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基于51單片機的轉(zhuǎn)速測量系統(tǒng)的設(shè)計-文庫吧

2025-06-09 16:34 本頁面


【正文】 顯示器。其有兩種驅(qū)動方式,共陰驅(qū)動和共陽驅(qū)動,共陰驅(qū)動是各段發(fā)光二極管的陰極連在一起,并將公共端接地,在共陽結(jié)構(gòu)中,將各段發(fā)光二極管陽極連在一起,并將公共端接上+5V電源,顯示字符對應(yīng)字型代碼發(fā)光。 硬件設(shè)計總體方案硬件設(shè)計的任務(wù)是根據(jù)總體設(shè)計要求,在系統(tǒng)工作原理的基礎(chǔ)上,具體確定系統(tǒng)中所要使用的元器件,設(shè)計出系統(tǒng)的原理框圖、電路原理圖。轉(zhuǎn)速是工程中應(yīng)用非常廣泛的一個參數(shù),早期模擬量的模擬處理一直是作為轉(zhuǎn)速測量的主要方法,這種測量方法在測量范圍和測量精度上,已不能適應(yīng)現(xiàn)代科技發(fā)展的要求。而隨著大規(guī)模及超大規(guī)模集成電路技術(shù)的發(fā)展,數(shù)字測量系統(tǒng)得到普遍應(yīng)用,利用單片機對脈沖數(shù)字信號的強大處理能力,應(yīng)用全數(shù)字化的結(jié)構(gòu),使數(shù)字測量系統(tǒng)的越來越普及,在測量范圍和測量精度方面都有極大的提高。在本轉(zhuǎn)速測量系統(tǒng)由霍爾傳感器、單片機和顯示器、鍵盤電路等組成。傳感器部分采用UGN3144霍爾傳感器,負責(zé)將被測量量的轉(zhuǎn)速轉(zhuǎn)化為脈沖信號。 因為采用的是集成霍爾開關(guān)元件,輸出的是數(shù)字信號,可以直接把脈沖信號送入單片機進行處理。單片機采用AT89C51,顯示器采用4個7段LED數(shù)碼管動態(tài)顯示,其系統(tǒng)框圖如22所示。其中整個系統(tǒng)的電源采用雙電源供電,將繼電器驅(qū)動電源與單片機及其周邊電路電源完全隔離,利用光電耦合器傳輸信號。這樣做法雖然不如單電源方便靈活,但可將繼電器工作所造成的干擾完全消除,進一步提高系統(tǒng)穩(wěn)定性。傳感器電路顯示驅(qū)動電路AT89C51單片機時鐘電路鍵盤電路復(fù)位電路圖22 轉(zhuǎn)速測量系統(tǒng)的總體框圖 軟件設(shè)計思路軟件需要解決的是定時器0的記數(shù)和外部中斷0的設(shè)定、由于測量的轉(zhuǎn)速范圍大,所以低速和高速都要考慮在內(nèi),關(guān)鍵在于一個四字節(jié)除三字節(jié)程序的實現(xiàn)。顯示部分、需要有一個二進制到十進制的轉(zhuǎn)化程序,以及轉(zhuǎn)換成非壓縮BCD 的程序后、才能進行調(diào)用查表程序送到顯示。軟件工作流程:霍爾傳感器利用磁電效應(yīng)產(chǎn)生一周期脈沖向單片機的外部中斷0()口發(fā)送一個中斷信號,定時器工作在內(nèi)部定時,TH0、TL0設(shè)定初值為0,作為除數(shù)的低兩字節(jié),利用軟件記數(shù)器、定時器0中斷的次數(shù)作為除數(shù)高字節(jié)。中斷完畢讀取內(nèi)部記數(shù)值作為除數(shù),調(diào)用除法程序計算轉(zhuǎn)速,再對二進制數(shù)進行一系列變換后調(diào)用查表顯示程序,顯示在LED上。轉(zhuǎn)速部分軟件設(shè)計思路: 。主要編寫一個外部中斷服務(wù)程序INT0,讀取記數(shù)值的三個字節(jié),并再次清0記數(shù)初值以便下次的記數(shù)和計算。調(diào)用兩字節(jié)二進制三字節(jié)十進制(BCD)轉(zhuǎn)換子程序BCD,再調(diào)用十進制轉(zhuǎn)換成非壓縮BCD程序、最后調(diào)用查表程序送顯示。軟件的具體設(shè)計我們將在下面的章節(jié)中作詳細介紹。