【正文】 判定ABC包裝目檢：破損、混裝B外觀檢查目檢1. 標(biāo)識：印字不清晰、無法辨認(rèn)、酒精易抹去B2. 主體：表面嚴(yán)重劃傷、破裂者，影響電氣性A3. 引腳：附有嚴(yán)重污垢及氧化；引腳斷、松動A尺寸結(jié)構(gòu)封裝尺寸、結(jié)構(gòu)應(yīng)符合樣本要求。測量1. 封裝：尺寸不符要求。B2. 引腳:長度、直徑不符要求。B電性參數(shù)“二極管”檔，兩表筆測量正、反向阻抗萬用表、樣品、晶體管直流參數(shù)測試表、反向阻抗：不符合要求B2. 晶體管直流參數(shù)測試表穩(wěn)壓管的穩(wěn)壓值；（只適用于穩(wěn)壓管）A通電接入電路后，整機性能不穩(wěn)定，擊穿者A備注：1. 穩(wěn)壓管的穩(wěn)壓電壓值測試一項只適用于穩(wěn)壓二極管檢驗；2. 實配檢驗時，批次進(jìn)料抽檢15PCS進(jìn)行試驗即可；以下是常用二極管的型號相關(guān)資料：編 制審 核批 準(zhǔn)日 期日 期日 期進(jìn) 料 檢 驗 標(biāo) 準(zhǔn) 書文件編號：SRWIPB01版本/版次： A/3物料名稱發(fā)光二極管生效日期：2013919適用型號：通用型尺寸、外觀、結(jié)構(gòu)以本公司品質(zhì)部樣品為準(zhǔn)頁 碼：第8 頁抽樣標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 一般水平Ⅱ AQL:致命缺陷（A）=0 重缺陷（B）= 輕缺陷（ C）=檢驗項目檢驗方法檢測工具、設(shè)備檢驗內(nèi)容與缺陷描述缺陷判定ABC包裝目檢：破損、混裝B外觀檢查目檢：顏色不符樣本要求。B2. 主體外觀：有明顯的疤痕、污點 、嚴(yán)重劃傷或破裂；B：易斷、嚴(yán)重污垢及氧化；尺寸結(jié)構(gòu)實測卡尺：直徑大于正常值，影響裝配；B：長度、外徑、引腳徑不符要求。B技術(shù)參數(shù)1. 用直流電源直接接在LED兩引腳，從0V逐漸加高電壓致LED完全點亮直流電源：超出正常值范圍較大者（以樣本為準(zhǔn)）。A：超出正常值范圍較大者（以樣本為準(zhǔn)）。A 工作電流：超出正常值范圍較大者（以樣本為準(zhǔn)）。A：不符樣本要求。A：不符樣本要求。A老化架 老化：接入老化架老化8H有性能異常者；A備注：1. 老化試驗批量抽取2050PCS進(jìn)行8H老化,老化時老化架供電電壓需調(diào)到合適的LED正常工作電壓；：編 制游光葵審 核劉朝輝批 準(zhǔn)劉新文日 期2013919日 期2013919日 期2013919進(jìn) 料 檢 驗 標(biāo) 準(zhǔn) 書文件編號：SRWIPB01版本/版次： A/3物料名稱O3燈泡生效日期：2013919適用型號：通用型尺寸、外觀、結(jié)構(gòu)以本公司品質(zhì)部樣品為準(zhǔn) 頁 碼：第 9 頁抽樣標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 一般水平ⅡAQL:致命缺陷（A）=0 重缺陷（B）= 輕缺陷（ C）=檢驗項目檢驗方法檢測工具、設(shè)備檢驗內(nèi)容與缺陷描述缺陷判定ABC包裝目檢：破損、混裝C外觀檢查目檢1. 主體：有明顯的疤痕、破裂、污跡、嚴(yán)重劃傷、皺縮、內(nèi)響、松動、大白點、磨砂不均勻 。B2. 燈腳：有嚴(yán)重污垢及氧化、標(biāo)識不清B3. 燈芯：偏高、燈芯偏離中心： 偏離燈泡中心≤5㎜ 偏離燈泡中心≥5㎜AB尺寸結(jié)構(gòu)測量卡尺1. 外形：。B2. 燈芯:長度、硬度、外徑不符要求。A3. 燈泡玻璃:結(jié)構(gòu)厚度不符要求。