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正文內(nèi)容

基于單片機控制的ds18b20溫度測試系統(tǒng)設(shè)計-文庫吧

2024-11-16 02:22 本頁面


【正文】 但不能正常工作; DS18B20 采用3腳 PR- 35 封裝或8腳 SOIC 封裝,其內(nèi)部結(jié)構(gòu)框圖如圖 2所示。 DS18B20 引腳介紹: TO- 92 封裝的 DS18B20 的引腳排列見(圖 3),其引腳功能描述見(表 1)。 (底視圖) 圖 3 表 1 DS18B20 詳細(xì)引腳功能描述 序號 名稱 引腳功能描述 1 GND 地信號 2 I/O 數(shù)據(jù)輸入 /輸出引腳。開漏單總線接口引腳。當(dāng)被用著在寄生電源下,也可以向器件提供電源。 3 VDD 可選擇的 VDD 引腳。當(dāng)工作于寄生電源時,此引腳必須接地。 DS18B20 的 使用方法 : 由于 DS18B20 采用的是 1- Wire 總線協(xié)議方式,即在一根數(shù)據(jù)線實現(xiàn)數(shù)據(jù)的雙向傳輸,而對 AT89C51 單片機 來說,硬件上并不支持單總線協(xié)議,因此,我們必須采用軟件的方法來模擬單總線的協(xié)議時序來完成對 DS18B20 芯片的訪問。 由于 DS18B20 是在一根 I/O 線上讀寫數(shù)據(jù),因此,對讀寫的數(shù)據(jù)位有著嚴(yán)格的時序要求。 DS18B20有嚴(yán)格的通信協(xié)議來保證各位數(shù)據(jù)傳輸?shù)恼_性和完整性。該協(xié)議定義了 幾種信號的時序:初始化時序、讀時序、寫時序。所有時序都是將主機作為主設(shè)備,單總線器件作為從設(shè)備。而每一次命令和數(shù)據(jù)的傳輸都是從主機主動啟動寫時序開始,如果要求單總線器件回送數(shù)據(jù),在進(jìn)行寫命令后,主機需啟動讀時序完成數(shù)據(jù)接收。數(shù)據(jù)和命令的傳輸都是低位在先。 DS18B20 內(nèi)部結(jié)構(gòu)框圖 : DS18B20 采用3腳 TO92 封裝或8腳 SOIC 封裝,其內(nèi)部結(jié)構(gòu)框圖如(圖 4)所示。 畢業(yè)設(shè)計論文 基于 DS18B20 溫度測試系統(tǒng) 7 圖 4 DS18B20 內(nèi)部結(jié)構(gòu) 64 位 ROM 的結(jié)構(gòu)開始8位是產(chǎn)品 類型的編號,接著是每個器件的惟一的序號,共有 48 位,最后8位是前面 56 位的 CRC 檢驗碼,這也是多個 DS18B20 可以采用一線進(jìn)行通信的原因。溫度報警觸發(fā)器TH和TL,可通過軟件寫入戶報警上下限。 DS18B20 溫度傳感器的內(nèi)部存儲器還包括一個高速暫存RAM和一個非易失性的可電擦除的 EERAM。高速暫存 RAM 的結(jié)構(gòu)為8字節(jié)的存儲器,結(jié)構(gòu)如圖 3 所示。頭2個字節(jié)包含測得的溫度信息,第3和第4字節(jié)TH和TL的拷貝,是易失的,每次上電復(fù)位時被刷新。第5個字節(jié),為配置寄存器,它的內(nèi)容用于確定溫度值的數(shù)字轉(zhuǎn)換分辨率。 DS18B20 工作時寄存器中的分辨率轉(zhuǎn)換為相應(yīng)精度的溫度數(shù)值。該字節(jié)各位的定義如(圖 5)所示。低5位一直為1,TM是工作模式位,用于設(shè)置 DS18B20 在工作模式還是在測試模式, DS18B20 出廠時該位被設(shè)置為0,用戶要去改動, R1 和R 0 決定溫度轉(zhuǎn)換的精度位數(shù),來設(shè)置分辨率。 由(表 2)可見, DS18B20 溫度轉(zhuǎn)換的時間比較長,而且分辨率越高,所需要的溫度數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換時間越長。