第3章 轉(zhuǎn)速測量系統(tǒng)硬件設(shè)計 轉(zhuǎn)速測量原理 測頻法“M法”在一定測量時間T內(nèi),測量脈沖發(fā)生器(替代輸入脈沖)產(chǎn)生的脈沖數(shù)m1來測量轉(zhuǎn)速,如圖31“M”法測量轉(zhuǎn)速脈沖所示,設(shè)在時間T內(nèi),轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)過的弧度數(shù)為Xτ,則轉(zhuǎn)速n可由下式表示: n= (31)轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)過的弧度數(shù)Xτ可用下式所示m1 X (32)圖31 “M”法測量轉(zhuǎn)速脈沖將(32)式代入(31)式得轉(zhuǎn)速n的表達式為: n= (33) P為轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)一周脈沖發(fā)生器產(chǎn)生的脈沖數(shù);n轉(zhuǎn)速單位:(轉(zhuǎn)/分);T定時時間單位:(秒)。在該方法中,測量精度是由于定時時間T和脈沖不能保證嚴格同步,以及在T內(nèi)能否正好測量外部脈沖的完整的周期,可能產(chǎn)生的1個脈沖的量化誤差。因此,為了提高測量精度,T要有足夠長的時間。定時時間可根據(jù)測量對象情況預(yù)先設(shè)置。設(shè)置的時間過長,可以提高精度,但在轉(zhuǎn)速較快的情況下,所計的脈沖數(shù)增大(碼盤孔數(shù)已定情況下),限制了轉(zhuǎn)速測量的量程。而設(shè)置的時間過短,測量精度會受到一定的影響。 測周期法“T法”轉(zhuǎn)速可以用兩脈沖產(chǎn)生的間隔寬度TP來決定。用以采集數(shù)據(jù)的碼盤,可以是單孔或多孔,對于單孔碼盤測量兩次脈沖間的時間,就可測出轉(zhuǎn)述數(shù)據(jù),TP也可以用時鐘脈沖數(shù)來表示。對于多孔碼盤,其測量的時間只是每轉(zhuǎn)的1/N,N為碼盤孔數(shù)。如圖32“T”法脈寬測量所示。TP通過定時器測得。定時器對時基脈沖(頻率為fc)進行計數(shù)定時,在TP內(nèi)計數(shù)值若為m2,則計算公式為: n= (34)即: (35)fc為硬件產(chǎn)生的基準時鐘脈沖頻率:單位(Hz);n轉(zhuǎn)速單位:(轉(zhuǎn)/分);m2時基脈沖。 圖32 “T”法脈寬測量由 “T”法脈寬測量可知“T”法測量精度的誤差主要有兩個方面,一是兩脈沖的上升沿觸發(fā)時間不一致而產(chǎn)生的;二是計數(shù)和定時起始和關(guān)閉不一致而產(chǎn)生的。因此要求脈沖的上升沿(或下降沿)陡峭和計數(shù)和定時嚴格同步。測周法在低轉(zhuǎn)速時精度較高,但隨著轉(zhuǎn)速的增加,精度變差,有小于一個脈沖的誤差存在。 測頻測周法“M/T法”所謂測頻測周法,即是綜合了“T”法和“M”法分別對高、低轉(zhuǎn)速具有的不同精度,利用各自的優(yōu)點而產(chǎn)生的方法,精度位于兩者之間,如圖33“M/T”法定時/計數(shù)測量所示?!癕/T”法采用三個定時/計數(shù)器,同時對輸入脈沖、高頻脈沖(由振蕩器產(chǎn)生)、及預(yù)設(shè)的定時時間進行定時和計數(shù),m1反映轉(zhuǎn)角,m2反映測速的準確時間,通過計算可得轉(zhuǎn)速值n。該法在高速及低速時都具有相對較高的精度。測速時間Td由脈沖發(fā)生器脈沖來同步,即Td等于m1個脈沖周期。由圖可見,從a點開始,計數(shù)器對m1和m2計數(shù),到達b點,預(yù)定的測速時間時,單片機發(fā)出停止計數(shù)的指令,因為Tc不一定正好等于整數(shù)個脈沖發(fā)生器脈沖周期,所以,計數(shù)器仍對高頻脈沖繼續(xù)計數(shù),到達c點時,脈沖發(fā)生器脈沖的上升沿使計數(shù)器停止,這樣,m2就代表了m1個脈沖周期的時間?!癕/T”法綜合了“T”和“M”兩種方法,轉(zhuǎn)速計算如下:設(shè)高頻脈沖的頻率為fc,脈沖發(fā)生器每轉(zhuǎn)發(fā)出P個脈沖,由式(32)和(35)可得M/T法轉(zhuǎn)速計算公式為: (36)n轉(zhuǎn)速值。單位:(轉(zhuǎn)/分);fc晶體震蕩頻率:單位(Hz);m1輸入脈沖數(shù),反映轉(zhuǎn)角;m2時基脈沖數(shù)。圖33 “M/T”法定時/計數(shù)測量 轉(zhuǎn)速測量系統(tǒng)中應(yīng)用的方法通過上面的分析可知,M法適合于高速測量,當(dāng)轉(zhuǎn)速越低,產(chǎn)生的誤差會越大。T法適合于低速測量,轉(zhuǎn)速增高,誤差增大。M/T這種轉(zhuǎn)速測量方法的相對誤差與轉(zhuǎn)速n無關(guān),只與晶體振蕩產(chǎn)生的脈沖有關(guān),故可適合各種轉(zhuǎn)速下的測量。保證其測量精度的途徑是增大定時時間T,或提高時基脈沖的頻率fc。因此,在實際操作時往往采用一種稱變M/T的測量方法,即所謂變M/T法,在M/T法的基礎(chǔ)上,讓測量時間Tc始終等于轉(zhuǎn)速輸入脈沖信號的周期之和。