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正文內(nèi)容

em進(jìn)展及發(fā)展趨勢(shì)ppt課件(已修改)

2025-01-18 14:07 本頁面
 

【正文】 TEM最新進(jìn)展及發(fā)展趨勢(shì) 主要內(nèi)容 TEM發(fā)展概述 TEM的最新發(fā)展 TEM的發(fā)展趨勢(shì) TEM的發(fā)展概述 第一臺(tái) TEM由馬克斯 克諾爾和恩斯特 魯斯卡 1931年研制,這個(gè)研究組于 1933年研制了第一臺(tái)分辨率超過可見光的TEM,分辨率大約是 50nm。 西門子公司于 1939年研制成功世界上第一臺(tái)商品透射電鏡分辨率約為10nm, 1954年進(jìn)一步研制成功 Emiskop1型透射電鏡分辨率大約為1nm。 我國(guó)電鏡研制起步較遲, 1958年在長(zhǎng)春中國(guó)科學(xué)院光學(xué)精密機(jī)械研究所生產(chǎn)了第一臺(tái)中型電鏡,到 1977年生產(chǎn)的 TEM分辨率為 80萬
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