因此,在實際應(yīng)用中要將分辨率和轉(zhuǎn)換時間權(quán)衡考慮。 高速暫存RAM的第6、7、8字節(jié)保留未用,表現(xiàn)為全邏輯1。第9字節(jié)讀出前面所有8字節(jié)的 CRC 碼,可用來檢驗數(shù)據(jù),從而保證通信數(shù)據(jù)的正確性。 溫度 LSB 溫度 MSB TH 用戶字節(jié) 1 TL 用戶字節(jié) 2 配置寄存器 保留 保留 保留 CRC TM R1 1R0 1 1 1 1 .... 圖 5 DS18B20 字節(jié)定義 C 64 位 ROM 和 單 線 接 口 高速緩存 存儲器與控制邏輯 溫度傳感器 高溫觸發(fā)器 TH 低溫觸發(fā)器 TL 配置寄存器 8 位 CRC 發(fā)生器 VDD I/O 畢業(yè)設(shè)計論文 基于 DS18B20 溫度測試系統(tǒng) 8 表 2 DS18B20 溫度轉(zhuǎn)換時間表 R0R1000101119101112分辨率/位 溫度最大轉(zhuǎn)向時間/ms93 .7518 37 575 0.... 當(dāng) DS18B20 接收到溫度轉(zhuǎn)換命令后,開始啟動轉(zhuǎn)換。轉(zhuǎn)換完成后的溫度值就以 16 位帶 符號擴展的二進(jìn)制補碼形式存儲在高速暫存存儲器的第1、2字節(jié)。單片機可以通過單線接口讀出該數(shù)據(jù),讀數(shù)據(jù)時低位在先,高位在后,數(shù)據(jù)格式以 ℃/ LSB 形式表示。 當(dāng)符號 位S=0時,表示測得的溫度值為正值,可以直接將二進(jìn)制位轉(zhuǎn)換為十進(jìn)制;當(dāng)符號位S=1時,表示測得的溫度值為負(fù)值,要先將補碼變成原碼,再計算十進(jìn)制數(shù)值。(表 3)是一部分溫度值對應(yīng)的二進(jìn)制溫度數(shù)據(jù)。 表 3 部分溫度對應(yīng)值表 溫度 /℃ 二進(jìn)制表示 十六進(jìn)制表示 +125 0000 0111 1101 0000 07D0H +85 0000 0101 0101 0000 0550H + 0000 0001 1001 0000 0191H + 0000 0000 1010 0001 00A2H + 0000 0000 0000 0010 0008H 0 0000 0000 0000 1000 0000H 1111 1111 1111 0000 FFF8H 1111 1111 0101 1110 FF5EH 1111 1110 0110 1111 FE6FH 55 1111 1100 1001 0000 FC90H DS18B20 完成溫度轉(zhuǎn)換后,就把測得的溫度值 與 RAM 中的 TH、 TL字節(jié)內(nèi)容作比較。若T> TH 或 T< TL,則將該器件內(nèi)的報警標(biāo)志位置位,并對主機發(fā)出的報警搜索命令做出響應(yīng)。因此,可用多只 DS18B20 同時測量溫度并進(jìn)行報警搜索。 畢業(yè)設(shè)計論文 基于 DS18B20 溫度測試系統(tǒng) 9 在 64 位 ROM 的最高有效字節(jié)中存儲有循環(huán)冗余檢驗碼( CRC)。主機 ROM 的前 56 位來計算 CRC 值,并和存入 DS18B20 的 CRC 值作比較,以判斷主機收到的ROM 數(shù)據(jù)是否正確。 DS18B20 的測溫原理是這樣的 ,器件中低溫度系數(shù)晶振的振蕩頻率受溫度的影響很小,用于產(chǎn)生固定頻率的脈沖信號送給減法計數(shù)器1;高溫度系數(shù)晶振隨溫度變化其 振蕩頻率明顯改變,所產(chǎn)生的信號作為減法計數(shù)器2的脈沖輸入。器件中還有一個計數(shù)門,當(dāng)計數(shù)門打開時, DS18B20 就對低溫度系數(shù)振蕩器產(chǎn)生的時鐘脈沖進(jìn)行計數(shù)進(jìn)而完成溫度測量。