并根據(jù)第一次的所測轉(zhuǎn)速及時調(diào)整預(yù)測時間Tc,兼顧高低轉(zhuǎn)速時的測量精度。基于M法測量速度,電路和程序均較為簡單,且可以在一定的條件下滿足精度的要求,所以本設(shè)計中采用M法進行測量。 霍爾傳感器的簡介 霍爾效應(yīng)1. 簡介霍爾效應(yīng)是磁電效應(yīng)的一種,這一現(xiàn)象是霍爾(,18551938)于1879年在研究金屬的導(dǎo)電機構(gòu)時發(fā)現(xiàn)的。后來發(fā)現(xiàn)半導(dǎo)體、導(dǎo)電流體等也有這種效應(yīng),而半導(dǎo)體的霍爾效應(yīng)比金屬強得多,利用這現(xiàn)象制成的各種霍爾元件,廣泛地應(yīng)用于工業(yè)自動化技術(shù)、檢測技術(shù)及信息處理等方面。霍爾效應(yīng)是研究半導(dǎo)體材料性能的基本方法。通過霍爾效應(yīng)實驗測定的霍爾系數(shù),能夠判斷半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電類型、載流子濃度及載流子遷移率等重要參數(shù)。流體中的霍爾效應(yīng)是研究“磁流體發(fā)電”的理論基礎(chǔ)。2. 霍爾效應(yīng)將一塊半導(dǎo)體或?qū)w材料,沿Z方向加以磁場B,沿X方向通以工作電流I, 則在Y方向產(chǎn)生出電動勢VH,如圖34所示,這現(xiàn)象稱為霍爾效應(yīng)。VH稱為霍爾電壓。 (a) (b)圖34 霍爾效應(yīng)原理圖實驗表明,在磁場不太強時,電位差VH與電流強度I和磁感應(yīng)強度B成正比,與板的厚度d成反比,即 (37)或 (38)式(37)中RH稱為霍爾系數(shù),式(38)中KH稱為霍爾元件的靈敏度,單位為mv / (mAT)。產(chǎn)生霍爾效應(yīng)的原因是形成電流的作定向運動的帶電粒子即載流子(N型半導(dǎo)體中的載流子是帶負電荷的電子,P型半導(dǎo)體中的載流子是帶正電荷的空穴)在磁場中所受到的洛侖茲力作用而產(chǎn)生的。如圖34(a)所示,一塊長為l、寬為b、厚為d的N型單晶薄片,置于沿Z軸方向的磁B中,在X軸方向通以電流I,則其中的載流子——電子所受到的洛侖茲力為 (39) 式中為電子的漂移運動速度,其方向沿X軸的負方向。e為電子的電荷量。指向Y軸的負方向。自由電子受力偏轉(zhuǎn)的結(jié)果,向A側(cè)面積聚,同時在B側(cè)面上出現(xiàn)同數(shù)量的正電荷,在兩側(cè)面間形成一個沿Y軸負方向上的橫向電場(即霍爾電場),使運動電子受到一個沿Y軸正方向的電場力,A、B面之間的電位差為(即霍爾電壓),則 (310)將阻礙電荷的積聚,最后達穩(wěn)定狀態(tài)時有即 得 (311)此時B端電位高于A端電位。若N型單晶中的電子濃度為n,則流過樣片橫截面的電流 I=nebdV得 (312)將()式代入()式得 (313)式中稱為霍爾系數(shù),它表示材料產(chǎn)生霍爾效應(yīng)的本領(lǐng)大?。环Q為霍爾元件的靈敏度,一般地說,KH愈大愈好,以便獲得較大的霍爾電壓VH。因KH和載流子濃度n成反比,而半導(dǎo)體的載流子濃度遠比金屬的載流子濃度小,所以采用半導(dǎo)體材料作霍爾元件靈敏度較高。又因KH和樣品厚度d成反比,所以霍爾片都切得很薄,一般d≈。上面討論的是N型半導(dǎo)體樣品產(chǎn)生的霍爾效應(yīng),B側(cè)面電位比A側(cè)面高;對于P型半導(dǎo)體樣品,由于形成電流的載流子是帶正電荷的空穴,與N型半導(dǎo)體的情況相反,A側(cè)面積累正電荷,B側(cè)面積累負電荷,如圖34(b)所示,此時,A側(cè)面電位比B側(cè)面高。由此可知,根據(jù)A、B兩端電位的高低,就可以判斷半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電類型是P型還是N型。由(313)式可知,如果霍爾元件的靈敏度RH已知,測得了控制電流I和產(chǎn)生的霍爾電壓VH,則可測定霍爾元件所在處的磁感應(yīng)強度為:高斯計就是利用霍爾效應(yīng)來測定磁感應(yīng)強度B值的儀器。它是選定霍爾元件,即KH已確定,保持控制電流I不變,則霍爾電壓VH與被測磁感應(yīng)強度B成正比。如按照霍爾電壓的大小,預(yù)先在儀器面板上標定出高斯刻度,則使用時
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