A技術(shù)參數(shù) 測試架測試O3測試架O3: 斷續(xù)、弱、延時5秒以上的；A實配通電：實配相應(yīng)的電路、通電老化8H以上性能不良；A備注：；；編 制游光葵審 核劉朝輝批 準(zhǔn)劉新文日 期2013919日 期2013919日 期2013919進(jìn) 料 檢 驗 標(biāo) 準(zhǔn) 書文件編號：SRWIPB01版本/版次： A/3物料名稱LED數(shù)碼管生效日期：2013919適用型號：通用型尺寸、外觀、結(jié)構(gòu)以本公司品質(zhì)部樣品為準(zhǔn) 頁 碼：第 10 頁抽樣標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 一般水平Ⅱ AQL:致命缺陷（A）=0 重缺陷（B）= 輕缺陷（ C）=檢驗 項目檢驗方法檢測工具設(shè)備檢驗內(nèi)容與缺陷描述缺陷判定ABC包裝目檢：破損、混裝B外觀檢查目檢參照樣本1. 外形、顏色：不符樣本要求。A2. 外觀：有臟污、雜質(zhì)嚴(yán)重刮花、缺角、破裂者A、影響電氣性能； B、不影響電氣性能且裝配看不到；AB3. 引腳：附有嚴(yán)重污垢及氧化。B尺寸結(jié)構(gòu)測量卡尺1. 外形大于正常值：。 。AB2. 引腳：長度、外徑、引腳距不符全要求。A技術(shù)參數(shù)、反向阻抗萬用表：與外部引腳不對應(yīng)，極性反者。A、反向阻抗：反向無窮大，正向與樣本不一致；A：烙鐵焊接（260℃177。5 ℃,5177。1秒）30W烙鐵 焊接：插件后過高溫錫爐或手工焊接，開路、短路者。A實配 性能：實配接入電路后，性能不穩(wěn)定者。A：實配接入電路后，發(fā)光顏色、亮度不符樣本要求。A備注：1. 熱焊耐抗測試批量抽取510PCS進(jìn)行試驗即可；2. 實配測試每批次抽取510PCS進(jìn)行老化試驗；3. 常見共陽、共陰數(shù)碼管引腳等效圖；編 制游光葵審 核劉朝輝批 準(zhǔn)劉新文日 期2013919日 期2013919日 期2013919進(jìn) 料 檢 驗 標(biāo) 準(zhǔn) 書文件編號：SRWIPB01版本/版次： A/3物料名稱三 極 管生效日期：2013919適用型號：通用型尺寸、外觀、結(jié)構(gòu)以本公司品質(zhì)部樣品為準(zhǔn) 頁 碼：第 11 頁抽樣標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 一般水平Ⅱ AQL:致命缺陷（A）=0 重缺陷（B）= 輕缺陷（ C）=檢驗項目檢驗方法檢測工具、設(shè)備檢驗內(nèi)容與缺陷描述缺陷判定ABC包裝目檢：破損、混裝B外觀檢查目檢1. 外部印字或標(biāo)識不清：。 B. 可辨認(rèn)。AC2. 主體：有明顯的氧化、破裂。A3. 引腳：附有嚴(yán)重污垢及氧化、易斷、打卷B封裝結(jié)構(gòu)測量1. 封裝尺寸：。 。BC2. 引腳：長度、外徑、間距不符要求。B技術(shù)參數(shù)1. 晶體管直流參數(shù)測試儀測量IB=1MA時的放大倍數(shù)；2. 萬用表測量引腳間的阻抗\極性；晶體管參數(shù)測試儀萬用表直流電源（直流）電流放大系數(shù)β：不符要求B：不符要求A：不符合要求B:耐壓不符合要求A實配通電老化：性能不穩(wěn)定或發(fā)熱異常、擊穿A備注：；：編 制游光葵審 核劉朝輝批 準(zhǔn)劉新文日 期2013919日 期2013919日 期2013919進(jìn) 料 檢 驗 標(biāo) 準(zhǔn) 書文件編號：SRWIPB01版本/版次： A/3物料名稱可 控 硅生效日期：2013919適用型號：通用型尺寸、外觀、結(jié)構(gòu)以本公司品質(zhì)部樣品為準(zhǔn) 頁 碼：第 12頁抽樣標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 一般水平Ⅱ AQL:致命缺陷（A）=0 重缺陷（B）= 輕缺陷（ C）=檢驗項目檢驗方法檢測工具、設(shè)備檢驗內(nèi)容與缺陷描述缺陷判定ABC包裝目檢：破損、混裝B外觀檢查參照樣本1. 絲印標(biāo)識： ，無法辨認(rèn)。 