實(shí)驗(yàn)19集成運(yùn)放參數(shù)測(cè)試-文庫(kù)吧
2025-07-03 22:07 本頁(yè)面
【正文】 VOS表達(dá)式 ◆ 輸入失調(diào)電壓 VOS 當(dāng)輸入信號(hào)為零時(shí)，由于運(yùn)放內(nèi)差分放大器的不對(duì)稱(chēng)性，導(dǎo)致輸出信號(hào)不為 零，這種現(xiàn)象稱(chēng)為運(yùn)算放大器失調(diào)。為使輸出電壓為零，而在輸入端加入一補(bǔ)償 電壓，該補(bǔ)償電壓即叫做輸入失調(diào)電壓 VOS ，下圖為測(cè)試電路圖。調(diào)整電位器 RM ，使輸出電壓為零，此時(shí)輸入端電壓表指示設(shè)為 Vi，那么失調(diào)電壓可用下式表示： School of Microelectronics Xidian University 實(shí)驗(yàn)原理及方法 輸入失調(diào)電壓 VOS閉環(huán)測(cè)試圖 輸入失調(diào)電壓 VOS表達(dá)式 ◆ 輸入失調(diào)電壓 VOS 輸入失調(diào)電壓實(shí)際上就是在輸入電壓為零時(shí)的運(yùn)放輸出電壓折合到輸入端的電 壓值，也可采用閉環(huán)的方法進(jìn)行測(cè)量，下圖給出了測(cè)試原理圖和計(jì)算公式： VOS=VO/AV School of Microelectronics Xidian University 實(shí)驗(yàn)原理及方法 IB測(cè)量電路圖 I＋ B測(cè)量電路圖 ◆ 輸入失調(diào)電流 IOS
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