【正文】 9 operator 2 part * operator 18 * *Repeatability 30 Total 59 Gage Ramp。R %ContributionSource VarComp (of VarComp)Total Gage Ramp。R Repeatability Reproducibility operator operator*part PartToPart Total Variation Study Var %Study VarSource StdDev (SD) (6 * SD) (%SV)Total Gage Ramp。R Repeatability Reproducibility operator operator*part PartToPart Total Variation Number of Distinct Categories = 36測(cè)量系統(tǒng)分辨率滿足要求測(cè)量系統(tǒng)重復(fù)性、再現(xiàn)性滿足要求產(chǎn)品間無交互作用人員間檢量一致性良好11AM I CDGage Ramp。R （萬用表復(fù)檢電壓測(cè)試）（萬用表復(fù)檢電壓測(cè)試）Gage Ramp。R Study ANOVA MethodGage name: 萬用表復(fù)檢電壓 MSADate of study: 2022518Reported by: 付曉紅Tolerance: 177。（ 1%RD+5d）Misc: 無 TwoWay ANOVA Table With Interaction Source DF SS MS F Ppart 9 operator 2 part * operator 18 * *Repeatability 30 Total 59 Gage Ramp。R %ContributionSource VarComp (of VarComp)Total Gage Ramp。R Repeatability Reproducibility operator operator*part PartToPart Total Variation Study Var %Study VarSource StdDev (SD) (6 * SD) (%SV)Total Gage Ramp。R Repeatability Reproducibility operator operator*part PartToPart Total Variation Number of Distinct Categories = 36測(cè)量系統(tǒng)分辨率滿足要求測(cè)量系統(tǒng)重復(fù)性、再現(xiàn)性滿足要求產(chǎn)品間無交互作用人員間檢量一致性良好12AM I CD數(shù)據(jù)展示數(shù)據(jù)展示 /流程能力流程能力目前低電壓不良率 （ %）常 規(guī) 疊片 電 池 最高 %最低 0均值 %13AM I CD測(cè)量階段總結(jié)測(cè)量階段總結(jié) FMEA聚焦?jié)撛趩栴}潛在影響工序名稱 聚焦?jié)撛趩栴} 編號(hào) 聚焦可能影響因子極片沖切 極片周邊粉塵 1 沖切方式不當(dāng)極片毛刺過大疊片 疊片短路 2 不同供應(yīng)商所供隔膜質(zhì)量不同3 極片粉塵多4 極片毛刺大短路測(cè)試 誤判 5 短路測(cè)試儀選用不是最佳6 短路測(cè)試方法不合理續(xù)充化成 化成不充分 7 化成補(bǔ)電截止電壓、截止電流不合理聚焦?jié)撛趩栴}說明：沖切方式不當(dāng)項(xiàng)已由公司安排相關(guān)部門牽頭解決 (如從采用滾壓分切、落料模沖切、刀模與底板的配合等方面進(jìn)行研究 )，本項(xiàng)目中對(duì)此項(xiàng)可能影響因子只作跟蹤不作重點(diǎn)研究。14AM I CD數(shù)據(jù)門分析數(shù)據(jù)門分析 (分析型號(hào)、隔膜與低電壓的影響關(guān)系）分析型號(hào)、隔膜與低電壓的影響關(guān)系）總結(jié)：1）本分層數(shù)據(jù)取自 4～ 5月復(fù)檢工序所有常規(guī)疊片電池低壓不良比率狀況，共 33種型號(hào) 141批；2）從上述結(jié)果來看，除 PL355585/465585/385068等個(gè)別型號(hào)低壓不良比率相對(duì)較高外（經(jīng)調(diào)查此幾種型號(hào)所用隔膜為 “Celgard”隔膜）其余大多數(shù)型號(hào)其低壓狀況基本無大的區(qū)別；3）由此可初步得出低壓與電池的型號(hào)關(guān)系不十分大 ,與所使用的隔膜存在一定的關(guān)系，目前已停止使用 Celgard隔膜經(jīng)調(diào)查此幾批電池采用的是 Celgard隔膜15Gage Ramp。R(萬用表手壓短路測(cè)試萬用表手壓短路測(cè)試 )Results for: 萬用表 加手壓 測(cè) 試疊片短路Date of study: Reported by: 付曉紅Within Appraisers Assessment AgreementAppraiser Inspected Matched Percent 95 % CI 1 20 20 (, ) 2 20 19 (, ) 3 20 20 (, ) Matched: Appraiser agrees with him/herself across trials.Fleiss39。 Kappa StatisticsAppraiser Response Kappa SE Kappa Z P(vs 0)1 fail pass 2 fail pass 3 fail pass Between Appraisers Assessment Agreement Inspected Matched Percent 95 % CI 20 19 (, ) Matched: All appraisers39。 assessments agree with each other.Fleiss39。 Kappa StatisticsResponse Kappa SE Kappa Z P(vs 0)fail pass Kappa值 ≧ ，測(cè)量系統(tǒng)合符要求組內(nèi)測(cè)試者的重復(fù)性存在一定差異從測(cè)量系統(tǒng)分析結(jié)果來看，此系統(tǒng)符合要求，但組內(nèi)測(cè)試者的重復(fù)性還存在一定差異，經(jīng)分析為操作員測(cè)試時(shí)壓電芯力度存在差異引起，同時(shí)長(zhǎng)時(shí)間采用手壓作業(yè)易產(chǎn)生疲勞，就是單個(gè)操作員所使的壓力也難于得到保證，鑒于此工序的重要性，還需考慮對(duì)此系統(tǒng)進(jìn)行改進(jìn)。AM I CD16Gage Ramp。R(萬用表機(jī)壓短路測(cè)試萬用表機(jī)壓短路測(cè)試 )Results for: 萬用表 加機(jī)壓 測(cè) 試疊片短路Date of st