)誤差 1Ω、 10Ω、 100Ω 小于等于 %177。 1 字 整機(jī)測(cè)量最大相 對(duì)誤差 (用硅標(biāo) 樣片 : 測(cè)試 ) ≤177。 5% 整機(jī)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)不 確定度 ≤ 5% 外型尺寸 125mm(寬 )*145mm(高 )*245mm(深 ) 重量 350g 電源鋰電池,一次充電可連續(xù)使用 100 小時(shí); 標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境 溫度: 23177。 2℃; 相對(duì)濕度:≤ 65%; 無(wú)高頻干擾; 無(wú)強(qiáng)光直射; 少子壽命測(cè)試儀 設(shè)備名稱: 少子壽命測(cè)試儀設(shè)備編號(hào): HIKSCT5 ( 1)系統(tǒng)簡(jiǎn)介 少子測(cè)試量程從 1μ s 到 6000μ s,硅料電阻率下限達(dá) .cm(可擴(kuò)展至 .cm)。 測(cè)試過(guò)程全程動(dòng)態(tài)曲線監(jiān)控,少子 壽命測(cè)量可靈敏地反映單晶體重金屬污染及陷阱效應(yīng) 表面復(fù)合效應(yīng)等缺陷情況,是原生多晶硅料及半導(dǎo)體及太陽(yáng)能拉晶企業(yè)不可多得少子壽 命測(cè)量?jī)x器。 ( 2)應(yīng)用范圍 少子壽命測(cè)試儀,是一款功能強(qiáng)大的少子壽命測(cè)試儀,不僅
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