【正文】 60。設(shè)計(jì)測(cè)試裝備。216。設(shè)計(jì)測(cè)試用例，測(cè)試方法。2023/3/1122硬件測(cè)試的種類與操作測(cè)試設(shè)計(jì)的好處216。良好的測(cè)試設(shè)計(jì)和有效測(cè)試工具可減少重復(fù)低效的勞動(dòng)216。有效地開(kāi)發(fā)利用測(cè)試工具可使測(cè)試更深入、更全面216。有些復(fù)雜的測(cè)試只能依靠測(cè)試工具進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試216。在測(cè)試中經(jīng)常進(jìn)行測(cè)試設(shè)計(jì)是提升技術(shù)水平的有效手段我們?cè)谧鰷y(cè)試工作時(shí)，不能因循守舊，需要時(shí)刻考慮如何改進(jìn)我們的測(cè)試效果，提高我們的測(cè)試效率，在測(cè)試點(diǎn)上進(jìn)行深入研究，開(kāi)發(fā)測(cè)試工具，最終使我們的所有點(diǎn)的測(cè)試達(dá)到自動(dòng)化。2023/3/1123硬件測(cè)試的種類與操作良好的測(cè)試設(shè)計(jì)同樣也是節(jié)約測(cè)試成本的手段現(xiàn)在的測(cè)試工作中，經(jīng)常會(huì)遇到一些無(wú)法在實(shí)驗(yàn)室模擬的情況，可能在實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)也無(wú)法模擬，并且如果要模擬所花的代價(jià)很大，如滿配置、最大負(fù)荷的情況，而這些項(xiàng)目的測(cè)試通過(guò)與否是檢驗(yàn)系統(tǒng)性能的重要手段。這個(gè)測(cè)試任務(wù)便給我們提出了編寫測(cè)試軟件模擬大負(fù)荷情況的要求。不但實(shí)現(xiàn)和自動(dòng)化，而且大幅度的節(jié)約了成本。2023/3/1124硬件測(cè)試的種類與操作功能測(cè)試 功能測(cè)試是根據(jù)硬件詳細(xì)設(shè)計(jì)報(bào)告中提及的功能規(guī)格進(jìn)行測(cè)試，驗(yàn)證設(shè)計(jì)是否滿足要求。 功能測(cè)試是系統(tǒng)功能實(shí)現(xiàn)的基本，是需要嚴(yán)格保證測(cè)試通過(guò)率的。如被測(cè)對(duì)象與其規(guī)格說(shuō)明、總體 /詳細(xì)設(shè)計(jì)文檔之間存在任何差異的均需要詳細(xì)描述。 一般包含，電源、 CPU、邏輯、復(fù)位、倒換、監(jiān)控、時(shí)鐘、業(yè)務(wù)等。2023/3/1125硬件測(cè)試的種類與操作性能測(cè)試 —— 容限測(cè)試 指使系統(tǒng)正常工作的輸入允許變化范圍。容限測(cè)試的目的是通過(guò)測(cè)試明確知道我們的設(shè)備到底在什么樣的條件范圍下能夠正常工作，薄弱環(huán)節(jié)到底在哪里。 能否發(fā)現(xiàn)和驗(yàn)證器件降額的問(wèn)題，系統(tǒng)工作允許范圍內(nèi)的臨界點(diǎn)上的性能。2023/3/1126硬件測(cè)試的種類與操作長(zhǎng)時(shí)間驗(yàn)證測(cè)試216。由于電子類產(chǎn)品很多是需要長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行的，所以進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的驗(yàn)證測(cè)試是很有必要的216。某些器件應(yīng)用不當(dāng)?shù)脑O(shè)計(jì)，更容易在長(zhǎng)時(shí)間的運(yùn)行中，才會(huì)顯露出來(lái)。216。系統(tǒng)的散熱能力也只有在長(zhǎng)時(shí)間的大功率運(yùn)行時(shí)才容易暴露。216。長(zhǎng)時(shí)間的運(yùn)行才容易發(fā)生某些被忽略的偶然因素，容易發(fā)現(xiàn)某些潛在問(wèn)題。2023/3/1127硬件測(cè)試的種類與操作長(zhǎng)時(shí)間驗(yàn)證測(cè)試（續(xù)）長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試不僅對(duì)于系統(tǒng)而言，在進(jìn)行單元測(cè)試和集成測(cè)試時(shí)，對(duì)于每一個(gè)功能模塊均需要進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的功能驗(yàn)證。長(zhǎng)時(shí)間的驗(yàn)證具體的時(shí)間把握同產(chǎn)品的實(shí)際使用情況相關(guān)，對(duì)于通信產(chǎn)品系統(tǒng)，一般建議測(cè)試時(shí)間要達(dá)到一星期。對(duì)于每一個(gè)功能模塊的時(shí)間要求一般要達(dá)到兩天。2023/3/1128硬件測(cè)試的種類與操作一致性測(cè)試 一致性測(cè)試是指將不同批次的產(chǎn)品分別取樣，進(jìn)行測(cè)試驗(yàn)證，考察產(chǎn)品功能和性能方面一致性的測(cè)試為了驗(yàn)證不同生產(chǎn)批次的產(chǎn)品質(zhì)量和不同批次器件的質(zhì)量，是否具有較高的一致性，是否能夠滿足產(chǎn)品的功能和使用條件要求。2023/3/1129硬件測(cè)試的種類與操作一致性測(cè)試測(cè)試要點(diǎn)216。