局部放電試驗????(已修改)
2024-10-15 08:45 本頁面
【正文】 局部放電試驗 ???? 局部放電試驗 第一節(jié) 局部放電特性及原理 一 、 局部放電測試目的及意義 局部放電： 是指設(shè)備絕緣系統(tǒng)中部分被擊穿的電氣放電 ，這種放電可以發(fā)生在導(dǎo)體 (電極 )附近 ， 也可發(fā)生在其它位置 。 局部放電的種類： ① 絕緣材料內(nèi)部放電 （ 固體 空穴；液體 氣泡 ） ； ② 表面放電； ③ 高壓電極尖端放電 。 局部放電的產(chǎn)生：設(shè)備絕緣內(nèi)部存在弱點或生產(chǎn)過程中造成的缺陷 ， 在高壓電場作用下發(fā)生重復(fù)擊穿和熄滅現(xiàn)象 局部放電 。 局部放電的特點： ① 放電能量很小 ， 短時間內(nèi)存在不影響電氣設(shè)備的絕緣強(qiáng)度； ② 對絕緣的危害是逐漸加大的 ， 它的發(fā)展需要一定時間 累計效應(yīng) 缺陷擴(kuò)大 絕緣擊穿 。 ③ 對絕緣系統(tǒng)壽命的評估分散性很大 。 發(fā)展時間 、 局放種類 、 產(chǎn)生位置 、 絕緣種類等有關(guān) 。 ④ 局部放電試驗屬非破壞試驗 。 不會造成絕緣損傷 。 局部放電測試的目的和意義： 確定試品是否存在放電及放電是否超標(biāo) ,確定局部放電起始和熄滅電壓 。 發(fā)現(xiàn)其它絕緣試驗不能檢查出來的絕緣局部隱形缺陷及故障 。 局部放電主要參量： ① 局部放電的視在電荷 q： 電荷瞬時注入試品兩端時 ,試品兩端電壓的瞬時變化量與試品局部放電本身所引起的電壓瞬變量相等的電荷量 ,一般用 pC(皮庫 )表示 。 ② 局部放電試驗電壓： 按相關(guān)規(guī)定施加的局部放電試驗電壓 ， 在此電壓下局部放電量不應(yīng)超過規(guī)定的局部放電量值 。 ③ 規(guī)定的局部放電量值： 在規(guī)定的電壓下 ， 對給定的試品 ， 在規(guī)程或規(guī)范中規(guī)定的局部放電參量的數(shù)值 。 ④ 局部放電起始電壓 Ui： 試品兩端出現(xiàn)局部放電時 ， 施加在試品兩端的電壓值 。 ⑤ 局部放電熄滅電壓 Ui: 試品兩端局部放電消失時 的電壓值 。 （ 理論上比起始電 壓低一半 ， 但實際上要低很多 5%20%甚至更低 ） 二 、 局部放電機(jī)理： 內(nèi)部放電：絕緣材料中含有氣隙、油隙、雜質(zhì)等，在電場的作用下會出現(xiàn)介質(zhì)內(nèi)部或介質(zhì)與電極之間的放電。等效原理圖： Ug Cb Cg Ca Ua Cg: 空穴電容 Ca： 介質(zhì)其余部分電容 Cb： 與空穴串聯(lián)部分的電容 Ua： 外施電壓 Ua Ug Cg放電 局部放電 放電的產(chǎn)生與介質(zhì)內(nèi)部電場分布有關(guān) ， 空穴與介質(zhì)完好部分電壓分布關(guān)系如下： 介質(zhì)總電容 : 設(shè)空穴與其串聯(lián)部分介質(zhì)的總電容 Cn: bgbgaX CCCCCC???bgbgn CCCCC??因為介質(zhì)電容充電電荷 q=UC C=εS/d Eg:空穴電場強(qiáng)度 εg:空穴介電常數(shù) Eb:與空穴串聯(lián)部分電場強(qiáng)度 εb: 與空穴串聯(lián)部分介電常數(shù) 設(shè) qn為空穴充電電荷 Ug=qn/Cg 空穴電場強(qiáng)度 Eg= Ug/dg=q/dgCg
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