【正文】 均數(shù)管制圖區(qū)； 一個全距管制圖區(qū) 。 案例 1圖 XR圖制作步驟及注意事項總結： 確定控制對象 。 取預備數(shù)據(jù) 。 計算 Xbar、 Ri。 計算中心線 。 計算 R圖控制線并作圖 。 將預備數(shù)據(jù)并繪在 R圖中 ， 并對狀態(tài)進行判斷 。 計算 X圖控制線并作圖 。 計算過程能力指數(shù)并檢驗其是否滿足技術要求 。 進行日常管理 。 課堂實兵演練 ： ※1 ）注意規(guī)格界限與管制界限之間的比較。 可分三種狀態(tài)： 包含關系 交叉關系 不相干 2）超出管制界限 3）連續(xù)幾點上升或下降 可認定是有某種趨勢，表明是一種系統(tǒng)原因在推動這種趨勢， 4）連續(xù)幾點在管制線上方或下方 一般設定 3點或 5點以上，但有時候由于產品的特性可能有周期性，可設定更多點。 ： 5）連續(xù)幾點一升一降 一般為 5點或 7點，但有時候由于產品的特性可能有周期性，可設定更多點。此種狀態(tài)分兩種：一是越變越大；二是越變越少。 6）連續(xù)幾點在 3倍的標準差以外 一般為 3點，但有時候也要注意當品質非常好而考慮成本放松的變化，建議點數(shù)不要設定更大。 ： 7）連續(xù)幾點中有幾點在 2倍標準差以外 一般初始為連續(xù) 7點中有 3點在 2倍標準差以外，但有時候也可根據(jù)產品特性可能有周性而設更多點，如連續(xù) 9點中有 4點在 2倍標準差以外。 此種狀況反應出制程能力開始下降，一般屬于系統(tǒng)問題，但暫時還不算嚴重，要多多注意監(jiān)控， ： 8）連續(xù)幾點中有幾點在 1倍標準差以內 一般為連 5點中有 3點在 1倍標準差以內，但有時候也可根據(jù)產品特性可能有周期性而設更多點。 此種狀況反應品質朝較好方向發(fā)展，所以只要注意監(jiān)控，并把相關重要參數(shù)記錄下來，以利于做標準化。 9）連續(xù)幾點在中心線兩側，但未在 1倍標準差之內 一般為連續(xù) 5點在中心線兩側，但未在 1倍標準差之內，但有時候也可根據(jù)產品特性可能有周性而設更多點。 此種狀況反應品質可能雖然穩(wěn)定，但能力不夠或整體向上或下移動少許，多屬系統(tǒng)原因，應加強系統(tǒng)改善。 ： 圖形分析還應注意： 1）平均數(shù)管制圖看是否偏離方向，全距管制圖看穩(wěn)定程度。所以平均數(shù)管制圖是波動越小越好，全距管制圖是越往下越好，表示每組數(shù)據(jù)中變異越少。 2）當平均數(shù)管制圖有連續(xù) 3 點上升或下降，而 R圖沒有較大波動時，則表示制程中有某個因素正在慢慢朝某個方向發(fā)生變化。 3）當平均數(shù)管制圖沒有較大幅度變化，而全距管制圖有出現(xiàn)連續(xù) 3點上升，則表示機臺有較大松動。 4)所有圖形分析，都需要同以前在相同條件下做比較分析，并盡可能尋找可能的周期性變化趨勢，同時去驗證一到兩次。 統(tǒng)計過程診斷（ SPD） Statistical Process Diagnosis SPD診斷案例 （二） Xbar σ 平均數(shù)、標準差管制圖 ： 當每組樣本數(shù)較大 (n10)時 ， 全距 R容易受個別值影響較大 ， 而標準差相對較小 ， 所以 σ 成為過程變異性更有效的指標 ， 此時一般用 Xbar S(σ )代替 Xbar R.。 ： ① 計算每組數(shù)據(jù)的 Xbar及 σ （ s） ： ② 計算管制中心線： ③ 計算管制上 、 下限 管制圖標準差： ： SUCL= SLCL= ： SUCL= SLCL= :與 XbarR基本相同 Xbar— S管制圖 檢驗站別： PQC 1 頁次： 1/1頁 產品名稱：陶瓷電容 產品編號： B4022 33 管制特性：腳寬 時間： 2023/10/1~2023/10/16 樣本數(shù) :5 規(guī)格上限： 規(guī)格下限： 規(guī)格水準： 3 USL SL LSL X U CL X B AR X L CL S U CL S B AR S L CL Ca Cp Cpk PPM 10 0 9 9 0 組數(shù) 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 平均值 6 8 6 6 8 4 10 2 6 2 全距 標準差 3 0 . 084 8 1 （ 三 ） 中位數(shù)全距管制圖 （ MR） 1意義： 優(yōu)點： 可產生與 XbarR圖相同的作用 （ 結論 ） ， 中位數(shù)易于使用 ， 并不要求很多計算 ， 使車間工人易于接受控制圖方法 。 缺點： 中位數(shù)在統(tǒng)計意義上沒有均值理想 。 2圖形制作： ① 中位數(shù)的算法：先將數(shù)據(jù)按大小順序排列 ， 再取中間的一個數(shù)據(jù) 。 ② 計算管制中心線及管制上 、 下限 中心線：直按取各組中位數(shù)的平均值 Xm=Xmcl= 中位數(shù)管制圖標準差： Xmσ = XmUCL=XmCL+3Xmσ XmLCL=XmCL3Xmσ 3圖形分析 ：同 XbarR 分別計算出它們的中位數(shù)（如遇偶數(shù)個數(shù)據(jù)，建議統(tǒng)一取前面或后面一個數(shù)據(jù)） 序號 檢驗時間 NO1 NO2 NO3 NO4 NO5 R Xm 1 2023/10/1 PM 05:08:58 10 10 2 2023/10/2 PM 05:09:20 10 3 2023/10/3 PM 05:09:33 4 20 01/10/4 PM 05:09:51 10 10 10 5 2023/10/5 PM 05:10:03 10 10 6 2023/10/6 PM 05:10:16 7 2023/10/7 PM 05:14:21 10 10 10 8 2023/10/8 PM 05:10:50 9 2023/10/9 PM 04:34:40 10 10 10 2023/10/10 PM 04:35:58 10 10 11 2023/10/11 PM 04:35:27 10 10 12 2023/10/12 PM 04:35:37 10 10 10 13 2023 /10/13 PM 04:36:33 10 10 14 2023/10/14 PM 04:36:44 10 10 15 2023/10/15 PM 05:02:15 10 10 10 案例 XmR 中位數(shù)全距管制圖 檢驗站別： PQC 1 頁次： 1/1頁 產品名稱：陶瓷電容 產品編號： B40211 33 管制特性：腳寬 時間： 2023/10/1~2023/10/16 樣本數(shù) :5 規(guī)格上限： 規(guī)格下限： 規(guī)格水準： 3 USL SL LSL XmUCL XmBAR XmLCL SUCL SBAR SLCL Ca Cp Cpk PPM 10 0 0 組數(shù) 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 是位數(shù) 10 10 10 10 10 10 10 10 全距 標準差 （四） XRm（個別值與移動全距管制圖） ： 以不分組的方式描點作管制圖，要求每次或每組的樣本數(shù)為 1。在計量值中，當每次取樣數(shù)為 1時，不能用以上三種管制圖。 使用場合 ： ①一次只能收集到一個樣本數(shù)據(jù)，如損耗率； ②制程的品質極為均勻，不需要多取樣本，如液體濃度、 PH值等； ③取得測定值既費時成本又高，如復雜的化學分析及破壞性試驗等。 ：