測(cè)試至少要包含 3次活以上不同器件批次和生產(chǎn)批次的產(chǎn)品216。測(cè)試項(xiàng)目要包含所有的功能測(cè)試項(xiàng)目，和重要的信號(hào)質(zhì)量和時(shí)序等項(xiàng)目216。重點(diǎn)需要驗(yàn)證長(zhǎng)時(shí)間的穩(wěn)定性是否一致216。如果具備條件，需要驗(yàn)證在環(huán)境條件變化時(shí)（如高溫環(huán)境），各樣品的一致性能。2023/3/1130課程大綱216。硬件測(cè)試概述216。測(cè)試前準(zhǔn)備216。硬件測(cè)試的種類與操作216。硬件測(cè)試的級(jí)別216?？煽啃詼y(cè)試216。測(cè)試問(wèn)題解決216。測(cè)試效果評(píng)估216。測(cè)試規(guī)范制定216。測(cè)試人員的培養(yǎng)2023/3/1131硬件測(cè)試的級(jí)別黑盒測(cè)試與白盒測(cè)試 216。 黑盒測(cè)試注重于測(cè)試功能性需求，將測(cè)試對(duì)象看成一黑盒，對(duì)外只有輸入、輸出。設(shè)計(jì)黑盒測(cè)試用例只對(duì)于表現(xiàn)在外接口的各種輸入，對(duì)不同的輸入，測(cè)試其表現(xiàn)出來(lái)的輸出，從而達(dá)到測(cè)試功能的目的。216。 白盒測(cè)試主要測(cè)試模塊內(nèi)部的邏輯細(xì)節(jié)，各個(gè)獨(dú)立的邏輯路徑，黑盒測(cè)試不管多么全面，都可能忽略這些錯(cuò)誤。設(shè)計(jì)白盒測(cè)試用例需要構(gòu)造到信號(hào)、邏輯或消息級(jí)。2023/3/1132硬件測(cè)試的級(jí)別具體測(cè)試時(shí)結(jié)合使用 白盒測(cè)試與黑盒測(cè)試各有優(yōu)勢(shì)，設(shè)計(jì)測(cè)試用例時(shí)應(yīng)結(jié)合使用舉例：對(duì)于開(kāi)關(guān)電的測(cè)試，一般采用黑盒測(cè)試，設(shè)計(jì)的測(cè)試用例為：快速上、下電，頻繁上、下電等；對(duì)于時(shí)鐘電路、鎖相環(huán)等的測(cè)試，就需要設(shè)計(jì)白盒測(cè)試用例，如鎖相范圍、靜態(tài)相差、固有抖動(dòng)、抖動(dòng)容限等。2023/3/1133硬件測(cè)試的級(jí)別測(cè)試的級(jí)別 硬件測(cè)試按照系統(tǒng)的復(fù)雜程度，一般分為： 216。 單元測(cè)試 —— 針對(duì)獨(dú)立功能單元的測(cè)試216。 集成測(cè)試 —— 針對(duì)具有一定集成度的功能子系統(tǒng)的測(cè)試216。 系統(tǒng)測(cè)試 —— 針對(duì)完整的系統(tǒng)整體的測(cè)試2023/3/1134硬件測(cè)試的級(jí)別分層測(cè)試的行為方式 測(cè)試不能僅僅在一個(gè)層次進(jìn)行，而是應(yīng)該打破層次之間的界限問(wèn)題出現(xiàn)較多的地方一般都是在層與層之間的配合上，如硬件邏輯與底層軟件的配合，底層軟件與高層軟件的配合。按照子系統(tǒng)來(lái)劃分是打破物理層次的較好的方法。如一個(gè)系統(tǒng)中的時(shí)鐘系統(tǒng)，它可能與系統(tǒng)中的各塊單板都相關(guān)，并可能貫穿高層軟件、底層軟件及硬件。對(duì)這個(gè)時(shí)鐘系統(tǒng)測(cè)試需要將其首先劃分為各個(gè)子模塊，對(duì)各模塊進(jìn)行測(cè)試，然后將其貫穿為整個(gè)時(shí)鐘系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試2023/3/1135課程大綱216。硬件測(cè)試概述216。測(cè)試前準(zhǔn)備216。硬件測(cè)試的種類與操作216。硬件測(cè)試的級(jí)別216?？煽啃詼y(cè)試216。測(cè)試問(wèn)題解決216。測(cè)試效果評(píng)估216。測(cè)試規(guī)范制定216。測(cè)試人員的培養(yǎng)2023/3/1136可靠性測(cè)試 EMC電磁兼容性216。 電磁騷擾測(cè)試? 輻射騷擾測(cè)試（ RE）? 傳導(dǎo)騷擾測(cè)試 （ CE）? 諧波電流騷擾測(cè)試 （ Harmonic）? 電壓波動(dòng)與閃爍測(cè)試 （ Fluctuctionsandflicker）2023/3/1137可靠性測(cè)試EMC電磁兼容性216。 電磁敏感度測(cè)試? 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度測(cè)試 （ RS）? 傳導(dǎo)騷擾抗擾度測(cè)試 （ CS）? 電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試 （ EFT/B）? 靜電放電抗擾度測(cè)試 （ ESD）? 電壓跌落、短時(shí)中斷抗擾度測(cè)試（ DIP/interruption）? 工頻磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試 （ PMS）? 浪涌抗擾度測(cè)試 （ SURGE）2023/3/1138可靠性測(cè)試EMC電磁兼容性? 電力線感應(yīng)測(cè)試? 電力線接觸測(cè)試2023/3/1139可靠性測(cè)試安規(guī)輸入測(cè)試 溫升測(cè)試耐壓測(cè)試