壽命試驗控制程序-文庫吧
2025-06-22 13:53 本頁面
【正文】 。 抽樣標(biāo)準(zhǔn)與室溫條件： 量測樣品數(shù)視實(shí)際需求或依【抽樣作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)書】中機(jī)構(gòu)尺寸、物理特性抽樣作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定辦理。 室溫條件：溫度15℃~ 35℃,濕度 10% ~ 95%,氣壓86 ~ 106 kPa(mbar)。 壽命試驗： 執(zhí)行時機(jī)：適用于產(chǎn)品新產(chǎn)品開發(fā)階段、生產(chǎn)制品、出貨批、不良分析、客戶要求及更換零件材質(zhì)或設(shè)計變更結(jié)構(gòu)。 測試條件： 使用壽命測試治具， kg/ cm2177。，PCB測試卡，插拔壽命周期約為2秒1次。 當(dāng)只要求仿真測試插拔壽命次數(shù)，用以分析待測物結(jié)構(gòu)或特定零件之壽命，得以IC塑料卡作為測試卡， kg/ cm2177。，執(zhí)行測試。 檢測頻率： 基本檢測點(diǎn)：測試前（初始值），第5,000/10,000/20,000/30,000/50,000/70,000/100,000/130,000次……累積至插卡壽命次數(shù)，超過130,000次后，每30,000次檢測一次，到產(chǎn)品所規(guī)范的次數(shù)，最后一次不足60,000次時，則選擇實(shí)際剩余次數(shù)直接累積至插卡壽命次數(shù)作為檢測點(diǎn)。 經(jīng)濟(jì)檢測點(diǎn)：0/50K/50K……累積至插卡壽命次數(shù)，當(dāng)最后一次不足50K次時，選擇剩余次數(shù)作為檢測頻率。 快速檢測點(diǎn)：測試前（初始值）及完成產(chǎn)品插拔壽命次數(shù)。 檢測頻率之選定：
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