《afm簡(jiǎn)介實(shí)驗(yàn)》ppt課件-文庫(kù)吧
2025-04-20 07:54 本頁(yè)面
【正文】 本 原理 儀器構(gòu)成 工作模式 1982年， Gerd Binnig和 Heinrich Rohrer發(fā)明掃描隧道顯微鏡（ STM )，獲得 1986年的諾貝爾物理學(xué)獎(jiǎng) 。 賓尼 羅雷爾 基本原理 在 S T M基礎(chǔ)上發(fā)展而來(lái) ——S T M原理 基本原理 在 S T M基礎(chǔ)上發(fā)展而來(lái) ? 電子隧道效應(yīng) 隧道電流隨探針樣品間距離減小而呈指數(shù)增加． d1nm ——S T M原理 樣品導(dǎo)電性要好 1986， IBM， 葛 賓尼（ G. Binnig） 發(fā)明了原子力顯微鏡 (Atomic Force Microscope ,AFM)—— 新一代表面觀測(cè)儀器． 原理： 利用原子之間的范德華力（ Van Der Waals Force） 作用來(lái)呈現(xiàn)樣品的表面特性 基本原理 基本原理 原子間的作用力 吸引部分 排斥部分 F pair d 原子 原子 排斥力 原子 原子 吸引力 sample scanner cantilever photo detector laser diode 微懸臂 激光二極管 光電檢測(cè)器 基本原理 AFM信號(hào)反饋 模式 基本原理 力檢測(cè)部分 光學(xué)檢測(cè)部分 反饋電子系統(tǒng) 壓電掃描系統(tǒng) 計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng) 儀器構(gòu)成 ? 接觸模 式 (contact mode) ? 非 接觸模 式 (noncontact mode) ? 輕敲模 式 (tapping / intermittent contact mode) van der Waals force curve 工作模式 針尖始終向樣品接觸并簡(jiǎn)單地在表
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