巖性分析ppt課件(已修改)
2025-01-26 15:58 本頁(yè)面
【正文】 第三講 儲(chǔ)層的巖性分析 第三講 儲(chǔ)層的巖性分析 地質(zhì)上鑒定巖性的方法： 直接巖性觀察 巖樣制成薄片（顯微鏡） 化學(xué)分析（全分析、 X衍射射線譜） 不同類型的巖性在測(cè)井曲線上具有不同的響應(yīng)特征。 利用測(cè)井資料識(shí)別巖性是地質(zhì)解釋的第一步。 （ 1）對(duì)進(jìn)行地質(zhì)錄井的生產(chǎn)井或生產(chǎn)層段，地質(zhì)人員可以依據(jù)錄井剖面結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)曲線，提出深度準(zhǔn)確的地層巖性解釋剖面（完井剖面）。 （ 2）對(duì)不進(jìn)行地質(zhì)錄井的生產(chǎn)井或生產(chǎn)層段，就需要通過(guò)所有的測(cè)井曲線，對(duì)生產(chǎn)層段逐層進(jìn)行巖性分析，細(xì)分儲(chǔ)層并挑出其中夾層。 第三講 儲(chǔ)層的巖性分析 綜合利用測(cè)井曲線進(jìn)行巖性識(shí)別應(yīng)該在對(duì)區(qū)域地層剖面了解的基礎(chǔ)上，并對(duì)關(guān)鍵取芯井建立四性（巖性、物性、含油性、電性）關(guān)系的前題下進(jìn)行， 參考主要巖性的理論測(cè)井響應(yīng)值 ，對(duì)單井組合測(cè)井曲線進(jìn)行綜合分析、比較，確定其巖性。 第三講 儲(chǔ)層的巖性分析 地質(zhì)人員還常用 統(tǒng)計(jì)的方法 ，找出本區(qū)主要巖性的各種測(cè)井響應(yīng)值域，用判別分析或聚類分析等手段在計(jì)算機(jī)自動(dòng)分層基礎(chǔ)上劃分巖性。 同時(shí)，用 曲線重疊法、交會(huì)圖法 半自動(dòng)識(shí)別骨架成分方法也是當(dāng)前測(cè)井解釋人員常用的方法。曲線重疊技術(shù)判斷某些簡(jiǎn)單、純巖性層有效。交會(huì)圖在識(shí)別骨架成分上要優(yōu)于曲線重疊法。目前利用交會(huì)圖可以識(shí)別三種甚至四種骨架成分體積含量。 第三講 儲(chǔ)層的巖性分析 復(fù)雜巖性的識(shí)別可建立在 多次交會(huì)圖 判斷巖性骨架成分上，再依據(jù)體積模型建立各種測(cè)井響應(yīng)方程，求解方程組，獲取各骨架成分含量。但是這種巖性剖面僅能展示骨架多成分的縱向變化，還需結(jié)合曲線特征，分層并定出巖性具體名稱。若用地球化學(xué)測(cè)井最新成果可直接提供剖面分段的礦物組合及含量。 第三講 儲(chǔ)層的巖性分析 一、綜合利用測(cè)井曲線定性識(shí)別巖性 定性劃分巖性 —— 是人們利用 測(cè)井曲線的形態(tài)特征 和 讀數(shù)的相對(duì)大小 ，根據(jù)長(zhǎng)期生產(chǎn)實(shí)踐積累的一些 規(guī)律性認(rèn)識(shí) （或經(jīng)驗(yàn)）去劃分地層巖性的方法。 劃分巖性原則 ： 比較差異 形態(tài)特征 曲線幅度（絕對(duì)） 地質(zhì)刻度 經(jīng)驗(yàn)性認(rèn)識(shí)、規(guī)律性 它是手工解釋中常用的方法，顯然，其解釋結(jié)果的可靠性取決于人們的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)和巖性剖面的復(fù)雜程度。 