B. 不清晰，可辨認(rèn)。AC3. 外觀：A、嚴(yán)重劃傷或破裂者影響電氣性能 B、嚴(yán)重劃傷或破裂者不影響電氣性能AB：斷、松動、附有嚴(yán)重污垢及氧化A尺寸結(jié)構(gòu)卡尺測量卡尺：，影響裝配。 ，不影響裝配。BC2. 引腳：長度、外徑、間距不符要求。B技術(shù)參數(shù)；，用穩(wěn)壓電源逐漸加大電壓直到正常工作；；萬用表 穩(wěn)壓電源 測試架A2. 極性不符要求A3點亮電壓、正常工作電壓不符合要求；A、正常工作電流不符合要求；A；A備注：1. 實配測試檢驗每批次抽取35PCS進(jìn)行老化試驗；可控管引腳辨別： 先用萬用表R*1K擋測量三腳之間的阻值，阻值小地兩腳辨別為控制極和陰極，所剩地一腳為陽極。再將萬用表置于R*10K擋，用手指捏住陽極和另一腳，且不讓兩腳接觸，黑表筆接陽極，紅表筆接剩下的一腳，如表針向右擺動，說明紅表筆所接為陰極，不擺動則為控制極。 編 制游光葵審 核劉朝輝批 準(zhǔn)劉新文日 期2013919日 期2013919日 期2013919進(jìn) 料 檢 驗 標(biāo) 準(zhǔn) 書文件編號：SRWIPB01版本/版次： A/3物料名稱集成電路(CPU或IC)生效日期：2013919適用型號：通用型尺寸、外觀、結(jié)構(gòu)以本公司品質(zhì)部樣品為準(zhǔn) 頁 碼：第13頁抽樣標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 一般水平ⅡAQL:致命缺陷（A）=0 重缺陷（B）= 輕缺陷（ C）=檢驗項目檢驗方法檢測工具設(shè)備檢驗內(nèi)容與缺陷描述缺陷判定ABC包裝目檢：破損、混裝B外觀檢查目檢：嚴(yán)重扭曲變形或開裂者。A：模糊不清晰（但沒完全脫落，標(biāo)志不耐磨）。B3. 引腳：，造成短路者。 B. 有嚴(yán)重污垢及氧化層者.A尺寸測量卡尺1. 引腳：長度、間距不符合插機、裝配者。A2. 封裝尺寸：不符合插機、裝配者。A電氣性能；℃90℃的溫度，實配好的電路放進(jìn)針扎棉中，10分鐘后再測試電路功能。（5℃5℃）內(nèi)，30分鐘后再測試電路功能。冰箱測試架1. 實配：電路后，性能異常；A2. 高溫試驗：工作環(huán)境溫度（70℃90℃）時性能不穩(wěn)定者。A3. 低溫試驗：工作環(huán)境溫度（5℃5℃）時性能不穩(wěn)定者。A可焊性40W烙鐵焊接（260℃177。10 ℃）40W烙鐵：3S上錫后，開路、短路者。A老化實配：電路老化12H異常；A備注：1. 實配測試檢驗每批次抽取510PCS進(jìn)行老化試驗；常見的IC封裝如下圖：編 制游光葵審 核劉朝輝批 準(zhǔn)劉新文日 期2013919日 期2013919日 期2013919進(jìn) 料 檢 驗 標(biāo) 準(zhǔn) 書文件編號：SRWIPB01版本/版次： A/3物料名稱微動開關(guān)、輕觸開關(guān)、自鎖開關(guān)生效日期：2013919適用型號：通用型尺寸、外觀、結(jié)構(gòu)以本公司品質(zhì)部樣品為準(zhǔn) 頁 碼：第14頁抽樣標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 一般水平Ⅱ AQL:致命缺陷（A）=0 重缺陷（B）= 輕缺陷（ C）=檢驗 項目檢驗方法檢測工具、設(shè)備檢驗內(nèi)容與缺陷描述缺陷判定ABC包裝目檢：破損、混裝B外觀檢查目檢1. 主體：，表面嚴(yán)重劃傷，裂痕。 B. 外形不符樣本要求. AAB2. 引腳：腳斷，變形，嚴(yán)重污垢及氧化。B：內(nèi)部彈片大小、結(jié)構(gòu)與樣本不一致，影響使用A結(jié)構(gòu) 尺寸測量卡尺1. 封裝尺寸：不符合規(guī)格，影響裝配(按鈕高度)A2. 引腳：間距、長度不符合要求A力度用拉力計測量按彈力度拉力計：開關(guān)動作的力度在標(biāo)稱值誤差外；A