計數(shù)門的開啟時間由高溫度系數(shù)振蕩器來決定,每次測量前,首先將- 55℃所對應(yīng)的一個基數(shù)分別置入減法計數(shù)器1、溫度寄存器中,計數(shù)器1和溫度寄存器被預(yù)置在- 55℃所對應(yīng)的一個基數(shù)值。 減法計數(shù)器1對低溫度系數(shù)晶振產(chǎn)生的脈沖信號進(jìn)行減法計數(shù),當(dāng)減法計數(shù)器1的預(yù)置值減到0時,溫度寄存器的值將加1,減法計數(shù)器1的預(yù)置將重新被裝入,減法計數(shù)器1重新開始對 低溫度系數(shù)晶振產(chǎn)生的脈沖信號進(jìn)行計數(shù),如此循環(huán)直到減法計數(shù)器計數(shù)到0時,停止溫度寄存器的累加,此時溫度寄存器中的數(shù)值就是所測溫度值。其輸出用于修正減法計 數(shù)器的預(yù)置值,只要計數(shù)器門仍未關(guān)閉就重復(fù)上述過程,直到溫度寄存器值大于被測溫度值。 另外,由于 DS18B20 單線通信功能是分時完成的,它有嚴(yán)格的時隙概念,因此讀寫時序很重要。系統(tǒng)對 DS18B20 的各種操作按協(xié)議進(jìn)行。操作協(xié)議為:初始化 DS18B20(發(fā)復(fù)位脈沖)→發(fā) ROM 功能命令→發(fā)存儲器操作命令→處理數(shù)據(jù)。 DS18B20 的通信協(xié)議 由于 DS18B20 采用的是 1- Wire 總線協(xié)議方式,即在一根數(shù)據(jù)線實現(xiàn)數(shù)據(jù)的雙向傳輸,而對 AT89C51 單片機來說,硬件上并不支持單總線協(xié)議,因此,我們 必須采用軟件的方法來模擬單總線的協(xié)議時序來完成對 DS18B20 芯片的訪問。 由于 DS18B20 是在一根 I/O 線上讀寫數(shù)據(jù),因此,對讀寫的數(shù)據(jù)位有著嚴(yán)格的時序要求。 DS18B20有嚴(yán)格的通信協(xié)議來保證各位數(shù)據(jù)傳輸?shù)恼_性和完整性。該協(xié)議定義了幾種信號的時序:初始化時序、讀時序、寫時序。所有時序都是將主機作為主設(shè)備 ,單總線器件作為從設(shè)備。而每一次命令和數(shù)據(jù)的傳輸都是從主機主動啟動寫時序開始,如果要求單總線器件回送數(shù)據(jù),在進(jìn)行寫命令后,主機需啟動讀時序完成數(shù)據(jù)接收。 DS18B20 器件要求采用嚴(yán)格的通信協(xié)議,以保證數(shù)據(jù)的完整性。該協(xié)議定義了幾種信號類型:復(fù)位脈沖,應(yīng)答脈沖時隙;寫 0,寫 1 時隙;讀 0,讀 1 時隙。與 DS18B20 的通信,是通過操作時隙完成單總線上的數(shù)據(jù)傳輸。發(fā)送所有的命令和數(shù)據(jù)時,都是字節(jié)的低位在前,高位在后。 ① 復(fù)位和應(yīng)答脈沖時隙 每個通信周期起始于微控制器發(fā)出的復(fù)位脈沖,其后緊跟 DS18B20 發(fā)出的應(yīng)答 脈沖,在寫時隙期間,主機向 DS18B20 器件寫入數(shù)據(jù),而在讀時隙期間,主機讀入來自 DS18B20 的數(shù)據(jù)。在每一個時隙,總線只能傳輸一位數(shù)據(jù)。 DS18B20 的復(fù)位時序圖: 畢業(yè)設(shè)計論文 基于 DS18B20 溫度測試系統(tǒng) 10 ② 寫時隙 當(dāng)主機將單總線 DQ 從邏輯高拉為邏輯低時,即啟動一個寫時隙,所有的寫時隙必須在 60~120us 完 成,且在每個循環(huán)之間至少需要 1us 的恢復(fù)時間。寫 0和寫 1 時隙如圖所示。在寫 0 時隙期間,
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