為了定性地劃分巖性，地質(zhì)人員必須在熟悉區(qū)域地質(zhì)情況以及掌握研究區(qū)地質(zhì)沉積特征、地層層序及厚度變化規(guī)律的基礎(chǔ)上，通過(guò)一口或幾口井較完整的鉆井取心或巖屑錄井資料，與測(cè)井資料詳細(xì)分析對(duì)比，掌握各種巖性地層在不同測(cè)井曲線上的特征。 一、綜合利用測(cè)井曲線定性識(shí)別巖性 下表列舉是人們從長(zhǎng)期的生產(chǎn)過(guò)程中總結(jié)出來(lái)的幾種常見(jiàn)的主要巖層測(cè)井特征。根據(jù)這些特征，一般可以劃分那些 成分較單一 的井剖面巖性。 一、綜合利用測(cè)井曲線定性識(shí)別巖性 各種巖性的測(cè)井特征 聲波時(shí)差 (μs/m) 體積密度 (g/cm3) 中子 孔隙度（％） 中子伽馬 自然 伽馬 自然 電位 微電極 電阻率 井徑 泥巖 300 高值 低值 高值 基值 低，平直 低值 鉆頭 煤 350450 φSNP40 φCNP40 SNP井壁 CNP補(bǔ)償 低值 低值 異常不明顯或很大正異常（無(wú)煙煤） 高值 無(wú)煙煤 最低 接近鉆頭 砂巖 250380 中等 中等 低值 明顯異常 中等 ,明顯正差異 低－中等 略 鉆頭 生物 灰?guī)r 200300 比砂巖略高 較低 較高 比砂巖還低 明顯異常 較高 ,明顯正差異 較高 略 鉆頭 石灰?guī)r 165250 低值 高值 比砂巖還低 大片異常 高值，鋸齒狀正負(fù)差異 高值 小于或 等于鉆頭 白云巖 155250 低值 高值 比砂巖還低 大片異常 高值，鋸齒狀正負(fù)差異 高值 小于或 等于鉆頭 硬石膏 約 164 約 約為 0 高值 最低 基值 高值 接近鉆頭 石膏 約 171 約 約 50 低值 最低 基值 高值 接近鉆頭 鹽巖 約 220 約 接近于 0 高值 最低 ,鉀鹽最高 基值 極低 高值 鉆頭 測(cè)井方法 曲線特征 巖性 在實(shí)際應(yīng)用時(shí)，各種測(cè)井方法區(qū)分巖性的能力是不同的，一般地說(shuō)， SP、 GR和 巖性密度測(cè)井 所提供的 光電吸收截面指數(shù) Pe等區(qū)分巖性的能力較強(qiáng)。 定性劃分巖性的步驟： A。 用 SP和微電極測(cè)井曲線把滲透性和非滲透性區(qū)分開(kāi)； 砂巖和生物灰?guī)r的 SP有明顯的負(fù)差異，微電極有正幅度差，而致密灰?guī)r和泥巖的 SP無(wú)異常，微電極無(wú)幅度差。 B。利用聲波時(shí)差和微電極測(cè)井曲線區(qū)分砂巖和生物灰?guī)r； 砂巖聲波時(shí)差要高于生物灰?guī)r，而微電極測(cè)井曲線則表現(xiàn)出砂巖的曲線幅度低于生物灰?guī)r的特征。 C。利用電阻率可區(qū)分泥巖和致密灰?guī)r。 致密灰?guī)r為高阻，泥巖為低阻。 下面分別對(duì)常見(jiàn)的碎屑巖剖面和碳酸鹽巖剖面進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。 1． 碎屑巖剖面 （ 1） 對(duì)碎屑巖剖面 ， 應(yīng)先區(qū)分出砂巖 、 泥巖 。 比較有效而常用的測(cè)井資料是： SP（ 或 GR） 、 微電極和井徑 a． 砂巖層 SP曲線往往顯示負(fù)異常 微電極曲線顯示正離差 GR低值 由于滲透層井壁存在泥餅 ， 實(shí)測(cè)井徑值一般小于鉆頭直徑 ， 且井徑曲線比較平直規(guī)則 。 b． 泥巖層 SP基線 微電極視電阻率為低值 ， 沒(méi)有或只有小的幅度差 。 GR顯示高值 井徑有擴(kuò)徑現(xiàn)象。 （ 2）劃分砂泥巖后，再進(jìn)行細(xì)分巖性
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